目錄:優(yōu)尼康科技有限公司>>薄膜厚度測(cè)量>>Filmetrics膜厚測(cè)量?jī)x>> F54-XY-200Filmetrics 自動(dòng)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x
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更新時(shí)間：2025-06-24 14:02:29瀏覽次數(shù)：1599評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,航空航天,汽車(chē)及零部件 |
Filmetrics F54-XY-200 自動(dòng)光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x借助光譜反射系統(tǒng)，可以測(cè)量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的測(cè)量點(diǎn)并提供厚度測(cè)量，達(dá)到每秒兩點(diǎn)。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性，矩形或線(xiàn)性測(cè)量坐標(biāo)圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的測(cè)量點(diǎn)數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置，任何具有基本計(jì)算機(jī)技能的人都可以使用。
自動(dòng)化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)，快速定位、實(shí)時(shí)獲得結(jié)果；
可測(cè)樣品膜層：基本上所有光滑的。非金屬的薄膜都可以測(cè)量；
測(cè)繪結(jié)果可用2D或3D呈現(xiàn)，方便用戶(hù)從不同的角度檢視；
當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時(shí)將會(huì)有部分的光被反射，由于光的波動(dòng)性導(dǎo)致從多個(gè)界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長(zhǎng)光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進(jìn)而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時(shí)也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。
半導(dǎo)體膜層 | 顯示技術(shù) | 消費(fèi)電子 | 派瑞林 |
光刻膠 | OLED | 防水涂層 | 電子產(chǎn)品/電路板 |
介電層 | ITO和TCOs | 射頻識(shí)別 | 磁性材料 |
砷化鎵 | 空氣盒厚 | 太陽(yáng)能電池 | 醫(yī)學(xué)器械 |
微機(jī)電系統(tǒng) | PVD和CVD | 鋁制外殼陽(yáng)極膜 | 硅橡膠 |
波長(zhǎng)范圍： | 190nm-1700nm | 光源： | 鎢鹵素?zé)?、氘?/span> |
測(cè)量nk值厚度要求*： | 50nm | 測(cè)量精度2： | 0.02nm |
準(zhǔn)確度*：取較大者 | 1nm或0.2% | 穩(wěn)定性3： | 0.05nm |
更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取 | |||
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