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復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

11
  • 2019

    04-30

    Delphi臺(tái)式掃描電鏡的優(yōu)勢(shì),你知道嗎?

    1、無(wú)需在電鏡和光鏡之間對(duì)樣品進(jìn)行轉(zhuǎn)移,便可對(duì)同一位置點(diǎn)獲取熒光和電鏡圖像2、圖像自動(dòng)重疊技術(shù),無(wú)需人工校準(zhǔn)就能得到熒光和電鏡疊加照片,疊加精度50nm3、使用熒光掃描電鏡一體機(jī),得到細(xì)胞表面物質(zhì)精細(xì)結(jié)構(gòu)和功能物質(zhì)的相關(guān)照片4、高度集成的軟硬件,一個(gè)軟件界面控制熒光和電鏡操作5、非常容易使用,3分鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)樣品裝載并得到熒光電鏡關(guān)聯(lián)照片6、無(wú)需特殊安裝環(huán)境,繼承了大部分飛納臺(tái)式掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn),體積小,速度快,操作簡(jiǎn)單,*防震借助Delphi臺(tái)式掃描電鏡,用戶(hù)可把光學(xué)顯微鏡所包含的豐富信息和掃描電鏡
  • 2019

    04-28

    高亮度燈絲顯著提升掃描電鏡低真空成像

    在掃描電鏡應(yīng)用中,低真空技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)非導(dǎo)電樣品的直接觀察,無(wú)需噴鍍貴金屬,以免造成樣品表面細(xì)節(jié)被掩蓋、尺寸發(fā)生改變,成分信息減弱或消失等情況。低真空技術(shù)是利用入射電子束電離樣品倉(cāng)內(nèi)空氣分子產(chǎn)生正離子和自由電子(如圖1所示),正離子在樣品表面荷電所形成的負(fù)電場(chǎng)的吸引下與負(fù)電荷產(chǎn)生中和,從而消除樣品表面荷電。由于樣品表面荷電是因?yàn)槿肷潆娮邮荒芡ㄟ^(guò)非導(dǎo)電樣品導(dǎo)走而產(chǎn)生的,因此樣品表面荷電會(huì)隨著入射電子束對(duì)樣品的掃描而不斷產(chǎn)生,同時(shí)入射電子束也會(huì)持續(xù)不斷電離空氣分子,從而產(chǎn)生正離子。當(dāng)二者數(shù)量達(dá)到動(dòng)
  • 2019

    04-28

    飛納電鏡科普篇 | 掃描電鏡有沒(méi)有輻射?

    經(jīng)常有客戶(hù)問(wèn)“你們電鏡有輻射嗎”,每次小編回答時(shí)都很糾結(jié)。直回答電鏡有輻射,會(huì)嚇到客戶(hù),但為了避免客戶(hù)擔(dān)心,說(shuō)“我們電鏡沒(méi)有輻射”,又不夠?qū)I(yè)和誠(chéng)實(shí)。所以,小編就單開(kāi)一貼,好好聊一聊電鏡輻射。希望通過(guò)這個(gè)帖子,大家對(duì)于輻射有一個(gè)更理性的認(rèn)識(shí)。物理學(xué)上的輻射指的是能量以波或粒子移動(dòng)的方式所傳播的現(xiàn)象。根據(jù)能量高低及電離能力,分為電離輻射或非電離輻射。由于電離輻射能量較高,會(huì)破壞細(xì)胞內(nèi)原子結(jié)構(gòu),有致癌風(fēng)險(xiǎn)。我們這里主要討論電離輻射。圖1.電磁波譜中,能量較高的X射線和伽馬射線屬于電離輻射。人體內(nèi)有數(shù)
  • 2019

    04-28

    掃描電子顯微鏡順應(yīng)現(xiàn)代發(fā)展要求

    掃描電子顯微鏡順應(yīng)現(xiàn)代發(fā)展要求掃描電子顯微鏡是一種大型分析儀器,它廣泛應(yīng)用于觀察各種固態(tài)物質(zhì)的表面超微結(jié)構(gòu)的形態(tài)和組成,所謂掃描是指在圖象上從左到右、從上到下依次對(duì)圖象象元掃掠的工作過(guò)程。掃描電子顯微鏡主要是利用二次電子信號(hào)成像來(lái)觀察樣品的表面形態(tài),即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過(guò)電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng),其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像,這個(gè)像是在樣品被掃描時(shí)按時(shí)序建立起來(lái)的,即使用逐點(diǎn)成像的方法獲得放大像。二次電子成像是使用掃描電子顯微鏡所獲得的
  • 2019

    04-25

    飛納桌面掃描電鏡具有明顯的優(yōu)勢(shì)

    飛納桌面掃描電鏡具有明顯的優(yōu)勢(shì)飛納桌面掃描電鏡是掃描電鏡能譜行業(yè)的一個(gè)里程碑,亮度10倍于鎢燈絲的燈絲,不僅成為*分辨率高的臺(tái)式掃描電鏡,同時(shí)也使X射線能譜儀提供更加準(zhǔn)確、快速的元素分析。飛納桌面掃描電鏡的背散射圖像,首先從視覺(jué)上用不同的灰度呈現(xiàn)不同的元素,進(jìn)一步利用X射線探測(cè)器,就能輕松確認(rèn)不同灰度區(qū)域元素的名稱(chēng)和含量,提供5-95號(hào)元素的點(diǎn)掃描,線掃描和面掃描三種分析模式。用戶(hù)通過(guò)一個(gè)界面就可以操控兩項(xiàng)功能,圖形化的設(shè)計(jì),使操作變得的簡(jiǎn)單,點(diǎn)擊感興趣的區(qū)域,在數(shù)秒內(nèi)既可以得到微觀形貌信息,同
  • 2019

    04-25

    為什么掃描電鏡(SEM)是表征納米顆粒的實(shí)用技術(shù)

    微觀顆粒在各個(gè)領(lǐng)域中的應(yīng)用飛速增長(zhǎng),而這些微觀顆粒的使用關(guān)鍵在于控制其性能參數(shù)。這篇文章將解釋為什么需要地對(duì)顆粒進(jìn)行監(jiān)測(cè)和表征,以及掃描電鏡如何在這個(gè)過(guò)程中扮演重要角色,主要得益于其多功能性和的空間分辨率?!邦w?!敝冈谝欢ǔ叽绶秶鷥?nèi)具有特定形狀的幾何體,這里所說(shuō)的尺寸一般在毫米到納米之間。實(shí)際上顆粒可以從亞原子尺寸(大小為10-15米),到微觀范圍的原子(0.3?)和分子(nm-μm),再到宏觀尺寸,包括塵埃粒子,塵土,皮膚(mm-cm)等。因此,對(duì)“顆粒”定義是相當(dāng)困難的,通??衫斫鉃轭w粒在尺
  • 2019

    04-25

    掃描電鏡在光子晶體研究方面的應(yīng)用

    什么是光子晶體光子晶體(photoniccrystal)的概念起源于1987年,由科學(xué)家S.John和E.Yablonovitch提出并定義。光子晶體是一種由不同折射率的介質(zhì)周期性排列而形成的人工微結(jié)構(gòu)。介電系數(shù)在空間上的周期性變化伴隨著空間折射率的周期性變化,當(dāng)介電系數(shù)的變化足夠大且其變化周期與光波長(zhǎng)同步時(shí),光波會(huì)產(chǎn)生帶狀結(jié)構(gòu),即光子能帶結(jié)構(gòu)(photonicbandstructures)。頻率落在光子能帶中的電磁波或光是禁止傳播的,于是這些頻率的光會(huì)被反射出來(lái),成為人們觀察到的顏色。被禁止的
  • 2019

    04-17

    樣品導(dǎo)電性對(duì)掃描電鏡成像的影響

    樣品制備在掃描電鏡分析中占有重要地位,它關(guān)系到微觀圖像的觀察效果。如果制備的樣品不適用于掃描電鏡的觀察條件,則很難拍攝出好的圖像。*,理想的掃描電鏡樣品一定是導(dǎo)電性非常好的,例如金顆粒、錫球等金屬類(lèi)材料。對(duì)于不導(dǎo)電的樣品,如生物材料、紙張、塑料和陶瓷等,容易造成放電、圖像漂移等現(xiàn)象,這些都是荷電效應(yīng)產(chǎn)生的。產(chǎn)生荷電效應(yīng)的原因?qū)щ娦粤己玫臉悠吩谑艿礁吣茈娮邮Z擊后多余的電子會(huì)通過(guò)導(dǎo)電膠和導(dǎo)電樣品臺(tái)被直接導(dǎo)入大地,保持樣品表面的電勢(shì)一直為零。如果試樣不導(dǎo)電或者雖然導(dǎo)電但粘貼不好,隨著觀察時(shí)間增加,入
  • 2019

    04-17

    如何通過(guò)選擇加速電壓來(lái)提高掃描電鏡的圖像質(zhì)量

    臺(tái)式電鏡在出場(chǎng)階段已經(jīng)優(yōu)化了幾組針對(duì)不同類(lèi)型樣品的加速電壓,掌握微調(diào)節(jié)加速電壓的技能能給圖像錦上添花。經(jīng)典的原理大家都知道:掃描電鏡使用高壓加速的電子束作為光源,燈絲產(chǎn)生電子通過(guò)幾千伏至幾十千伏的高壓加速后通過(guò)電磁透鏡和光闌把聚焦的很細(xì)的電子束轟擊到樣品表面,激發(fā)出試樣表面的各種信號(hào),通過(guò)相關(guān)探測(cè)器分別進(jìn)行收集,可以獲得樣品相關(guān)的表面形貌信息和微區(qū)成分信息。分辨率是掃描電鏡的關(guān)鍵參數(shù),其是指能夠分辨物體小間距的能力。英國(guó)物理學(xué)家瑞利提出分辨率d的計(jì)算方法為:分辨率取決于光源的波長(zhǎng),波長(zhǎng)越短,分辨
  • 2019

    03-27

    掃描式電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)以及優(yōu)勢(shì)

    掃描式電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)以及優(yōu)勢(shì)掃描式電子顯微鏡的工作原理與黑白工業(yè)電視相似,顯示部分與黑白工業(yè)電視可以說(shuō)是*相同,只不過(guò)顯像管用的是長(zhǎng)余輝的,掃描電路是慢掃描的,再把屏幕轉(zhuǎn)九十度觀看而已;攝像部分的區(qū)別略大一些,它是把閃爍體上的圖像用光電倍增管轉(zhuǎn)換成電信號(hào),而不是用CCD或者CMOS等傳感器直接轉(zhuǎn)換成電信號(hào)。掃描式電子顯微鏡是一種大型精密儀器,它是機(jī)械學(xué)、光學(xué)、電子學(xué)、熱學(xué)、材料學(xué)、真空技術(shù)等多門(mén)學(xué)科的綜合應(yīng)用。掃描式電子顯微鏡由電子槍發(fā)射出電子束(直徑約50um),在加速電壓的作用下經(jīng)過(guò)磁
  • 2019

    03-26

    掃描電鏡的操作步驟及日常維護(hù)

    掃描電鏡的操作步驟及日常維護(hù)掃描電鏡按結(jié)構(gòu)和用途可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發(fā)射式電子顯微鏡等。掃描電鏡常用于觀察那些用普通顯微鏡所不能分辨的細(xì)微物質(zhì)結(jié)構(gòu),主要用于觀察固體表面的形貌,也能與X射線衍射儀或電子能譜儀相結(jié)合,構(gòu)成電子微探針,用于物質(zhì)成分分析;發(fā)射式電子顯微鏡用于自發(fā)射電子表面的研究。因電子束穿透樣品后,再用掃描電鏡成像放大而得名,它的光路與光學(xué)顯微鏡相仿,可以直接獲得一個(gè)樣本的投影。通過(guò)改變物鏡的透鏡系統(tǒng)人們可以直接放大物鏡的焦點(diǎn)的像,由此人們可以獲
  • 2019

    03-08

    當(dāng)臺(tái)式電鏡遇見(jiàn)肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源

    在2018年之前,為何沒(méi)有看到使用肖特基場(chǎng)發(fā)射電子源(FEG)的臺(tái)式掃描電子顯微鏡(SEM)呢?為何在臺(tái)式掃描電鏡(SEM)中使用場(chǎng)發(fā)射電子源(FEG)是十分的呢?當(dāng)臺(tái)式掃描電鏡遇見(jiàn)場(chǎng)發(fā)射電子源臺(tái)式掃描電鏡(SEM)是一個(gè)相對(duì)年輕且發(fā)展迅速的產(chǎn)品。其實(shí)許多應(yīng)用領(lǐng)域并不需要使用低于1nm的超高分辨率掃描電鏡(SEM),10nm的分辨率是綽綽有余的。然而,由于材料特征點(diǎn)尺寸越來(lái)越小和觀測(cè)需求的增加,臺(tái)式掃描電鏡(SEM)用戶(hù)有時(shí)希望設(shè)備能夠具有更好的分辨率,并且保持測(cè)樣效率不變、操作依然簡(jiǎn)便。飛納臺(tái)
  • 2019

    03-04

    德飛熒光掃描電鏡一體機(jī)優(yōu)勢(shì),你造嗎?

    德飛熒光掃描電鏡一體機(jī)是一臺(tái)采用AutomaticOverlap(自動(dòng)交疊)技術(shù)的設(shè)備,借助該設(shè)備,用戶(hù)可把光學(xué)顯微鏡所包含的豐富信息和掃描電鏡所*的超高分辨率結(jié)合在一起,觀察研究樣品納米尺度范圍的動(dòng)態(tài)過(guò)程,定位細(xì)胞和有機(jī)體中所發(fā)生的特定事件。德飛熒光掃描電鏡一體機(jī)優(yōu)勢(shì):1、使用熒光掃描電鏡一體機(jī),得到細(xì)胞表面物質(zhì)精細(xì)結(jié)構(gòu)和功能物質(zhì)的相關(guān)照片。2、無(wú)需特殊安裝環(huán)境,繼承了大部分飛納臺(tái)式掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn),體積小,速度快,操作簡(jiǎn)單,*防震。3、無(wú)需在電鏡和光鏡之間對(duì)樣品進(jìn)行轉(zhuǎn)移,便可對(duì)同一位置點(diǎn)獲取熒
  • 2019

    02-28

    樣品制備:如何分散粉末以獲得優(yōu)異的掃描電鏡圖像

    由于增材制造的重要性日益提高,顆粒分析變得越來(lái)越重要,導(dǎo)致工業(yè)制造商對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量要求更嚴(yán)格。除了產(chǎn)量大化外,制造商還需要確保其工藝始終可以提供具有適當(dāng)尺寸和形態(tài)的顆粒。在本篇文章中,將討論如何使用Nebula™顆粒分散器實(shí)現(xiàn)顆粒均勻分散,并且可以使用飛納電鏡的顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)分析顆粒。分散粉末樣品的原因?yàn)榱舜_保顆粒分析的準(zhǔn)確性,不僅需要分離單個(gè)顆粒,而且還要分離附著物。圖1顯示了將粉末樣品直接添加到碳導(dǎo)電膠上和使用Nebula™顆粒分散器之間的區(qū)別。圖1:將粉末樣品直接涂覆到碳導(dǎo)電膠(左)和
  • 2019

    02-26

    讓掃描電鏡擁有長(zhǎng)期穩(wěn)定的分辨率

    當(dāng)談?wù)搾呙桦婄R品質(zhì)的時(shí)候,人們總喜歡將分辨率、放大倍數(shù)等參數(shù)作為評(píng)判依據(jù)的*。尤其是在購(gòu)買(mǎi)新設(shè)備時(shí),更是將這兩項(xiàng)參數(shù)視若明珠,不敢稍加怠慢,因此很容易陷入“參數(shù)黨”的漩渦而背離了購(gòu)買(mǎi)電鏡的初衷。那么不妨回過(guò)神兒來(lái)仔細(xì)想想,大家購(gòu)買(mǎi)掃描電鏡的實(shí)際需求是什么?當(dāng)然是為了更、更快捷地觀察樣品。那么如何實(shí)現(xiàn)上述的目的呢?設(shè)備與人是使用電鏡過(guò)程中的兩大主體,將電鏡的分辨率、放大倍數(shù)等參數(shù)置于考察的*固然無(wú)錯(cuò),但是更加不能忽略操作人員與電鏡的交互過(guò)程,也就是使用與管理體驗(yàn),這其中包括了設(shè)備對(duì)環(huán)境的適應(yīng)性、易
  • 2018

    11-19

    PhenomWorld臺(tái)式掃描電鏡主要優(yōu)勢(shì)

    1、圖像自動(dòng)重疊技術(shù),無(wú)需人工校準(zhǔn)就能得到熒光和電鏡疊加照片,疊加精度50nm。2、無(wú)需特殊安裝環(huán)境,繼承了大部分飛納臺(tái)式掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)。3、無(wú)需在電鏡和光鏡之間對(duì)樣品進(jìn)行轉(zhuǎn)移,便可對(duì)同一位置點(diǎn)獲取熒光和電鏡圖像。4、使用熒光掃描電鏡一體機(jī),得到細(xì)胞表面物質(zhì)精細(xì)結(jié)構(gòu)和功能物質(zhì)的相關(guān)照片。5、非常容易使用,一分鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)樣品裝載并得到熒光電鏡關(guān)聯(lián)照片。6、高度集成的軟硬件,一個(gè)軟件界面控制熒光和電鏡操作。熒光顯微鏡和掃描電鏡結(jié)合使用的難點(diǎn)在于樣品觀察點(diǎn)定位,準(zhǔn)確的定位才能提供的疊加照片。德飛(Del
  • 2018

    10-29

    Delphi光學(xué)電子顯微鏡的優(yōu)勢(shì)在哪里?

    Delphi光學(xué)電子顯微鏡采用AutomaticOverlap(自動(dòng)交疊)技術(shù)的設(shè)備,簡(jiǎn)單的說(shuō),借助該設(shè)備,用戶(hù)可把光學(xué)顯微鏡所包含的豐富信息和掃描電鏡所*的超高分辨率結(jié)合在一起,觀察研究樣品納米尺度范圍的動(dòng)態(tài)過(guò)程,定位細(xì)胞和有機(jī)體中所發(fā)生的特定事件,通過(guò)在熒光圖像中疊加掃描電鏡圖像,實(shí)現(xiàn)在一張圖像中同時(shí)得到樣品精細(xì)結(jié)構(gòu)和功能物質(zhì)的信息。該儀器的優(yōu)勢(shì)體現(xiàn):1、非常容易使用,3分鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)樣品裝載并得到熒光電鏡關(guān)聯(lián)照片2、無(wú)需在電鏡和光鏡之間對(duì)樣品進(jìn)行轉(zhuǎn)移,便可對(duì)同一位置點(diǎn)獲取熒光和電鏡圖像3、無(wú)需
  • 2018

    10-27

    掃描電鏡運(yùn)用領(lǐng)域十分寬廣

    掃描電鏡運(yùn)用領(lǐng)域十分寬廣掃描電鏡的高性能、高質(zhì)量、高可靠性和穩(wěn)定性已得到世界范圍內(nèi)廣大用戶(hù)的信賴(lài)與認(rèn)可。掃描電鏡廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分析和失效分析,材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測(cè)量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒
  • 2018

    10-11

    為什么掃描電鏡(SEM)是適合纖維分析的檢測(cè)設(shè)備

    纖維無(wú)處不在。生活中存在不同類(lèi)型的纖維,但在大多數(shù)情況下不會(huì)注意到它們,因?yàn)槔w維被應(yīng)用在產(chǎn)品中。如果一個(gè)物體長(zhǎng)度遠(yuǎn)大于其寬度,認(rèn)為它是纖維。纖維對(duì)所使用的產(chǎn)品的性能有著重要的影響。這篇博客將描述這些纖維的不同分類(lèi)方式以及如何更好地分析它們的性能。提示:將纖維放在特定的顯微鏡下。您會(huì)發(fā)現(xiàn)適合纖維分析的方法,請(qǐng)繼續(xù)閱讀!纖維顯微鑒定與分類(lèi)如果在網(wǎng)上搜索“纖維”這個(gè)詞,會(huì)發(fā)現(xiàn)纖維可以分為天然纖維和工程纖維。在這篇文章中,將重點(diǎn)關(guān)注工程織物,特別是無(wú)紡布。無(wú)紡布·工程纖維·具有特定結(jié)構(gòu)和特定性質(zhì)·采用率
  • 2018

    09-27

    飛納桌面掃描電鏡產(chǎn)品的工藝要點(diǎn)

    飛納桌面掃描電鏡產(chǎn)品的工藝要點(diǎn)飛納桌面掃描電鏡采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng),不僅分辨率性能明顯提升,而且作為一款冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡需要傳統(tǒng)意義上的操作,可以率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。飛納桌面掃描電鏡可以自由控制SE和BSE檢測(cè)信號(hào),全新真空技術(shù)設(shè)計(jì)使得冷場(chǎng)發(fā)射電子束具有超穩(wěn)定和高亮度特點(diǎn),全新物鏡設(shè)計(jì)顯著提高低加速電壓條件下的圖像分辨率,能夠調(diào)整信號(hào)檢測(cè)角度,明場(chǎng)像、暗場(chǎng)像和二次電子圖像可以同時(shí)顯示并拍攝照片,與兼容的側(cè)插樣品桿提高更換樣品效率和高倍率圖像觀察效率。飛納桌面掃
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