Filmetrics 光學(xué)厚膜測厚儀 參考價：面議
Filmetrics F3-sX 光學(xué)厚膜測厚儀利用光譜反射原理，可以測量厚度達(dá)到3毫米的眾多半導(dǎo)體及介電層薄膜。相對于較薄的膜層，這種厚膜的表面較粗糙且不均勻...
HORIBA 研究級橢圓偏振光譜儀 參考價：面議
HORIBA UVISEL Plus 相位調(diào)制型橢圓偏振光譜儀基于新版的電子設(shè)備，數(shù)據(jù)處理和高速單色儀，F(xiàn)astacq技術(shù)能夠為用戶提供高分辨及快速的數(shù)據(jù)采集。...
HORIBA 橢圓偏振光譜儀 參考價：面議
HORIBA Smart SE 橢圓偏振光譜儀是一種薄膜測量工具。僅需簡單的幾個按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報告，包括薄膜...
HORIBA 橢圓偏振光譜儀 參考價：面議
HORIBA Auto SE 橢圓偏振光譜儀是一種新型薄膜測量工具。僅需簡單的幾個按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報告，包括薄...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀 參考價：面議
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀的光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀自動化MAPPING 參考價：面議
Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統(tǒng)，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動平臺，...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀 參考價：1
Filmetrics F54 白光干涉膜厚測量儀能以一個電動R-Theta平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達(dá)450...
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀 參考價：面議
Filmetrics F32 光反射式膜厚儀特殊的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3u rack- mount底盤，加上附加的分光計，可達(dá)到四個不同的位置(EXR和UVX...
Filmetrics 自動測量光學(xué)膜厚儀 參考價：面議
Filmetrics F54-XYT-300 自動測量光學(xué)膜厚儀借助F54-XYT-300的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度...
Filmetrics 自動光學(xué)膜厚測量儀 參考價：面議
Filmetrics F54-XY-200 自動光學(xué)膜厚測量儀借助光譜反射系統(tǒng)，可以測量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的...
Filmetrics F20 白光干涉測厚儀儀 參考價：面議
Filmetrics F20 白光干涉膜厚測量儀是一款高精度、多功能的測量設(shè)備，能夠快速測定薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、反射率和透過率等特性。其非接觸式測量方式適合各種...
KLA 四探針電阻率測量儀 參考價：面議
KLA R54 四探針電阻率測量儀是KLA的電阻率測量產(chǎn)品。從半導(dǎo)體制造到實現(xiàn)可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品，薄膜電阻監(jiān)控對于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都相當(dāng)重要。K...
KLA 四探針電阻率測量儀 參考價：面議
KLA R50 四探針電阻率測繪系統(tǒng)是KLA電阻測試系列的產(chǎn)品。電阻測量和監(jiān)控對于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都相當(dāng)重要，從半導(dǎo)體制造到可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品。...
KLA 納米壓痕儀 參考價：59
KLA iNano 納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機(jī)械測試。該儀...
KLA 納米壓痕儀 參考價：59
KLA iMicro 納米壓痕儀可輕松測量硬涂層，薄膜和少量材料。該儀器準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納米級機(jī)械測試。...
Bowman XRF高精度鍍層測厚儀 參考價：面議
Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統(tǒng)是博曼的基礎(chǔ)機(jī)型和常規(guī)機(jī)型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實現(xiàn)手動操作。測量時將樣品放入樣品倉，通...
Bowman XRF高精度鍍層測量儀 參考價：面議
Bowman博曼 K系列 XRF高精度涂層測量系統(tǒng)，具備12英寸×12英寸的測量區(qū)域，適用于多種樣品檢測。
HORIBA 激光粒徑分布分析儀 參考價：面議
HORIBA LA-960V2激光粒徑分布分析儀秉承HORIBA 一貫的設(shè)計傳統(tǒng)，其直觀的軟件、附件和高效的性能，能解決廣泛的應(yīng)用問題。
HORIBA 離心式納米粒度分析 參考價：面議
HORIBA CN-300離心式納米粒度分析儀能實現(xiàn)對未稀釋和稀釋樣品粒徑分布的高精度測量。顆粒的粒度是按粒徑大小分類后測量的，這是離心分離法的關(guān)鍵特點。因此，...
HORIBA 納米顆粒分析儀 參考價：面議
一臺簡潔小巧的裝置能同時實現(xiàn)對納米粒子三項參數(shù)的表征：粒徑、Zeta電位和分子量。納米技術(shù)的研發(fā)是一個持續(xù)不斷的過程，在分子和原子水平上控制物質(zhì)以獲得新、好、優(yōu)...
TABLE STABLE主動式隔震系統(tǒng) 防震臺 參考價：面議
TABLE STABLE主動式隔震系統(tǒng) 防震臺 主動式減震方案，應(yīng)用超乎你想象 更多TABLE STABLE 主動式隔震系統(tǒng)AVI-400可參照詳情
HERZ TS系列 主動式隔震系統(tǒng) 防振臺 參考價：面議
HERZ TS系列 主動式隔震系統(tǒng) 防振臺，主動式隔震系統(tǒng)創(chuàng)建一個穩(wěn)定的測量環(huán)境。如需了解更多，咨詢。。。
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀測厚儀 參考價：面議
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀測厚儀嵌入式在線診斷免費離線分析軟件精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能，幫助用戶有效的存儲，重現(xiàn)與繪制測量結(jié)果
主動式防震系統(tǒng) 參考價：面議
主動式防震系統(tǒng)主動式防振系統(tǒng)（ AVI）能夠為科研、工程和生產(chǎn)過程所需要的精密儀器提供一個穩(wěn)定的測量環(huán)境。。。。(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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