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北京歐波同光學技術有限公司

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  • 2025

    01-14

    智能型鎢燈絲掃描電鏡的主要用途

    智能型鎢燈絲掃描電鏡結合了傳統(tǒng)掃描電鏡的高分辨率成像能力與智能化的控制系統(tǒng),具有更高的自動化水平、更強的圖像處理能力以及更多的數(shù)據(jù)分析功能。它能夠提供更加精確、快速和高效的掃描成像,為科學研究和工業(yè)應用提供強有力的支持。智能型鎢燈絲掃描電鏡的主要用途:1、材料科學研究材料科學是應用的一個重要領域。它可以通過高分辨率成像和化學分析,幫助研究人員深入了解各種材料的微觀結構、表面形貌和成分分布。例如,在金屬、合金、陶瓷、復合材料等領域,可用于觀察材料的晶粒結構、缺陷、斷裂面等。2、電子器件和半導體產(chǎn)業(yè)
  • 2025

    01-08

    簡述高性能場發(fā)射掃描電鏡的工作原理

    高性能場發(fā)射掃描電鏡是一種用于觀察材料表面微觀結構的先進電子顯微鏡,廣泛應用于材料科學、生命科學、半導體行業(yè)等領域。它采用場發(fā)射電子源,具有比傳統(tǒng)掃描電鏡(SEM)更高的分辨率和更強的成像能力。其工作原理主要包括電子源、電子束的掃描、樣品與電子束的相互作用、圖像的獲取等過程。高性能場發(fā)射掃描電鏡的工作原理如下:1、電子槍和場發(fā)射源其核心部件之一是電子槍,通常采用場發(fā)射電子源。場發(fā)射電子源與傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子源(如鎢絲陰極)相比,具有更高的亮度和更窄的電子束發(fā)射角度。場發(fā)射電子源的工作原理基于場發(fā)射
  • 2024

    12-25

    FIB雙束掃描電鏡的應用優(yōu)勢是什么?

    FIB雙束掃描電鏡是一種結合了聚焦離子束(FIB)和掃描電子顯微鏡(SEM)的高精度微納加工和分析設備,在試驗時可通過轉(zhuǎn)動試樣臺使試樣表面與電子束或者離子束垂直,從而達到對電子束進行實時觀測和對離子束進行切割或者微加工等效果。應用優(yōu)勢:1、高精度加工:FIB技術可以在不破壞樣品整體結構的情況下,制備出高質(zhì)量的截面樣品,適用于多層互連結構和微小缺陷的分析。2、實時成像監(jiān)控:SEM可以對樣品表面進行實時成像,幫助分析師快速準確地找到異常區(qū)域,定位問題區(qū)域。3、操作靈活性高:FIB雙束掃描電鏡不僅可以
  • 2024

    12-20

    電鏡應用|掃描電鏡下的食品微觀結構

    掃描電子顯微鏡(SEM)是一種應用于各個領域的高分辨率成像儀器,因其優(yōu)異的表征性能和高分辨率的成像能力,廣泛應用于食品微觀結構的表征中。民以食為天,食品是日常生活中不可少的一部分,而食品的微觀結構與品質(zhì)密切相關,因此利用掃描電子顯微鏡對食品進行微觀結構表征具有重要的意義。首先,掃描電子顯微鏡能夠揭示食品中微觀結構的形貌和組織特征。以鹽為例,傳統(tǒng)的光學顯微鏡分辨率和景深都有限,只能觀察到鹽的晶體外觀,而無法揭示其微觀結構和表面形貌。通過掃描電子顯微鏡,可以清晰地觀察到鹽晶體的表面形貌、晶體大小和形
  • 2024

    12-20

    電鏡應用|掃描電鏡在電纜失效分析中的應用

    電連接器在電氣系統(tǒng)中主要應用在電信號的傳輸。復雜的電信號系統(tǒng)由成千上萬個連接器組成。每個連接器的好壞優(yōu)劣直接影響整個系統(tǒng)的功能實現(xiàn),所以連接器失效造成的影響很大,當一根電纜出現(xiàn)失效后需要從連接器到線纜逐一排除問題,發(fā)現(xiàn)根源,進而規(guī)避失效電纜的出現(xiàn)。案例一掃描電鏡作為材料顯微分析的重要工具,廣泛應用于電纜的失效分析。如下圖A電纜,導線在連接器焊點處發(fā)生斷裂。顯微鏡下對斷口進行觀察,斷口表面存在金屬光澤,斷口附近未見機械損傷及腐蝕痕跡,斷口宏觀形貌如下圖所示。圖1:電纜斷口宏觀形貌為了進一步分析失效
  • 2024

    12-20

    電鏡應用|硬質(zhì)合金粉末微觀形貌及元素分析

    掃描電子顯微鏡在硬質(zhì)合金材料中的分析和應用十分廣泛,主要應用于硬質(zhì)合金材料粉末的形貌觀察,均勻性和結晶度觀察,合金組織觀察,斷口分析,微區(qū)成分分析以及涂層厚度測量等。還可以用于深入研究硬質(zhì)合金材料的微觀結構與工藝條件及性能的關系,對材料整個生產(chǎn)鏈的機理研究,工藝研發(fā)和質(zhì)量控制等均可提供指導性的作用。硬質(zhì)合金的原材料硬質(zhì)合金是以一種或幾種難熔碳化物(碳化鎢、碳化鈦等)的粉末,加入作為粘結劑的金屬粉末(鈷、鎳等),經(jīng)過粉末冶金法制得的合金。而硬質(zhì)合金的性能直接取決于其顯微結構,而合金的顯微結構在制造
  • 2024

    12-20

    電鏡應用|橡膠的顯微表征方法

    橡膠制品指以天然及合成橡膠為原料生產(chǎn)各種橡膠制品的活動,還包括利用廢橡膠再生產(chǎn)的橡膠制品。橡膠的種類繁多,用途非常廣泛。橡膠的分類天然橡膠是制作膠帶、膠管、膠鞋的原料,適用于制作減震零件、在汽車剎車油、乙醇等帶氫氧根的液體中使用的制品;丁苯橡膠廣泛用于輪胎業(yè)、鞋業(yè)、布業(yè)及輸送帶行業(yè)等。丁腈橡膠以其優(yōu)異的耐油性著稱,在汽車、航空、石油、復印等行業(yè)中成為不可少的彈性材料,各種密封制品,阻燃制品,與酚醛并用做結構膠粘劑等。其中也用作固體火箭發(fā)動機中的絕熱層材料。圖1:橡膠的分類橡膠絕緣/絕熱材料絕熱層
  • 2024

    12-10

    環(huán)境掃描電子顯微鏡的工作原理介紹

    環(huán)境掃描電子顯微鏡是一種高分辨率的電子顯微鏡,結合了傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡(SEM)和環(huán)境控制技術。與常規(guī)掃描電子顯微鏡相比,它能夠在較高的氣壓下進行成像,因此可以觀察到許多傳統(tǒng)掃描電鏡無法觀察的樣品,如含水樣品、生物樣品和某些濕氣或易揮發(fā)的物質(zhì)。環(huán)境掃描電子顯微鏡的基本工作原理與傳統(tǒng)的掃描電子顯微鏡類似,都是通過電子束與樣品相互作用,產(chǎn)生各種信號來進行成像和分析。它在樣品表面周圍創(chuàng)建了一個可控的環(huán)境,使得樣品可以在較高的氣壓下進行觀察,而不需要在真空環(huán)境中進行。具體來說,環(huán)境掃描電子顯微鏡的工作流
  • 2024

    12-04

    環(huán)境真空掃描電鏡的主要應用領域

    環(huán)境真空掃描電鏡是一種結合了掃描電鏡(SEM)和環(huán)境掃描電鏡技術的儀器,具有較傳統(tǒng)掃描電鏡更高的靈活性和應用范圍。它在多個領域都有廣泛的應用,以下是環(huán)境真空掃描電鏡一些主要的應用領域:1、材料科學:在材料科學中發(fā)揮著重要作用。它可以用于觀察材料的表面形貌、紋理和結構,并研究材料的表面化學成分和反應行為。這對于材料開發(fā)、質(zhì)量控制和故障分析非常關鍵。2生物學:被廣泛應用于生物學研究中。它可以幫助科學家觀察生物樣品的微觀結構,如細胞、組織和生物體的外觀。還可以研究生物樣品的形態(tài)、表面特征和互動過程,以
  • 2024

    11-25

    鎢燈絲掃描電鏡的樣品準備及成像方式

    鎢燈絲掃描電鏡的發(fā)射電流和光斑都比較適中,抗干擾能力和穩(wěn)定性比較好。可在低真空下對非導電樣品進行成像,并可用于形貌觀察、微觀結構分析,以及斷口形貌分析。分析,在材料、地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、機械、化學、化工、物理、電子、生物、醫(yī)藥等領域有著廣泛的用途。樣品準備是鎢燈絲掃描電鏡分析中的重要環(huán)節(jié),樣品的質(zhì)量和處理方法對成像效果有非常大的影響。通常將樣品制成薄片或表面光潔的粒子,用金、銀等容易導電的材料涂覆表面,然后通過真空室將樣品固定在樣品臺上。鎢燈絲掃描電鏡的成像方式有高真空模式、低真空模式和環(huán)境模式等
  • 2024

    11-14

    環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡的基本工作原理

    環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡是一種先進的顯微鏡技術,用于觀察樣品的表面形貌和結構。相比傳統(tǒng)的掃描電子顯微鏡,具有在高濕度、高溫度和高壓環(huán)境下觀察樣品的能力。其工作原理涉及電子束的產(chǎn)生、樣品的準備與處理、電子束與樣品的相互作用以及信號的檢測與處理等多個方面。首先,在環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡中,電子束是通過鎢燈絲產(chǎn)生的。鎢燈絲被加熱至高溫,以致其發(fā)射出電子,形成電子束。這些電子束經(jīng)過一系列電子光學元件,如準直器、聚焦器、透鏡等,被聚焦成一個細束,然后通過電場和磁場的協(xié)同作用,被引導到樣品表面上。這些電子束具有高能量
  • 2024

    11-11

    STEM透射電鏡的主要構成部件有哪些?

    STEM透射電鏡是一種高分辨率的透射電子顯微鏡,主要用于觀察樣品的內(nèi)部結構和原子級別的細節(jié)。它由多個關鍵部件組成,每個部件都起著重要的作用,下面將介紹STEM透射電鏡的主要構成部件:1.電子槍:電子槍是其核心組件,負責產(chǎn)生高能量的電子束。電子槍通常包括熱陰極和加速器,通過加熱陰極產(chǎn)生電子,并通過加速器加速電子束,最終形成高速的電子束用于照射樣品。2.透鏡系統(tǒng):透鏡系統(tǒng)包括對焦透鏡、準直透鏡等,用于聚焦和控制電子束的路徑。透鏡系統(tǒng)的設計和調(diào)節(jié)對于成像的清晰度和分辨率至關重要。3.樣品臺:樣品臺用于
  • 2024

    11-08

    高分辨率掃描電鏡的分辨率受哪些因素影響?

    高分辨率掃描電鏡是一種利用電子束與樣品相互作用來獲得高分辨率圖像的先進技術,它在材料科學、納米技術、生物學等多個領域得到了廣泛應用。相對于其他高分辨率成像技術,它的試樣制備相對簡便,能夠觀察到樣品表面的細微結構和特征。高分辨率掃描電鏡的分辨率受多種因素影響,主要包括以下幾個方面:1、光源:使用的光源越強,分辨率就越高。通常使用的光源有電子束和激光等,電子束具有較高的能量和較小的波長,能夠提供更高的分辨率。2、匯聚光學系統(tǒng):匯聚光學系統(tǒng)包括透鏡、光闌等光學元件,其設計和性能直接影響到分辨率的提高。
  • 2024

    11-05

    環(huán)境掃描電鏡的樣品制備過程是怎樣的?

    環(huán)境掃描電鏡是一種能夠在高濕度和不導電的樣品表面進行觀察的電鏡技術。在制備樣品時,需要采取一系列步驟來確保樣品的表面形貌和結構能夠被清晰地觀察和分析。以下是環(huán)境掃描電鏡樣品制備的基本步驟:1、樣品收集:首先需要從需要研究的環(huán)境中收集樣品,可以是自然環(huán)境中的植物、昆蟲、土壤等,也可以是工業(yè)環(huán)境中的材料、粉塵等。樣品應該被小心地收集并儲存在合適的條件下,以避免樣品表面的損壞或污染。2、樣品處理:在準備樣品之前,需要對樣品進行處理以確保樣品表面的平整和干燥。這包括去除可能存在的雜質(zhì)、塵埃、液滴等,以及
  • 2024

    10-25

    金相磨拋機您使用的正確嗎?

    金相磨拋機是一種研磨設備,它利用各種不同粒度的耐水研磨金相砂紙,對各種金屬及其合金試樣以及各種巖相試樣進行粗磨、精磨、干磨、濕磨等各道研磨工序,作拋光前的粗加工工序,同時可作拋光試樣。可一次性完成磨拋工作,起到一機多用的好處。金相磨拋機的操作流程:1、準備階段:連接進水管,將插頭插入電源插座,啟動電機,檢查電機軸的旋轉(zhuǎn)方向。2、更換砂輪:松開蓋上的螺釘并拆下蓋,然后拆下并更換砂輪(注意安裝時砂輪兩側應墊兩個厚紙墊片)。3、測試夾緊:用支撐板支撐鋸架,將樣品放在鋸架鉗口的前面,順時針轉(zhuǎn)動手柄以夾緊
  • 2024

    10-25

    電鏡應用|Apreo 2表征鋰電池硅基負極材料

    為了提高鋰電池的能量密度,市場急需容量高、成本低廉、可規(guī)模化生產(chǎn)的新型材料。與插層類石墨負極材料相比,Si、Ge、Al、Sb等合金類負極材料具有更高的儲鋰容量。硅基負極材料硅基負極材料的比容量最高,可高達3500mAh/g,是石墨容量的10倍。開發(fā)硅基負極材料的另一個原因是Si是地殼中第二大儲量的元素(質(zhì)量比占28%),表明其具有低成本大量生產(chǎn)的潛力。但是硅基負極材料在鋰的嵌入/脫出過程中體積膨脹(Si的膨脹率甚至達到300%)而導致顆粒粉化,導致電極失效;而且由于Li嵌入/脫出的電化學電位較低
  • 2024

    10-25

    掃描電鏡在隔膜材料中的應用

    鋰離子電池主要由正極材料、負極材料、隔膜和電解液幾部分組成。鋰離子通過電解液在正負極之間來回移動完成電池的充放電過程。其中隔膜在電池中主要起著防止正極與負極接觸,阻隔充放電時電路中的電子通過,允許電解液中鋰離子自由通過,從而實現(xiàn)離子傳導的重要作用。干法隔膜與濕法隔膜隔膜的原材料主要為PE(聚乙烯)或PP(聚丙烯)等烯烴化工原材料。按照工藝可分為干法單向拉伸隔膜、干法雙向拉伸隔膜、濕法隔膜和3層PP/PE/PP復合隔膜,這幾種隔膜的主要區(qū)別在于微孔的成孔機理不同。圖一:隔膜產(chǎn)業(yè)鏈示意圖干法隔膜工藝
  • 2024

    10-20

    聚焦離子束顯微鏡的基本原理及其重要性

    聚焦離子束顯微鏡是一種利用聚焦離子束對材料進行精確加工和成像的技術。這種技術結合了掃描電子顯微鏡的高精度成像能力和離子束的微加工能力,使得它在材料科學、半導體工業(yè)和納米技術領域中具有廣泛的應用。聚焦離子束顯微鏡的基本原理是利用離子源產(chǎn)生的離子束,通過電磁透鏡組聚焦成極細的束流,然后以精確控制的方式照射到樣品表面。離子束與樣品相互作用時,會產(chǎn)生一系列的物理效應,如濺射、注入或化學反應,這些效應可以被用來移除材料、沉積薄膜或修改材料的表面性質(zhì)。同時,二次電子和離子的發(fā)射可以被探測器捕獲,用于生成樣品
  • 2024

    10-17

    FIB雙束掃描電鏡在故障分析中的優(yōu)勢

    隨著科技的飛速發(fā)展,電子設備的復雜性和集成度不斷提高,對故障分析技術的要求也日益增加。傳統(tǒng)的故障分析方法往往難以滿足現(xiàn)代電子器件的高精度和高效率需求。FIB雙束掃描電鏡作為一種先進的分析工具,憑借其優(yōu)勢,在故障分析領域展現(xiàn)出了巨大的潛力。FIB雙束掃描電鏡將聚焦離子束和掃描電子顯微鏡結合在一起,實現(xiàn)了樣品的精確加工和高分辨成像。通過使用鎵離子束對樣品進行局部切割、刻蝕或沉積材料,F(xiàn)IB技術可以在不破壞樣品整體結構的情況下,制備出高質(zhì)量的截面樣品。這一過程對于多層互連結構和微小缺陷的分析尤為重要,
  • 2024

    10-14

    智能型鎢燈絲掃描電鏡在材料科學中的應用

    智能型鎢燈絲掃描電鏡是現(xiàn)代材料科學中重要的分析工具之一。它利用電子束掃描樣品表面,通過電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子和背散射電子來獲得樣品表面的高分辨率圖像。以下是智能型鎢燈絲掃描電鏡在材料科學中的一些具體應用:1、納米材料表征:隨著納米科技的發(fā)展,納米材料的制備和應用越來越廣泛。它可以提供高達納米級別的分辨率,使得研究人員能夠詳細觀察納米粒子的形態(tài)、大小和分布情況。這對于理解納米材料的性能和應用至關重要。2、復合材料分析:在材料科學中,復合材料由兩種或兩種以上不同材料組成,以獲得更優(yōu)異的性能
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