EXFO WA-1150 光波長(zhǎng)計(jì)

詳情介紹

WA-1150波長(zhǎng)計(jì)光波長(zhǎng)計(jì)提供高精度的波長(zhǎng)測(cè)量，同步功率測(cè)量，專(zhuān)為在制造環(huán)境中表征WDM組件而設(shè)計(jì)。

EXFO WA-1150 光波長(zhǎng)計(jì)

這些系統(tǒng)采用Burleigh經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的掃描邁克爾遜干涉儀波長(zhǎng)計(jì)技術(shù)，通過(guò)比較其干涉條紋圖案與內(nèi)置HeNe激光波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)的干涉條紋圖案來(lái)確定測(cè)試激光的波長(zhǎng)。與其他波長(zhǎng)計(jì)不同，所有可能影響波長(zhǎng)測(cè)量的因素都考慮在內(nèi)，以便使用WA-1150實(shí)現(xiàn)±1 ppm的高波長(zhǎng)精度。

為了提供更完整的WDM組件分析，這些Wavemeter同時(shí)測(cè)量光輸入信號(hào)的總功率。此外，漂移功能可根據(jù)時(shí)間自動(dòng)監(jiān)控波長(zhǎng)或功率的任何變化。顯示當(dāng)前值及其與測(cè)量起始點(diǎn)的偏差，以提供測(cè)試激光的實(shí)時(shí)狀態(tài)。還報(bào)告了大值和小值，以給出測(cè)量期間達(dá)到的極限。

在這些系統(tǒng)中已經(jīng)結(jié)合了幾種針對(duì)WDM組件制造商需求的設(shè)計(jì)考慮因素。通過(guò)內(nèi)置的HeNe激光波長(zhǎng)標(biāo)準(zhǔn)，系統(tǒng)的精度可以長(zhǎng)時(shí)間保持，無(wú)需校準(zhǔn)。測(cè)量周期時(shí)間短至0.1秒，提高了波長(zhǎng)表征的效率。堅(jiān)固耐用的臺(tái)式或機(jī)架式封裝可大限度地減少典型制造環(huán)境中的任何不利影響。