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2017
10-17

百問百答-58什么是壓汞法
利用汞對固體表面的不浸潤特性，將汞壓入多孔材料的空隙中，根據(jù)汞壓入空隙內(nèi)的總壓力與孔徑成反比的關(guān)系，求得多孔材料孔徑分布及其特性的方法。壓汞法是測量中孔和大孔孔徑分布的一種方法。目前所用壓汞儀使用壓力zui大約200MPa，適合測量孔徑范圍在0.0064-950μｍ的材料。也常用壓汞儀來檢測混凝土、砂漿等的孔隙率，用以表征混凝土內(nèi)部的氣孔等指標。
2017
10-14

百問百答-57什么是氣體吸附法和 BET 理論？
氣體吸附法是在恒溫條件下，通過測定樣品在一系列分壓下對背吸附氣體的飽和吸附量獲得吸附—脫附等溫線，以求得樣品比表面積孔徑分布的方法。求得樣品比表面和孔徑分布的理論基礎(chǔ)是BTE理論，也叫多孔物質(zhì)的多分支層吸附理論，它是建立在Langmuir方程之上并對其修正的一種方法，是計算比表面的普遍理論。
2017
10-13

百問百答- 56全景掃描圖像粒度粒形分析系統(tǒng)
本系統(tǒng)包括帶自動載物臺和自動對焦系統(tǒng)的金相顯微鏡、控制系統(tǒng)、高分辨率CCD和軟件系統(tǒng)四部分組成。與普通的靜態(tài)圖像粒度粒形分析系統(tǒng)不同的是，本系統(tǒng)可實現(xiàn)自動拍攝和圖像還原，其過程是自動載物臺在控制系統(tǒng)的控制下能一小步一小步地移動，每移動一步顯微鏡就拍攝一幅圖像，自動載物臺能連續(xù)一行一行地掃描，CCD就連續(xù)掃描拍攝圖像，直到把要拍攝的范圍（一般直徑為50mm）都掃描一遍，并邊拍攝邊拼接，掃描結(jié)束后形成一個比原圖大數(shù)百倍全景圖像。軟件系統(tǒng)再對這個大圖像上的數(shù)千個顆粒進行粒度、粒形分析，從而得到準確的粒
2017
10-12

百問百答-54鞘流技術(shù)在動態(tài)圖像粒度粒形分析系統(tǒng)的作用
鞘流技術(shù)也叫液體聚焦技術(shù)，它是通過在樣品流的四周包圍一層流速更高的鞘液流，來約束樣品流中的顆粒不發(fā)散，使它們沿著近似直線的路徑流動，如果將這個近似直線的樣品流設置在鏡頭的焦平面上，則所有顆粒都將在焦平面上通過鏡頭，顆粒圖像將很清晰，保證了圖像粒度粒形分析的準確性。如果不采用這種技術(shù)，由于顆粒發(fā)散產(chǎn)生離焦，導致圖像模糊，給后續(xù)的圖像粒度粒形分析帶來誤差。所以，鞘流技術(shù)是提高動態(tài)圖像粒度粒形分析系統(tǒng)圖像清晰度，進而提高分析精度的有效手段。百特BT-2800動態(tài)圖像粒度粒形分析系統(tǒng)，就是采用這一先進技
2017
10-10

百問百答-53顯微圖像顆粒測試原理
通過對顆粒數(shù)量和每個顆粒投影所包含的像素數(shù)量的統(tǒng)計，計算出每個顆粒的等圓面積，從而得到顆粒的等圓面積直徑，進而得到粒度分布，還能通過長徑，短徑計算出長徑比和球形度等粒形參數(shù)。圖像顆粒分析系統(tǒng)包括光學顯微鏡、數(shù)字CCD攝像頭、圖像處理與分析軟件、電腦、打印機等部分組成。它是將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物。具有直觀、形象、準確、測試范圍寬以及自動識別、自動統(tǒng)計、自動標定等特點，不僅可以用來觀察顆粒形貌，還可以得到粒度分布、平均長徑比以及長徑比分布等，為科研、生產(chǎn)領(lǐng)域增添了一種新的
2017
10-10

百問百答-52電阻法粒度測量原理
電阻法（庫爾特）顆粒計數(shù)器粒度測量原理是小孔電阻原理，如圖所示。小孔管浸泡在電解液中，小孔管內(nèi)外各有一個電極，電流通過孔管壁上的小圓孔從陽極流到陰極。小孔管內(nèi)部處于負壓狀態(tài)，因此管外的液體將流動到管內(nèi)。測量時將顆粒分散到液體中，顆粒就跟著液體一起流動。當其經(jīng)過小孔時，小孔的橫截面積變小，兩電極之間的電阻增大，電壓升高，產(chǎn)生一個電壓脈沖。當電源是恒流源時，可以證明在一定的范圍內(nèi)脈沖的峰值正比于顆粒體積。儀器只要測出每一個脈沖的峰值，即可得出各顆粒的大小，進而可得出粒度的分布。
2017
09-26

百問百答-51什么叫 Zeta 電位，如何測量？
分散在液體（特別是水）中的顆粒對液體中離子有選擇性吸附作用，加上固液兩相對電子的親和性不同，往往致使顆粒表面帶電。帶電顆粒周圍的溶液中將富集帶相反符號的離子（即反離子），其中一部分反離子與顆粒表面緊密結(jié)合，構(gòu)成固定吸附層，或稱Stern層，另一部分反離子由于靜電吸引和熱擴散兩種相反作用的平衡，分布在顆粒周圍溶液中，與顆粒一起構(gòu)成所謂的擴散雙電層。如果對這種固-液分散體系施加一個直流電場，則帶電顆粒將向相反電性的電極方向作定向運動，此即電泳現(xiàn)象。帶電的顆粒表面與溶液內(nèi)部的電位差稱為顆粒的表面電位，
2017
09-22

有關(guān)激光粒度儀在使用中的注意事項
激光粒度儀主要由光學檢測系統(tǒng)，分散進樣系統(tǒng)及控制分析軟件組成，而光學檢測系統(tǒng)又包括光源，光路及檢測器等關(guān)鍵部分。在選擇激光粒度儀時要特別注意以下幾點：1、光源主要有氦氖氣體激光器和半導體固體激光器兩種，氦氖激光器具有線寬窄，單色性*，不受供電電壓波動及溫度變化的影響，穩(wěn)定性高，特別是近些年來密封等技術(shù)的發(fā)展，其使用壽命有了很大提高，所以雖然氦氖激光器存在體積大，需高壓供電及價格高的缺點，但仍然被一些儀器采用。而半導體激光器具有體積小，供電電壓低，使用壽命較長，相對氦氖激光器而言價格低等優(yōu)點，但其
2017
09-21

百問百答-50沉降法粒度測試原理
沉降法是通過測量顆粒在液體中的沉降速度來反映粉體粒度分布的一種方法。在液體中大顆粒沉降速度快，小顆粒沉降速度慢。沉降速度與粒徑的數(shù)量關(guān)系我們可以從下面的Stokes定律的數(shù)學表達式得到：從上式可以看到，顆粒的沉降速度與粒徑的平方成正比，可見在重力沉降中顆粒越大沉降速度越快。比如在相同條件下，兩個粒徑比為10：1，那么這兩個顆粒的沉降速度之比為100：1。這樣通過測量顆粒的沉降速度就可以得到它的粒徑了。為了加快細顆粒的沉降速度，縮短測試時間，提高測試精度，許多沉降儀引入了離心沉降手段來加快細顆粒的
2017
09-13

百問百答-49后向動態(tài)光散射法
在傳統(tǒng)的動態(tài)光散射法粒度測試中，為了避免復散射(Multiplescattering)現(xiàn)象，需要盡量降低樣品的濃度，有時甚至看上去都是澄清透明的。而實際上大多數(shù)膠體產(chǎn)品原樣的濃度都在5%以上，外觀是渾濁的。對這樣的樣品，用傳統(tǒng)光子相關(guān)光譜法分析前要做高倍率的稀釋，這既不便于使用，又可能會破壞膠體的穩(wěn)定性，因此用于高濃度下的后向動態(tài)光散射技術(shù)應運而生。為了降低復散射光在信號光中的比重，將發(fā)射端和接收端布置于試樣的同側(cè)，即測量后向散射光信號，并適當控制散射區(qū)域大小，可以獲得即減少復散射的影響，又能測
2017
09-06

關(guān)于干法激光粒度儀測量樣品應注意的問題
干法激光粒度儀測量樣品的*步就是決定在濕狀態(tài)下還是在干狀態(tài)下分析樣品。這是由zui終使用什么樣品來決定的。如果以干燥形勢來使用或儲存樣品，用干燥分析方法較好。一些樣品易和濕分散劑起反應，比如可能溶解或和液體接觸時膨脹，所以只能在干燥狀態(tài)下測量。另一考慮問題就是物質(zhì)在干燥狀態(tài)能否自由流動，良好的表現(xiàn)為不粘連干燥粉狀樣品?？梢栽谶M料器中充分分解，而高粘性物質(zhì)卻易粘結(jié)，使測量出現(xiàn)偏樣品結(jié)塊只需要在烘箱中干燥一下即可。但精細的物質(zhì)在烘箱中干燥時，樣品會受到破壞，為了去潮，應將烘箱調(diào)到zui高溫度，但不要
2017
09-06

百問百答-48動態(tài)光散射法的測量原理與作用
動態(tài)光散射（DynamicLightScatteringDLS)，也稱光子相關(guān)光譜法，是一種常規(guī)的納米粒度表征方法，具有準確、快速、可重復性好等優(yōu)點。隨著儀器的更新和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展，現(xiàn)在的動態(tài)光散射儀器不僅具備測量粒徑的功能，還具有測量Zeta電位、大分子的分子量的能力。動態(tài)光散射的測量原理是懸浮液中的納米顆粒、乳液液滴和分子，在液體分子布朗運動的碰撞下，也在進行類似分子布朗運動的運動。當一束激光照射到這些動態(tài)的顆?；蚍肿由蠒r，這些動的顆粒會引起的散射光強度波動，而且波動頻率取決于微粒的運動
2017
08-29

百問百答-47激光粒度測試原理
由激光器發(fā)出的一束激光，經(jīng)濾波、擴束、準值后變成一束平行光，在該平行光束沒有照射到顆粒的情況下，光束穿過富氏透鏡后在焦平面上匯聚形成一個很小很亮的光點——焦點，如下圖所示：樣品通過分散系統(tǒng)均勻送到平行光束中時，顆粒將使激光將發(fā)生散射現(xiàn)象，一部分光向與光軸成一定的角度向外散射，如下圖所示。理論與實踐都證明，大顆粒引發(fā)的散射光的散射角小，小顆粒引發(fā)散射光的散射角越大。這些不同角度的散射光通過富氏透鏡后將在焦平面上將形成一系列的光環(huán)，由這些光環(huán)組成的明暗交替的光斑稱為Airy斑。Airy中包含著豐富的
2017
08-22

用激光粒度儀測量釹鐵硼要注意什么？
釹鐵硼顆粒帶有較強的磁性，極易團聚，因此不能用濕法測試。而干法是通過高速氣流瞬間分散，可以克服磁性引起的團聚，因此干法激光粒度儀成為測量釹鐵硼的粒度分布的典型方法。但是由于釹鐵硼粉在空氣中具有自燃性，就是暴露在空氣中的釹鐵硼粉在環(huán)境溫度稍高時就會自燃，因此常常會燒毀吸塵器管路和濾網(wǎng)，使粒度測試無法正常進行，并且容易帶來危險。采取的預防措施一是不用壓縮空氣作為氣源，而用氮氣等惰性氣體作氣源；二是要將吸塵器管更換成表面光滑的聚乙烯管，使顆粒不在管路中沉積；三是要選用水過濾的吸塵器收集樣品而不能選用袋
2017
08-16

百問百答-46影響激光粒度儀分辨力的因素有哪些？
影響激光粒度儀分辨力的因素很多：（1）光電探測器數(shù)量，數(shù)量越多分辨力越高。（2）反演算法的優(yōu)劣，好的反演算法分辨力高。（3）分布模型，多峰模型分辨力高，單峰模型分辨力低。（4）富氏鏡頭，相差小的富氏鏡頭分辨力高，相差大的富氏鏡頭分辨力低。
2017
08-09

百問百答-45如何驗證激光粒度儀的分辨力？
分辨力的定義是能被激光粒度儀有效辨別的兩個樣品的zui小差值。分辨力是和重復性、準確性同等重要的指標，是衡量一臺激光粒度儀性能高低的主要指標。由于目前沒有評價激光粒度儀分辨力的標準樣品，因此要定量評價激光粒度儀分辨力有困難。但用戶可以通過簡單的方法定性評價你所用的激光粒度儀的分辨力。用兩種標稱值差大于5的標準樣品，按1:1比例混合后進行測試，如果是雙峰分布，則分辨力較高，儀器合格；不但是雙峰樣品，而且是基線分離(甲樣品zui大粒徑端與乙樣品的zui小粒徑端分離)，則分辨力很高，儀器優(yōu)良。
2017
08-07

百問百答-44為什么粒度測試不能固定樣品的百分比濃度？
在測試過程中通常用遮光率這個相對值來表征懸浮液的濃度的，遮光率的大小是由懸浮液中的顆粒個數(shù)決定的——懸浮液中顆粒數(shù)越多，散射光越強，遮光率越高；懸浮液中的顆粒數(shù)越少，散射光越弱，遮光率越低。為了達到一定的遮光率，對粒度越粗的樣品所需的顆粒數(shù)量就多；對粒度越細的樣品，只要很少一點樣品顆粒數(shù)就很多，因此所需的試樣量就很少?？梢姌悠吩酱謶腋∫旱陌俜直葷舛染驮酱螅粯悠吩郊殤腋∫旱陌俜直葷舛染驮叫?。此外，即使粒度相同，不同樣品的密度又不相同，百分比濃度也不同。所以激光粒度測試時懸浮液的濃度值不能規(guī)定一個固
2017
08-04

激光粒度測試數(shù)據(jù)異常的原因及應對方法
在粒度測試過程中，有時會出現(xiàn)數(shù)據(jù)異常的情況，如重復性不好、同一個樣品結(jié)果與之前有差異等。這樣的情況一般是由以下幾個原因造成的。1、環(huán)境異常：粒度儀的使用環(huán)境應該滿足以下條件，一是室溫在10℃~30℃之間，并且介質(zhì)溫度要與室溫相同或相近，若介質(zhì)與室溫溫相差過大會導致樣品池結(jié)霧而影響測試結(jié)果。二是實驗臺要穩(wěn)固，周圍無振動源。振動會使儀器測試過程中光路發(fā)生變化，導致測試結(jié)果不穩(wěn)。三是電源電壓要穩(wěn)定且有良好的接地，電壓不穩(wěn)會影響儀器內(nèi)部電路運行的可靠性和光源的穩(wěn)定性，從而使信號不穩(wěn)或*錯誤，從而導致結(jié)果
2017
08-03

百問百答-43樣品折射率對粒度結(jié)果的影響及測量方法
超細化、納米化是現(xiàn)代粉體材料研究和生產(chǎn)的趨勢，為滿足對這些材料的粒度分析，激光粒度儀的測量范圍也向超細化、納米化方向發(fā)展，所以現(xiàn)代高性能的激光粒度儀的測量下限已經(jīng)達到20nm甚至10nm，而樣品折射率（包括收率）是Mie散射求解的一個重要條件，如果折射率錯誤，將導致粒度測試結(jié)果錯誤。隨著新材料、合成材料以及混合材料越來越多，用常規(guī)手段測試這些材料的折射率很困難，這是粒度測試遇到的難題。為解決這個難題，百特研制成功了利用高性能激光粒度儀測量樣品折射率的方法，在粒度測試前先測量折射率和吸收率，保證了
2017
08-02

百問百答-42 折射率和吸收率的含義是什么？
光在真空中的速度與光在其它材料中的速度的比值叫做折射率。樣品的折射率越高，表明入射光發(fā)生折射的能力就越強。吸收率是指光照射到顆粒上熱輻射能被吸收的量與投射到顆粒上的總熱輻射能量之比。在激光粒度分析軟件系統(tǒng)中，折射率是用復數(shù)表達表示，它的實部是實際折射率，虛部就是吸收率?，F(xiàn)代激光粒度儀的軟件系統(tǒng)中和粉體手冊中，都能查到常見樣品的折射率和吸收率。對特殊的樣品還可以通過其他資料查找折射率和吸收率，也可以通過測量得到樣品的折射率和吸收率。此外，還有用已知樣品的光學折射率來代替光學特性相近的樣品的光學折射

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