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SiC外延片測(cè)試方案2023/03/15: SiC由于其禁帶寬度大、熱導(dǎo)率高、電子的飽和漂移速度大、臨界擊穿電壓高和介電常數(shù)低等特點(diǎn)，在高頻、高功率、耐高溫的半導(dǎo)體功率器件和紫外探測(cè)器等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用前景，特別是在電動(dòng)汽車(chē)、電源、航天等領(lǐng)域備受歡迎。外延材料是實(shí)現(xiàn)器件制造的關(guān)鍵，主要技術(shù)指標(biāo)有外延層厚度、晶格布局，材料結(jié)構(gòu)，形貌以及物理性質(zhì)，表面粗糙度和摻雜濃度等。本文闡述了SiC外延表面常見(jiàn)的測(cè)試手段。本解決方案詳細(xì)闡述了如何檢測(cè)SiC外延層厚度、晶格布局，材料結(jié)構(gòu)，形貌以及物理性質(zhì)，表面粗糙度和摻雜濃度。如果需要查看完整的文章，請(qǐng)

三維光學(xué)輪廓儀在光學(xué)領(lǐng)域的解決方案2021/03/11: 光學(xué)元件在各個(gè)領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用，對(duì)光學(xué)元件的表面加工精度提出越來(lái)越高的要求。如何檢測(cè)光學(xué)元件的加工精度，從而用于優(yōu)化加工方法，保證終元器件的性能指標(biāo)，是光學(xué)元件加工領(lǐng)域的關(guān)鍵問(wèn)題之一。光學(xué)元件的加工精度包括表面質(zhì)量和面型精度，這些參數(shù)會(huì)影響其對(duì)光信號(hào)的傳播，進(jìn)而影響終器件的性能。此外，各種新型光學(xué)元件也需要檢測(cè)其表面輪廓，比如非球面，衍射光學(xué)元件，微透鏡陣列等。除了終光學(xué)元件的加工精度以外，各種光學(xué)元件加工工藝也需要檢測(cè)中間過(guò)程的三維形貌以保證終產(chǎn)品的精度，包括注塑、模壓的模具，光學(xué)圖案轉(zhuǎn)印時(shí)的

布魯克公司發(fā)布完整的掃描電化學(xué)顯微鏡解決方案2021/03/11: 完整的SECM電化學(xué)顯微鏡解決方案布魯克*的PeakForceSECM™模塊是完備商用解決方案，在基于原子力顯微鏡的掃描電化學(xué)顯微鏡上實(shí)現(xiàn)了小于100納米的空間分辨率。通過(guò)創(chuàng)新性探針設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)納米級(jí)分辨率的基于原子力顯微鏡的掃描電化學(xué)顯微鏡目前已廣泛應(yīng)用于新興研究領(lǐng)域，如化學(xué)動(dòng)力學(xué)，生物化學(xué)信號(hào)傳導(dǎo)和環(huán)境化學(xué)等。此外，此技術(shù)可以納米級(jí)橫向分辨同時(shí)獲取形貌、電化學(xué)、電學(xué)和機(jī)械性能等圖譜。PeakForceSECM™充分利用峰值力模式的優(yōu)勢(shì)從根本上重新定義了在液下能實(shí)現(xiàn)哪些電學(xué)和化學(xué)過(guò)程的納米尺度

各種金屬牌號(hào)3D打印技術(shù)應(yīng)用2021/03/10: SLMSolutions代表了創(chuàng)新性、技術(shù)性、高效性的全套解決方案。來(lái)自不同行業(yè)的客戶(hù)均選擇SLMSolutions的設(shè)備生產(chǎn)復(fù)雜的零部件。從義齒到渦輪葉片，設(shè)備的應(yīng)用領(lǐng)域極其廣泛。這些產(chǎn)品均符合一個(gè)共同的要求：滿(mǎn)足穩(wěn)定性、表面質(zhì)量或生物相容性的高標(biāo)準(zhǔn)。而且設(shè)備的適用范圍還在擴(kuò)大，基本上囊括了所有幾何結(jié)構(gòu)。粉末種類(lèi)具體類(lèi)型舉例材料特性典型應(yīng)用領(lǐng)域鋁合金AlSi10Mg優(yōu)異的抗腐蝕性良好的導(dǎo)電性動(dòng)態(tài)斷裂韌性高優(yōu)異的導(dǎo)熱性能航空航天汽車(chē)行業(yè)機(jī)械工程熱交換器件鎳基合金HX強(qiáng)度高延展性好優(yōu)異的高溫抗氧化

布魯克三維光學(xué)輪廓儀在光學(xué)領(lǐng)域的一些應(yīng)用2020/12/08: 光學(xué)元件在各個(gè)領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用，對(duì)光學(xué)元件的表面加工精度提出越來(lái)越高的要求。如何檢測(cè)光學(xué)元件的加工精度，從而用于優(yōu)化加工方法，保證終元器件的性能指標(biāo)，是光學(xué)元件加工領(lǐng)域的關(guān)鍵問(wèn)題之一。光學(xué)元件的加工精度包括表面質(zhì)量和面型精度，這些參數(shù)會(huì)影響其對(duì)光信號(hào)的傳播，進(jìn)而影響終器件的性能。此外，各種新型光學(xué)元件也需要檢測(cè)其表面輪廓，比如非球面，衍射光學(xué)元件，微透鏡陣列等。除了終光學(xué)元件的加工精度以外，各種光學(xué)元件加工工藝也需要檢測(cè)中間過(guò)程的三維形貌以保證終產(chǎn)品的精度，包括注塑、模壓的模具，光學(xué)圖案轉(zhuǎn)印時(shí)的

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