當(dāng)前位置:北京歐波同光學(xué)技術(shù)有限公司>>技術(shù)文章展示
您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)! 登錄| 免費(fèi)注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
當(dāng)前位置:北京歐波同光學(xué)技術(shù)有限公司>>技術(shù)文章展示
2023
05-172023
05-092023
05-092023
05-092023
05-092023
05-092023
05-09掃描電鏡在稀土永磁材料—釹鐵硼領(lǐng)域的應(yīng)用
釹鐵硼永磁材料可分為粘接釹鐵硼永磁材料和燒結(jié)釹鐵硼材料兩種。釹鐵硼磁鐵具有體積小、重量輕和磁性強(qiáng)的特點(diǎn),是迄今為止性能價(jià)格比最佳的磁鐵。NdFeB永磁體由于具有優(yōu)異的永磁特性和高的性價(jià)比被廣泛應(yīng)用在風(fēng)力發(fā)電、新能源汽車及電梯曳引機(jī)中[1]。但由于NdFeB的電化學(xué)電位較負(fù),活性大,加之多相組成易產(chǎn)生電偶加速腐蝕效應(yīng),從而導(dǎo)致NdFeB這一重要的稀土功能材料在服役環(huán)境中極易產(chǎn)生腐蝕損傷[2],進(jìn)而引發(fā)系統(tǒng)故障,甚至產(chǎn)生安全風(fēng)險(xiǎn)。在NdFeB永磁體表面施加有機(jī)涂層和電鍍鋅層是目前被認(rèn)為經(jīng)濟(jì)有效的防護(hù)2023
04-032023
03-20環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡的特點(diǎn)和工作原理介紹
環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡(EnvironmentalScanningElectronMicroscope,ESEM)是一種可以進(jìn)行高分辨率成像的電子顯微鏡。與傳統(tǒng)的掃描電子顯微鏡不同的是,ESEM具有一個(gè)特殊的樣品室,可以在高濕度、高溫度和低真空等環(huán)境條件下進(jìn)行成像,因此適用于觀察生物、材料、環(huán)境等多種樣品。ESEM使用鎢燈絲作為電子源,通過調(diào)節(jié)電子束和壓強(qiáng),可以觀察到各種樣品的表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)。ESEM的樣品室參數(shù)能夠控制濕度、氣體組成、溫度等參數(shù),并能夠?qū)Τ上駞^(qū)域進(jìn)行局部噴霧,便于觀察水溶性樣品2023
03-202023
03-202023
02-072023
02-07參與新標(biāo)準(zhǔn)修訂,賦能高質(zhì)量發(fā)展
近日,GBT30834《鋼中非金屬夾雜物的評定和統(tǒng)計(jì)掃描電鏡法》修訂完成。北京歐波同光學(xué)技術(shù)有限公司立足自身技術(shù)優(yōu)勢,積極參與行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的制修訂和科技創(chuàng)新工作,賦能高質(zhì)量發(fā)展,為鋼鐵行業(yè)的技術(shù)創(chuàng)新提供有力支撐。國家標(biāo)準(zhǔn)《鋼中非金屬夾雜物的評定和統(tǒng)計(jì)掃描電鏡法》由TC183(全國鋼標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì))歸口,TC183SC14(全國鋼標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)金相檢驗(yàn)方法分會(huì))執(zhí)行,主管部門為中國鋼鐵工業(yè)協(xié)會(huì)。主要起草單位為首鋼集團(tuán)有限公司、冶金工業(yè)信息標(biāo)準(zhǔn)研究院、北京歐波同光學(xué)技術(shù)有限公司、江陰興澄特種鋼鐵有限2023
02-072023
02-072023
02-06關(guān)于金相磨拋機(jī)的使用注意事項(xiàng)
關(guān)于金相磨拋機(jī)的使用注意事項(xiàng)金相磨拋機(jī)是從事實(shí)驗(yàn)室工作的朋友會(huì)經(jīng)常接觸的一種金相設(shè)備,在金相制樣中,磨拋是不可忽視的重要一環(huán),這一過程的好壞會(huì)直接影響到最終樣品的檢測結(jié)果,因此對于金相磨拋機(jī)的使用方法及具體步驟也就比較重要了,下面為大家簡單講解關(guān)于金相磨拋機(jī)的使用方法及具體步驟。一、研磨1.將水磨砂紙浸濕,平放在研磨盤中。2.打開左盤水開關(guān),并調(diào)整好水流。3.開電源開關(guān),金相磨拋機(jī)研磨逆時(shí)針方向旋轉(zhuǎn)。4.將切割好的試樣用力持住,并輕輕靠近砂紙,待試樣和砂紙接觸良好并無跳動(dòng)時(shí),可用力壓住試樣進(jìn)行研2023
01-06透射電鏡和掃描電鏡的特點(diǎn)及應(yīng)用(越全越好)
1、透射電子顯微鏡電子束的波長要比可見光和紫外光短得多,并且電子束的波長與發(fā)射電子束的電壓平方根成反比,也就是說電壓越高波長越短。透射電子顯微鏡在材料科學(xué)、生物學(xué)上應(yīng)用較多。由于電子易散射或被物體吸收,故穿透力低,樣品的密度、厚度等都會(huì)影響到最后的成像質(zhì)量,必須制備更薄的超薄切片,通常為50~100nm。所以用透射電子顯微鏡觀察時(shí)的樣品需要處理得很薄。常用的方法有:超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對于液體樣品,通常是掛預(yù)處理過的銅網(wǎng)上進(jìn)行觀察。2、掃描電鏡的特點(diǎn):有較高的放2022
12-072022
11-11認(rèn)識(shí)FIB雙束掃描電鏡,從認(rèn)識(shí)它的工作原理開始
FIB雙束掃描電鏡具有高性能成像和分析性能。它經(jīng)過精心設(shè)計(jì),以滿足材料科學(xué)研究人員和工程師使用FIB-SEM的需求。它重新定義了高分辨率成像的標(biāo)準(zhǔn),引入了一種新的精細(xì)圖像調(diào)節(jié)功能FLASH(閃爍)技術(shù)。FIB雙束掃描電鏡只需在用戶界面中操作鼠標(biāo)即可“實(shí)時(shí)”執(zhí)行散光、鏡頭對中和圖像對焦。自動(dòng)調(diào)整可以顯著提高通量、數(shù)據(jù)質(zhì)量并簡化高質(zhì)量圖像的獲取。所有人員操作都非常方便,只有經(jīng)過短期培訓(xùn)才能使用。FIB雙束掃描電鏡的工作原理:雙束聚焦離子束系統(tǒng)可以簡單地理解為單束聚焦離子光束系統(tǒng)和普通掃描電鏡的耦合。2022
11-10以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé),化工儀器網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
溫馨提示:為規(guī)避購買風(fēng)險(xiǎn),建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。