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02-18全反射X射線熒光(TXRF)對碳化硅等難溶樣品檢測的優(yōu)點
常見難溶樣品如:碳化硼、碳化硅、氮化硼在磨料、特種刀具、核工業(yè)等領域有廣泛的應用。其雜質元素檢測通常采用ICP-OES、GD-MS、DCA、ICP-MS等設備,部分標準如下:GB/T3045-2017普通磨料碳化硅化學分析方法濕法消解ICP-OESGB/T34003-2017氮化硼中雜質元素測定方法微波消解ICP-OESASTMC791核級碳化硼的化學、質譜及光譜分析標準方法高壓消解/堿熔ICP-OES/MS法JB/T7993-2012碳化硼化學分析方法消解后分光光度法?常規(guī)方法所面臨的難點IC2024
01-04微波消解系統(tǒng)是一種在高溫高壓條件工作的樣品前處理系統(tǒng)
微波消解系統(tǒng)是一種在密閉容器里,采用微波加熱原理,在高溫高壓條件下達到樣品前處理目的的儀器系統(tǒng)。該系統(tǒng)一般由主機、光纖溫度監(jiān)控系統(tǒng)、精確壓力監(jiān)控系統(tǒng)、溫壓異常監(jiān)控系統(tǒng)、消解罐及轉子系統(tǒng)、軟件系統(tǒng)等系統(tǒng)組合而成。微波消解系統(tǒng)作為一種高效的樣品前處理儀器系統(tǒng),具有加熱速度快、加熱均勻的特點,能夠快速有效地分解樣品,提高分析效率。同時,由于采用密閉容器,能夠有效地防止樣品損失和污染,提高了分析的準確性和可靠性。由于微波消解系統(tǒng)需要在高溫高壓條件下工作,因此需要嚴格遵守操作規(guī)程,并定期進行保養(yǎng)和校準。12023
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