當(dāng)前位置:阿美特克科學(xué)儀器部-普林斯頓及輸力強(qiáng)電化學(xué)>>技術(shù)文章展示
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當(dāng)前位置:阿美特克科學(xué)儀器部-普林斯頓及輸力強(qiáng)電化學(xué)>>技術(shù)文章展示
2020
04-102020
04-082020
04-072020
04-03電化學(xué)工作站使用時(shí)出現(xiàn)了問題?看看這篇
電化學(xué)測定方法是將化學(xué)物質(zhì)的變化歸結(jié)為電化學(xué)反應(yīng),也就是以體系中的電位、電流或者電量作為體系中發(fā)生化學(xué)反應(yīng)的量度進(jìn)行測定的方法。包括電流-電位曲線的測定;電極化學(xué)反應(yīng)的電位分析,電極化學(xué)反應(yīng)的電量分析;對(duì)被測對(duì)象進(jìn)行微量測定的極譜分析;交流阻抗測試等。在幾乎所有的應(yīng)用中,電化學(xué)工作站測量的都是流經(jīng)工作電極和對(duì)電極之間的電流。電化學(xué)工作站中的控制變量是電位,測量變量是電流。而電化學(xué)工作站是電化學(xué)測試不可少的重要工具,經(jīng)常使用電化學(xué)工作站的實(shí)驗(yàn)人員難免會(huì)遇到一些問題,那么下面我們就來看看在使用的過程2020
04-012020
03-30關(guān)于電化學(xué)工作站的測試方法,你知道哪些?
電化學(xué)工作站是電化學(xué)測試的一大重要部分。作為一個(gè)測量電化學(xué)儀器,電化學(xué)工作站使用非常廣,我們有必要去了解一下其使用原理和測試方法。電化學(xué)工作站原理在了解其應(yīng)用的方法之前,我們需要知道電化學(xué)工作的工作原理是什么。電化學(xué)工作站全稱為電化學(xué)測量系統(tǒng),是用于測量電化學(xué)池內(nèi)電位等電化學(xué)參數(shù)的變化并對(duì)其實(shí)現(xiàn)控制的一種儀器。其內(nèi)部具有數(shù)字信號(hào)發(fā)生器、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、多級(jí)信號(hào)增益、電位電流信號(hào)濾波器、IR降補(bǔ)償電路、恒電流儀、恒電位儀,可完成不同情況下對(duì)某些電化學(xué)參數(shù)的測控。高精度電化學(xué)工作站具有工作電極、輔助電2020
03-302020
03-25電化學(xué)的微觀世界: 電化學(xué)顯微鏡(SECM)
說到微觀,人們的多數(shù)印象都是生物微觀世界,其實(shí)微觀只是用另一個(gè)角度去觀察世界,電化學(xué)也存在著微觀世界的觀察者:電化學(xué)顯微鏡(SECM)。關(guān)于電化學(xué)顯微鏡掃描電化學(xué)顯微鏡(縮寫SECM)是80年代末由A.J.Bard的小組提出和發(fā)展起來的一種掃描探針顯檄鏡技術(shù)。它是基于70年代末徽電極(UME)及80年代初掃描隧道顯微鏡(STM)發(fā)展而產(chǎn)生出來的一種分辨率介于普通光學(xué)顯微鏡與STM之間的電化學(xué)現(xiàn)場檢測新技術(shù),其核心是電化學(xué)和原位檢測。SECM的工作原理掃描電化學(xué)顯微鏡基于電化學(xué)原理工作,可測量微區(qū)2020
03-232019
09-242019
09-10一文概述微區(qū)電化學(xué)測試系統(tǒng)的基本特點(diǎn)
一文概述微區(qū)電化學(xué)測試系統(tǒng)的基本特點(diǎn)微區(qū)電化學(xué)測試系統(tǒng)是建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的,進(jìn)行高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測試系統(tǒng)。采用模塊化配置,現(xiàn)有(SECM)掃描電化學(xué)顯微鏡、(SVET)掃描振動(dòng)電極測試、(LEIS)微區(qū)電化學(xué)阻抗測試等模塊。隨著探針測試的進(jìn)行,改變探針的空間位置。然后將所記錄的數(shù)據(jù)對(duì)探針位置作圖,針對(duì)不同技術(shù),該圖可以呈現(xiàn)微區(qū)電化學(xué)電流,阻抗或者是表面形貌圖。微區(qū)電化學(xué)測試系統(tǒng)具體先進(jìn)的壓電馬達(dá)和閉環(huán)定位系統(tǒng),能夠提供更長的工作距離(100毫2019
08-27VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站可實(shí)現(xiàn)多個(gè)微區(qū)形貌測試
VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的,進(jìn)行高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測試系統(tǒng)。它是提供給電化學(xué)及材料測試以*空間分辨率的一個(gè)測試平臺(tái)。它是一個(gè)模塊化配置的系統(tǒng),可以實(shí)現(xiàn)如下微區(qū)掃描探針電化學(xué)技術(shù)以及激光非接觸式微區(qū)形貌測試:ScanningElectrochemicalMicroscopy(SECM)掃描電化學(xué)顯微鏡ScanningVibratingElectrodeTechnique(SVET)掃描振動(dòng)電極測試Localiz2019
08-26多通道電化學(xué)工作站的這些知識(shí)值得我們學(xué)習(xí)!
多通道電化學(xué)工作站的這些知識(shí)值得我們學(xué)習(xí)!多通道電化學(xué)工作站集電化學(xué)分析方法于循環(huán)伏安、階梯伏安、脈沖伏安、方波伏安等電化學(xué)分析方法于一身;還可以完成恒電位極化、恒電流極化,電位、電流、電量階躍和塔菲爾圖、交流阻抗等50種電化學(xué)測試功能,*的“恒流限壓快速循環(huán)充放電”功能,支持對(duì)級(jí)電容器進(jìn)行深入研究。除具有50種測試功能外,系統(tǒng)軟件為使用者提供了強(qiáng)大的功能:包括文件管理,全面的實(shí)驗(yàn)控制,靈活的圖形顯示,方便的圖形放大、縮小和還原,位圖圖形和數(shù)據(jù)的導(dǎo)出,多種數(shù)據(jù)處理功能。多通道電化學(xué)工作站的本質(zhì)是2019
08-212019
08-16電化學(xué)工作站的電化學(xué)電解池裝置由哪三電極組成
電化學(xué)工作站(Electrochemicalworkstation)是電化學(xué)測量系統(tǒng)的簡稱,是電化學(xué)研究和教學(xué)常用的測量設(shè)備。電化學(xué)工作站的使用一般配套三電極的電化學(xué)電解池裝置。1、工作電極工作電極是電壓受控恒定、電流可測量的一類電極。在很多的物理電化學(xué)實(shí)驗(yàn)中,工作電極通常采用惰性材料,比如金,鉑或者玻碳。在這些例子中,工作電極僅作為表面為電化學(xué)反應(yīng)的發(fā)生提供場所。在腐蝕測試中,工作電極是要腐蝕的金屬材料。一般來說,工作電極不是真正我們要學(xué)習(xí)的金屬結(jié)構(gòu)本身。而是采用一個(gè)小的樣品來代表整體結(jié)構(gòu)。這2019
08-152019
08-082019
08-05淺析掃描電化學(xué)顯微鏡在腐蝕研究領(lǐng)域的意義
材料腐蝕的電化學(xué)測試方法局限于整個(gè)樣品的宏觀測試,測試結(jié)果只反映樣品的不同局部位置的整體統(tǒng)計(jì)結(jié)果,不能反映出局部的腐蝕及材料與環(huán)境的作用機(jī)理.為進(jìn)行局部表面科學(xué)研究,微區(qū)掃描系統(tǒng)提供了一個(gè)新的途徑,并日益得到包括局部腐蝕領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。掃描電化學(xué)顯微鏡(Scanningelectrochemistrymicroscopy,SECM)是一種基于微電極的掃描微探針電化學(xué)技術(shù),它將一支可以進(jìn)行三維方向移動(dòng)的微盤電極作為工作探針沉浸在電解質(zhì)溶液中,在離基底約幾微米的位置進(jìn)行掃描,通過探針上的電流變化來反2019
08-01電池評(píng)價(jià)測試系統(tǒng)竟然有這么多特點(diǎn)
電池評(píng)價(jià)測試系統(tǒng)是主要針對(duì)電池、燃料電池和級(jí)電容器等儲(chǔ)能裝置設(shè)計(jì)制造的直流(DC)和阻抗(AC)特性研究的綜合測試系統(tǒng);同時(shí)基于該系統(tǒng)的高速、寬測量范圍及高分辨率,也廣泛應(yīng)用于傳感器、涂層、腐蝕及常規(guī)電化學(xué)測試與分析。電池評(píng)價(jià)測試系統(tǒng)的系統(tǒng)特點(diǎn):1.同步阻抗測量輸力強(qiáng)145x系列FRA(選項(xiàng))可以與1470E結(jié)合完成多個(gè)電池的同步阻抗測量。該系列產(chǎn)品采用了單一正弦相關(guān)性和多正弦/FFT的阻抗分析技術(shù),提供高的測量速度、準(zhǔn)確度和精度。1455FRA在10mHz至1MHz頻率范圍內(nèi)提供高性能的阻抗測2019
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