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超高壓XRD是研究物質的物相和晶體結構的主要方法2022/11/23

超高壓XRD是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時，該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現(xiàn)象，物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。因此，X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現(xiàn)代科學方法，已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用。x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到

巖礦分析系統(tǒng)的這些知識值得我們學習2022/11/17

巖礦的成分測定與分析是地質工作的一個重要組成部分，它的研究對象主要是天然礦產，如巖石、礦物等；主要任務是利用一些技術手段(儀器分析、化學分析等)，對礦物巖石的成分在不同賦存狀態(tài)下的含量及其化學組成進行測定與分析。巖礦成分的測定與分析工作具有重要的意義，如何快速準確的發(fā)現(xiàn)巖礦并給與正確的評價，是廣大地質工作者的首要任務?？梢哉f，巖礦分析系統(tǒng)與分析工作與我國的社會主義現(xiàn)代化建設有著密不可分的聯(lián)系。巖礦分析系統(tǒng)的基本流程：1.1試樣的加工制作實際用于測定分析的試樣一般只需要幾克，因此試樣的加工制作是必

從基本開始認識普通掃描電鏡2022/10/27

普通掃描電鏡的電子槍發(fā)射出電子束，電子在電場的作用下加速，經過兩三個電磁聚光鏡后在樣品表面聚焦成極細的電子束。該細小的電子束在末透鏡的上方的雙偏轉線圈作用下在樣品表面進行掃描，被加速的電子到達樣品的表面，樣品原子的外層電子受激發(fā)離開樣品形成二次電子被探測器俘獲后轉化成的信號，在顯像管熒光屏上形成的圖像亮點即掃描電鏡圖像，圖像與樣品表面形態(tài)有密切的關系。如二次電子，背散射電子，吸收電子、X射線、俄歇電子、陰極發(fā)光等。這些信號被按順序、成比例的交換成視頻信號、檢測放大處理成像，從而在熒光屏上觀察到樣

X射線衍射儀使用的注意事項有哪些？2022/10/27

X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質的晶體結構，織構及應力，精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。主要應用于樣品的物相定性或定量分析、晶體結構分析、材料的結構宏觀應力的測定、晶粒大小測定、結晶度測定等。使用的注意事項有哪些？1.不要像普通垃圾一樣丟棄X射線管和探測器。2.請在關門時，盡量避免過度用力，以免影響安全系統(tǒng)。3.定期清潔儀器內部，以免灰塵聚集在某些重要部件的表面上，影響儀器的正常工作。4.光管水路需要定期檢查和清潔。5.人員長時間離開后必須關機，20分鐘后關循環(huán)水，否則水管漏水將

臺式電鏡SEM在材料科學領域當中有著非常重要的作用2022/10/25

臺式電鏡SEM在行業(yè)當中有著非常重要的作用，它可以放大并觀察物體表面結構，現(xiàn)如今被廣泛應用于材料科學、冶金、生物學、醫(yī)學、半導體材料與器件、地質勘探、病蟲害的防治、災害鑒定、寶石鑒定、工業(yè)生產中的產品質量鑒定及生產工藝控制等。同時臺式掃描電鏡SEM它在特點方面也非常突出，比如擁有非常小的體積和操作簡單易用等。臺式電鏡SEM使用的注意事項：使用的過程中，體積小，使用方便，減少占用空間的同時，讓大家在使用儀器的時候變的更方便；在操作和維護的時候也非常簡單，能夠為使用者減少很多不必要的麻煩，同時也能讓

超高壓XRD衍射圖是如何產生的？2022/09/27

超高壓XRD是基于多晶樣品對X射線的衍射效應，對樣品中各組份的存在形態(tài)進行分析測定的方法.測定的內容包括：各組份的結晶情況，所屬的晶相，晶體的結構，各種元素在晶體中的價態(tài)、成鍵狀態(tài)等。即在測定各種元素在樣品中含量的基礎上，還要進一步確定各種晶態(tài)組分的結構和含量。衍射的概念：波的重要特性：波的疊加性，干涉現(xiàn)象，衍射現(xiàn)象。波的疊加性：當多于一列的同類波在空間相遇并共存時，總的波是各個分波的矢量和，而各個分波相互并不影響，分開后仍然保持各自的性質不變。干涉：由于波的疊加作用，當兩列或兩列以上具有相同頻

鎢燈絲電鏡是一種重要的測量分析儀器2022/09/19

鎢燈絲電鏡是一種重要的測量分析儀器，在很多的實驗室中都離不開鎢燈絲掃描電鏡，出于到位的原理以及性能，鎢燈絲掃描電鏡的使用顯得更加的出色。對于使用者而言選擇合適的鎢燈絲掃描電鏡廠家顯得很重要。它性能是很多人關心的因素，所謂的性能包括兩個因素，包括鎢燈絲掃描電鏡的操作性能以及技術參數(shù)。先是操作性能，在設計機器的過程中操作性能是重點考察的因素，考驗是設備部件之間的相互銜接，能否在測量的過程中更加的操作鎢燈絲掃描電鏡是影響設備性能的關鍵因素。不僅是鎢燈絲掃描電鏡操作性能，鎢燈絲掃描電鏡的測量技術參數(shù)也是

掃描電子顯微鏡在高分子中的常見應用有哪些？2022/09/01

掃描電子顯微鏡（SEM）利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)，在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應用。SEM在高分子中的常見應用：（1）觀察高聚物的形態(tài)和結構；（2）觀察結晶高聚物的晶態(tài)結構；（3）研究材料共混相容性；（4）觀察高分子納米材料結構；（5）表征高分子材料的降解性；（6）研究高分子材料的生物相容性；（7）研究多孔材料表面或斷面的孔特征。和光學顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點：(1)能夠直接觀察樣品表面的結構，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。(2

巖礦分析系統(tǒng)是一種可用于檢測分析的儀器2022/08/27

巖礦的成分測定與分析是地質工作的一個重要組成部分，它的研究對象主要是天然礦產，如巖石、礦物等；主要任務是利用一些技術手段(儀器分析、化學分析等)，對礦物巖石的成分在不同賦存狀態(tài)下的含量及其化學組成進行測定與分析。巖礦成分的測定與分析工作具有重要的意義，如何快速準確的發(fā)現(xiàn)巖礦并給與正確的評價，是廣大地質工作者的重要任務。可以說，巖礦成分的測定與分析工作與我國的社會主義現(xiàn)代化建設有著密不可分的聯(lián)系。巖礦分析系統(tǒng)是一類能使物體離子化，并通過適當?shù)碾妶?、磁場將它們按質荷比分離、檢測分析的儀器。當被測樣品

煤巖分析系統(tǒng)是入廠煤檢驗和優(yōu)化煉焦配煤技術的有效手段！2022/08/19

煤巖分析系統(tǒng)是以應用煤巖學理論為基礎，可測定多個應用煤巖學指標，為合理優(yōu)化配煤提供了有力的數(shù)據支撐，是入廠煤檢驗和優(yōu)化煉焦配煤技術的有效手段！近年來，我國國民經濟的持續(xù)高速發(fā)展刺激了對鋼鐵的需求，同時也拉動了煉焦生產的高速度發(fā)展。焦炭產能的快速擴張導致煉焦煤供應緊張，煉焦煤價格大幅度升高，又由于高爐大型化、噴吹煤粉等技術的應用，對焦炭質量提出了更高的要求，致使煉焦煤供應更加緊張。同時，由于焦炭產能過剩，焦炭價格低迷。焦化行業(yè)面臨著煤炭資源供應緊張和經濟效益低下的雙重壓力，如何合理利用煤炭資源，提

掃描電鏡的工作原理說明2022/08/08

掃描電鏡全稱為掃描電子顯微鏡，由于它具有制樣簡單、放大倍數(shù)可調范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點，故被廣泛地應用于化學、生物、醫(yī)學、冶金、材料、半導體制造、微電路檢查等各個研究領域和工業(yè)部門。工作原理：掃描電鏡是對樣品表面形態(tài)進行測試的一種大型儀器。當具有一定能量的入射電子束轟擊樣品表面時，電子與元素的原子核及外層電子發(fā)生單次或多次彈性與非彈性碰撞，一些電子被反射出樣品表面，而其余的電子則滲入樣品中，逐漸失去其動能，最后停止運動，并被樣品吸收。在此過程中有99%以上的入射電子能量轉變成樣品熱能

掃描電鏡SEM的主要結構說明2022/08/02

掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品,通過光束與物質間的相互作用,來激發(fā)各種物理信息,對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。掃描電鏡具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強、放大倍數(shù)范圍寬以及待測樣品可在三維空間內進行旋轉和傾斜等特點。另外具有可測樣品種類豐富,幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時獲得形貌、結構、成分和結晶學信息等優(yōu)點。掃描電鏡的主要結構：電子光學系統(tǒng)：產生高能電子束的鏡筒，包括

關于臺式掃描電子顯微鏡您了解多少？2022/01/21

電子源發(fā)射的電子束經過電磁透鏡的電子光學通路聚焦，電子源的直徑被縮小到納米尺度的電子束斑，與顯示器掃描同步的電子光學鏡筒中的掃描線圈控制電子束，在樣品表面一定微小區(qū)域內，逐點逐行掃描。電子束與樣品相互作用，從樣品中發(fā)射的具有成像反差的信號，臺式掃描電子顯微鏡由一個適當?shù)膱D像探測器逐點收集，并將信號經過前置放大器和視頻放大器，用調制解調電路調制顯示器上相對應顯示像素的亮度，形成我們人類觀察習慣的，反映樣品二維形貌的圖像或者其他可以理解的反差機制圖像。由于圖像顯示器的像素尺寸遠遠大于電子束斑尺寸，（

高溫環(huán)境XRD的相關內容介紹，這篇文章總結的很詳細了2022/01/17

高溫環(huán)境XRD即X-raydiffraction，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態(tài)等信息的研究手段。X射線是一種波長很短(約為20～0.06nm)的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產生的X射線中，包含與靶中各種元素對應的具有特定波長的X射線，稱為特征（或標識）X射線。x射線是一種具有較短波長的高能電磁波，由原子內層軌道中電子躍遷或高能電子減速所產生。X射線的波長范圍為0.01

巖礦分析系統(tǒng)應該這樣使用！2021/12/28

巖礦分析，顧名思義，就是應用各種礦物學原理與方法，通過礦物的光、電、聲、熱、磁、重、硬度、氣味等以及其主要的化學成分特征，對巖石、礦物樣品、包括光（?。┢⑸捌?、碎屑、粉未進行觀察、鑒定以區(qū)別其他礦物類別，以及研究巖石、礦石的主要礦物組成、礦物成生序列，結構、構造、巖（礦）石類型的技術方法?，F(xiàn)代地球物理學是將數(shù)學、物理、計算機與傳統(tǒng)地學緊密結合的學科；是利用高精度測量儀器探測地球內部結構、動力和演化，進行資源勘查與開發(fā)利用、地質災害預測和防治、工程勘測、生態(tài)環(huán)境保護以及污染監(jiān)測等方面的研究。巖礦

普通掃描電鏡是一種利用電子進行成像的顯微鏡2021/12/20

普通掃描電鏡是一種利用電子進行成像的顯微鏡，由英文ScanningElectronMicroscope直譯得名，簡稱為掃描電鏡。由于電子的德布羅意波長遠小于可見光的波長，掃描電鏡具有比光學顯微鏡高得多圖像分辨率，使我們擁有在亞原子尺度上觀察微觀世界的能力。掃描電鏡噴金幾乎可以對所有類型的樣本進行圖像處理，陶瓷、金屬、合金、半導體、聚合物、生物樣品等。然而，某些特定類型的樣品更具有挑戰(zhàn)性，并且需要操作者進行額外的樣品制備，以便借助掃描電鏡噴金收集高質量圖片。這些額外的步驟包括在樣品中表面濺射一個額

臺式電鏡操作簡單方便2021/11/10

臺式電鏡是一個復雜的系統(tǒng)，濃縮了電子光學技術、真空技術、精細機械結構以及現(xiàn)代計算機控制等技術。是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經過多級電磁透鏡匯集成細小（直徑一般為1~5nm）的電子束（相應束流為10-11~10-12A）。在末級透鏡上方掃描線圈的作用下，使電子束在試樣表面做光柵掃描（行掃+幀掃）。入射電子與試樣相互作用會產生二次電子、背散射電子、X射線等各種信息。臺式電鏡直觀的用戶界面、簡便的觸摸屏控制，以及各項自動調節(jié)功能，使用戶僅需極少的培訓，就可以得到高質量的圖像。將通常電子顯微鏡所

煤巖分析系統(tǒng)技術優(yōu)勢2021/11/02

近年來，我國國民經濟的持續(xù)高速發(fā)展刺激了對鋼鐵的需求，同時也拉動了煉焦生產的高速度發(fā)展。焦炭產能的快速擴張導致煉焦煤供應緊張，煉焦煤價格大幅度升高，又由于高爐大型化、噴吹煤粉等技術的應用，對焦炭質量提出了更高的要求，致使優(yōu)質煉焦煤供應更加緊張。同時，由于焦炭產能過剩，焦炭價格低迷。焦化行業(yè)面臨著煤炭資源供應緊張和經濟效益低下的雙重壓力，如何合理利用煤炭資源，提高企業(yè)經濟效益，滿足鋼鐵工業(yè)持續(xù)發(fā)展是擺在焦化企業(yè)面前的緊迫任務，也是長期任務。煤巖分析系統(tǒng)是用于煤田地質勘探、煤礦開采、洗煤、焦化等部門

淺析SEM掃描電鏡生物樣品制備技術2021/10/23

掃描電子顯微鏡，簡稱為掃描電鏡，英文縮寫為SEM（ScanningElectronMicroscope）。它是用細聚焦的電子束轟擊樣品表面，通過電子與樣品相互作用產生的二次電子、背散射電子等對樣品表面或斷口形貌進行觀察和分析。SEM已廣泛應用于材料、冶金、礦物、生物學等領域。SEM掃描電鏡由電子槍、電磁透鏡、掃描線圈和樣品室等部件組成。作用：獲得掃描電子束、作為產生物理信號的激發(fā)源。為了獲得較高的信號強度和圖像分辨率，掃描電子束應具有較高的亮度和盡可能小的束斑直徑。電子槍利用陰極與陽極燈絲間的高

低溫環(huán)境XRD到底是什么？2021/10/11

低溫環(huán)境XRD已成為了解溫度、氣氛或壓力對材料影響*的技術。除了與研究相關外，這些知識對于優(yōu)化技術流程和進行工業(yè)質量控制也至關重要。通過實時監(jiān)測樣品在不同溫度條件下的結晶情況，分析其衍射圖譜可以得到不同溫度條件下的半峰寬、強度、晶面間距以及晶粒尺寸等信息，從而研究樣品的相變、結晶度變化規(guī)律。低溫環(huán)境XRD采用環(huán)境降溫的方式，溫度探頭測試的為內層密封罩內低溫惰性氣體的溫度，當腔體內溫度達到平衡后，樣品表面的溫度近似與腔體內溫度相等，故此時監(jiān)測的溫度為樣品表面溫度，測試的圖譜為該溫度下樣品相變的真實