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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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國創(chuàng)科儀 X射線發(fā)射譜儀 SuperXAFS E6000
核心參數(shù)
1.能量范圍:5-18keV
2.能量分辨率:≤2.0eV@(7-9keV)
3.能量重復(fù)性:≤30meV@24h
4.X射線源:配置功率≥100W微焦斑×射線源(2個靶材Pd/W),電壓20-40kV,管電流4mA,核心-空穴生成速率≥1011/s @(7-9keV)
5.面探測器:配備毛細管聚焦鏡,樣品處聚焦光斑≤100um,聚焦鏡可自動進行切換
6.調(diào)節(jié)機構(gòu)精度:能量掃描時最小步長0.1eV
國創(chuàng)科儀 X射線發(fā)射譜儀 SuperXAFS E6000
是一種用于元素定性和定量分析的儀器,主要作用包括:
確定樣品中的元素組成:可檢測從鈉(Na)到鈾(U)的元素,廣泛應(yīng)用于金屬、礦石、土壤、生物樣品等。
測量元素含量:通過分析特征 X 射線的強度,定量計算樣品中各元素的質(zhì)量分數(shù),精度可達 ppm 級(百萬分之一)。
非破壞性檢測:無需破壞樣品,適用于文物、鍍層、薄膜等特殊樣品的分析。
XRF 因其快速、非破壞性和多元素分析能力,廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域:
1. 材料科學(xué)與工業(yè)
金屬成分分析:鋼鐵、鋁合金、電子元器件中的合金元素檢測(如 Cu、Fe、Ni 等)。
鍍層與薄膜檢測:測量涂層厚度(如 PCB 板鍍金層)和成分(如塑料表面金屬鍍層)。
半導(dǎo)體材料:分析硅片中的雜質(zhì)元素(如 Fe、Cu),確保芯片純度。
2. 地質(zhì)與礦產(chǎn)勘探
礦石成分分析:快速檢測礦石中的金屬元素(如 Au、Ag、Cu、Fe)含量,指導(dǎo)采礦和選礦。
巖礦鑒定:通過元素組成區(qū)分巖石類型(如花崗巖、玄武巖),輔助地質(zhì)構(gòu)造研究。
3. 環(huán)境與生態(tài)監(jiān)測
土壤與水質(zhì)污染檢測:分析重金屬(如 Pb、Cd、Hg)含量,評估環(huán)境污染程度。
固廢與危險品分析:鑒別工業(yè)廢料中的有害元素,支持垃圾分類和處理。