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ST-SP 2001 晶體管特性測試儀

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|公司簡介:

西安天光測控技術有限公司 是一家從事 半導體功率器件測試設備 研發(fā)、生產、銷售的高科技技術企業(yè)

經營產品包括:晶體管圖示儀;

                     半導體分立器件測試篩選系統(tǒng);

                     Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / MOSFETs / DIODEs / BJTs / SCRs的電參數及可靠性和老化測試;

                     靜態(tài)測試(包括 IGEs / VGE(th) / VCEsat / VF / ICEs / VCEs 等);

                     動態(tài)測試(包括 Turn_ON&OFF_L / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等);

                     環(huán)境老化測試(包括 HTRB / HTGB / H3TRB / Surge 等);

                     熱特性測試(包括 PC / TC / Rth / Zth / Kcurve 等)各類全系列測試設備。

       一直以來被廣泛應用于半導體器件上游產業(yè)(設計、制造、封裝、IDM廠商、晶圓、DBC襯板)和下游產業(yè)(院所高校、電子廠、軌道機車、新能源汽車、白色家電等元器件的應用端產業(yè)鏈)。

公司團隊匯集了來自國內*院校及電力電子行業(yè)的專家教授,擁有眾多的革命性創(chuàng)新技術。產品成熟可靠,久經市場考驗,在替代進口產品方面有著突出的優(yōu)勢。公司從產品到服務,從技術咨詢到現場支持,可覆蓋功率器件的初始研發(fā)到規(guī)?;a的整個領域。

  展望未來,公司將全力發(fā)揮自身技術優(yōu)勢,為客戶提供更優(yōu)質的專家級技術支持以及更多的經典產品。

 

 

半導體分立器件測試篩選系統(tǒng)|IGBT靜態(tài)參數測試儀|IGBT動態(tài)參數測試儀| 功率循環(huán)試驗臺|高溫反偏差測試系統(tǒng)

產地類別 國產 應用領域 電子/電池

產品目錄

? 晶體管圖示儀(曲線追蹤儀)

? 半導體分立器件測試篩選系統(tǒng)。

? 靜態(tài)測試設備:包括導通、關斷、擊穿、漏電、增益等直流參數

? 動態(tài)測試設備:包括 Tr, Trr , Qg , Rg , FRD , UIS , SC , Ci , RBSOA 等

? 環(huán)境老化測試:包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等

? 熱特性測試:包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等

? 測試范圍:Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOSFET , DIODE , BJT , SCR等分立器件及功率器件。



ST-SP2001
晶體管特性測試儀


可測試 19大類27分類 的大中小功率分立器件及模塊的 靜態(tài)直流參數

(測試范圍包括Si/SiC/GaN材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件)

主極2000V / 50~1250A,分辨率高至1mV / 10pA



支持曲線掃描圖示功能



應用領域

*院所、高校、半導體器件生產廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數控、電焊機、白色家電、新能源汽車、軌道機車等所有的半導體器件應用產業(yè)鏈 ……


主要用途
? 測試分析(功率器件研發(fā)設計階段的初始測試)
? 失效分析(對失效器件進行測試,查找失效機理。以便于對電子整機的整體設計和使用過程提出改善方案 )
? 選型配對(在器件焊接至電路板之前進行全部測試,將測試數據比較*的器件進行分類配對)
? 來料檢驗(研究所及電子廠的質量部(IQC)對入廠器件進行抽檢/全檢,把控器件的良品率)
? 產線自動化測試(可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設備,實現規(guī)模化、自動化測試)


?
晶體管特性測試儀產品簡述
     產品擴展性強,通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條點擊即可完成測試任務。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應結構的測試插座,自動補償由于系統(tǒng)內部及測試電纜長度引起的任何壓降,保證測試結果準確可靠。面板顯示裝置可及時顯示系統(tǒng)的各種工作狀態(tài)和測試結果,前面板的功能按鍵方便了

系統(tǒng)操作。通過功能按鍵,系統(tǒng)可以脫離主控計算機獨立完成多種工作。


曲線追蹤儀(晶體管圖示儀)功能則是利用高速ATE測試步驟逐點生成曲線,可快速而準確地生成

清晰的數據點。數據增量是可編程的線性或對數,典型的每步測試時間為6到20ms。一個兩百條數據點曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFET

RDSvs. VGS 等曲線數據。此外, 針對多條曲線,設備可以根據每條曲線的數據運行并將所獲數據自動發(fā)送到一個單獨的 Excel 工作表。系統(tǒng)能夠更快,更簡潔的創(chuàng)建曲線(單擊,雙擊,選擇輸入菜單,單擊)。就是這么簡單。設備支持在單個 DUT 上運行高達 10 條不同曲線的能力,在運行過程中,每個圖表都是可視的,每個數據集都被加載到一個被命名的 Excel 工作表中。系統(tǒng)運行速度快,可進行數據記錄,提供更高級的數據工具箱,能夠運行多條曲線并自動排序,自動將數據存入 Excel 表格,具有縮放功能,光標重新運行功能以及其他許多優(yōu)點。


系統(tǒng)提供與機械手、探針臺、電腦的連接口,可以支持各種不同輔助設備的相互連接使用。











?可供選擇的曲線




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