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日本Otsuka大塚Smart膜厚儀光學分析專家
| 參考價: | 面議 |
具體成交價以合同協(xié)議為準- 產(chǎn)品型號
- OTSUKA/日本大塚 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 成都市 所在地
訪問次數(shù)：167更新時間：2025-02-21 10:11:34
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 綜合 |
側(cè)重便攜性與快速篩查，適用于常規(guī)單層膜厚測量，但精度與功能擴展性不及OPTM系列。
OPTM適用于研發(fā)（R&D）與高精度QC，如半導體晶圓、光學濾光片；Smart膜厚儀更適合產(chǎn)線快速抽檢
產(chǎn)品介紹
日本Otsuka大塚Smart膜厚儀光學分析專家-成都藤田科技提供
Smart膜厚儀 vs OPTM顯微分光膜厚儀——革新光學測量的雙引擎
核心對比與OPTM優(yōu)勢：
技術(shù)差異化：
OPTM系列：基于分光干涉法，結(jié)合顯微光學系統(tǒng)，實現(xiàn)反射率分析，支持超薄膜（1nm）與復雜多層結(jié)構(gòu)，技術(shù)解決透明基板干擾。
Smart膜厚儀：側(cè)重便攜性與快速篩查，適用于常規(guī)單層膜厚測量，但精度與功能擴展性不及OPTM系列。
應用場景：
OPTM適用于研發(fā)（R&D）與高精度QC，如半導體晶圓、光學濾光片；Smart膜厚儀更適合產(chǎn)線快速抽檢。
性價比優(yōu)勢：OPTM以中型設備成本提供媲美橢偏儀的精度，且操作門檻更低，軟件內(nèi)置NIST校準追溯，確保數(shù)據(jù)可靠性。
產(chǎn)品信息
特點
● 可攜帶至現(xiàn)場的手持式
● 可測量0.1μm單位
● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量
● 不論基材材質(zhì)、可測量其鍍膜
測量項目
膜厚測量范圍 | 1μm～50μm |
測量重復性 | 0.01μm |
測量時間 | 1秒以下 |
Smart手持式膜厚儀與其他膜厚儀的比較
與桌上型光學膜厚儀相比，Smart膜厚儀在“現(xiàn)場"以非破壞式直接量測樣品，且可以量測特殊形狀樣品。
與接觸式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品，也不會因為用戶不同而產(chǎn)生誤差且遠高于接觸式膜厚計的量測精度。
與渦電流/電磁式膜厚儀相比，Smart膜厚儀不需要制作檢量線，且可以量測非金屬基材并且得到值！
日本Otsuka大塚Smart膜厚儀光學分析專家-成都藤田科技提供
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