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高低溫測試旨在評估產(chǎn)品在ji端溫度條件（包括高溫和低溫）下儲存、運輸及使用的適應(yīng)性和可靠性。該測試的嚴(yán)苛程度由所設(shè)定的高溫或低溫的具體溫度值以及產(chǎn)品暴露在這些ji端溫度下的持續(xù)時間所決定。由于大多數(shù)產(chǎn)品都需要在特定的溫度范圍內(nèi)進行存儲或工作運行，因此，這種測試顯得尤為重要。特別是在那些溫度波動較大，時而高溫時而低溫的環(huán)境中，產(chǎn)品的適應(yīng)性和穩(wěn)定性更是需要通過高低溫測試來驗證。
高低溫循環(huán)測試
一般來講的話都是天的倍數(shù)，常見的就是72H，96H。要求不一樣,時間不一樣，有更少或是更高的。
高低溫環(huán)境測試標(biāo)準(zhǔn)
GB_T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GBT 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫
IEC 60068-2-2 基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2-2部分:試驗 試驗B:干熱
IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗：低溫
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