三綜合試驗(yàn)箱的執(zhí)行滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法

來(lái)源：上海巨怡環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備有限公司 2023年07月28日 10:49

　　三綜合試驗(yàn)箱適用于電子儀器儀表、材料、電工、車(chē)輛、金屬、電子產(chǎn)品等各種電子元?dú)饧诟邷?、低溫振?dòng)環(huán)境下，檢驗(yàn)其性能和各項(xiàng)指標(biāo)及質(zhì)量管理之用。

　　執(zhí)行滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法：

　　GBT10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度交變)

　　GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

　　GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

　　GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)(IEC60068-2-78:2001)

　　GB/T2423.59-200電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/ABMFh:溫度濕度振動(dòng)三綜合

　　GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱12h+12h循環(huán)(IEC60068-2-30:2005)

　　GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱(IEC60068-2-56)

　　GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)

　　GJB150.3A-2009jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)

　　GJB150.4A-2009jun用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)

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