當(dāng)前位置:蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司>>技術(shù)文章展示
您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)! 登錄| 免費(fèi)注冊(cè)| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
當(dāng)前位置:蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司>>技術(shù)文章展示
2022
10-122022
10-122022
10-122022
10-112022
10-112022
10-11采用熔融玻璃片法樣品制備---XRF光譜儀礦石分析儀測定鋁土礦
采用熔融玻璃片法樣品制備---XRF光譜EDX9000Bplus礦石分析儀測定鋁土礦在本實(shí)驗(yàn)應(yīng)用案例中,鋁土礦的成分(MgO,Al2O3,SiO2,K2O,CaO,TiO2,MnO和Fe2O3)通過X射線能量色散光譜EDX9000Bplus分析確定。該算法使用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法EC來分析10個(gè)熔融玻璃片標(biāo)準(zhǔn)樣品,相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差(RSD)小于3.1%。對(duì)鋁土礦標(biāo)準(zhǔn)樣品RM301,RM303和RM305進(jìn)行驗(yàn)證后,分析結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)值一致,表明該方法具有較高的準(zhǔn)確性。介紹鋁土礦是制造耐火材料,磨料,化學(xué)藥品,高鋁2022
10-11X熒光光譜儀EDX6000測金儀在測定珠寶首飾貴金屬及黃金含量的應(yīng)用
X熒光光譜儀EDX6000測金儀測定珠寶首飾貴金屬及黃金含量引言能量色散X射線熒光光譜測金儀(EDXRF)技術(shù)是用于貴金屬元素分析和鑒定卡拉的通用和應(yīng)用廣泛的分析方法之一??梢栽诙虝r(shí)間內(nèi)以高精度,高精度和可靠性對(duì)所有貴金屬進(jìn)行分析。憑借其簡單,無損,速度,可負(fù)擔(dān)性和可靠性的優(yōu)勢,明顯優(yōu)于傳統(tǒng)的濕化學(xué)法(例如,火焰測定法)和其他光譜法。現(xiàn)代技術(shù)的發(fā)展也有助于將EDXRF納入珠寶應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)測試方法中。本應(yīng)用筆記證明EDX6000測金儀已經(jīng)足夠成熟,可以對(duì)金值以及K值建立清晰的定性和定量表征。校準(zhǔn)曲線2022
10-11XRF分析測厚儀在金屬薄膜鍍層厚度和成分分析的應(yīng)用
X射線測厚儀EDX8000B---金屬薄膜鍍層厚度和成分分析EDX8000B鍍層測厚儀應(yīng)用于金屬電鍍鍍層分析領(lǐng)域技術(shù)指標(biāo)多鍍層分析,1~5層;測試精度:0.001μm;元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U);測量時(shí)間:10~30秒;SDD探測器,能量分辨率為125±5eV;探測器Be窗0.5mil(12.7μm);微焦X射線管50kV/1mA,銠靶;8個(gè)準(zhǔn)直器及多個(gè)濾光片自動(dòng)切換;高清CCD攝像頭(500萬像素),準(zhǔn)確監(jiān)控位置;多變量非線性去卷積曲線擬合;高性能FP無標(biāo)樣分析軟件;測厚儀,專業(yè)表面處2022
10-112022
10-11XRF熒光光譜地礦分析儀應(yīng)用于地質(zhì)地礦礦石樣品制備方法和要點(diǎn)
XRF熒光光譜地礦分析儀應(yīng)用于地質(zhì)地礦礦石樣品制備方法和要點(diǎn)近年來觀察到的X射線熒光(XRF)地礦分析儀分析方法和技術(shù)方面的進(jìn)步使對(duì)幾乎所有類型的X射線熒光光譜地礦分析儀進(jìn)行元素分析成為可能材料,包括環(huán)境來源的材料。環(huán)境的巨大增長最近十年來進(jìn)行分析的主要原因是必須評(píng)估我們的環(huán)境質(zhì)量-這需要可靠的分析數(shù)據(jù)。從質(zhì)量保證的角度來看,所有分析測量中的關(guān)鍵要素實(shí)踐是采樣和樣品制備程序,這通常是整個(gè)分析中最耗時(shí)的步驟。抽樣中的主要問題必須是樣本具有代表性,這意味著所取樣品必須反映待評(píng)估的全部材料的整體成分。2022
10-102022
10-10能量色散X熒光分析儀測量古陶瓷(古董)中的主要元素化學(xué)組成
能量色散X熒光分析儀EDX9000plus測量古陶瓷(古董)中的主要元素化學(xué)組成前言中國古陶瓷不僅歷史悠久,而且生產(chǎn)地區(qū)廣闊。真是代有名瓷,地有特色。很久以來就吸引著國內(nèi)外收藏家、觀賞家和各大博物館的高度重視。由于中國古陶瓷在歷史、文化藝術(shù)和科技上的突出成就,歷來就價(jià)格不菲并出現(xiàn)仿制品,特別是近來利用現(xiàn)代科技手段精仿的各類名瓷更層出不窮。而正是由于如此對(duì)于古陶瓷的科學(xué)分析才有著舉足輕重的意義。一儀器硬件技術(shù)要求1.根據(jù)所測試的化學(xué)成份元素種類,儀器必須配置抽真空樣品腔2.再者由于其樣品的特殊性和2022
10-102022
10-102022
10-09多元素分析儀XRF光譜無損快速分析檢測各類礦石礦產(chǎn)樣品
多元素分析儀XRF光譜EDX9000B-plus無損快速分析檢測各類礦石礦產(chǎn)樣品元素分析儀,是指同時(shí)或單獨(dú)實(shí)現(xiàn)樣品中多種種元素的分析的儀器。各類元素分析儀雖結(jié)構(gòu)和性能不同,而性能各異。新款元素分析儀EDX9000B基于XRF光譜無損檢測技術(shù),已越來越受到市場歡迎。英飛思科學(xué)儀器的元素分析儀EDX9000B,從2016年開始商業(yè)化發(fā)布。2017年底推出的新型號(hào)9000Bplus,集十多年的專業(yè)技術(shù)經(jīng)驗(yàn)、創(chuàng)新、科技進(jìn)步于一體的全新一代元素分析儀。目前擁有眾多客戶和良好口碑,是目前市場上可靠和準(zhǔn)確的元2022
10-09XRF熒光鍍層測厚儀在金屬鍍層定性和定量分析中的應(yīng)用?
XRF熒光膜厚儀鍍層測厚儀EDX8000B在金屬鍍層定性和定量分析中的應(yīng)用?X射線熒光光譜(XRF)鍍層測厚儀EDX8000B廣泛應(yīng)用于在鍍層中的定性和定量分析。我們對(duì)檢測步驟進(jìn)行了測量和優(yōu)化.該方法采用每個(gè)元素*的特征X射線來確定是否沉積上某種元素;利用FP法快速測定一組在不同濃度的電解液中電沉積所得鍍層中的銅元素含量,結(jié)果表明該方法可以快速測定鍍層中元素含量的變化,該方法具有測試準(zhǔn),投入少,易掌握,速度快等特點(diǎn)X-RAY測厚儀EDX8000B的基本原理X射線廣泛用于各種無損檢測。除了常見的穿2022
10-092022
10-092022
10-09XRF元素分析儀用于珠寶首飾及兒童玩具Cd、Hg 和 Pb重金屬分析
EDX8000元素分析儀用于珠寶首飾及兒童玩具Cd鎘、Hg汞和Pb鉛重金屬分析Cd、Hg和Pb等金屬已用于塑料的制造過程產(chǎn)品以降低制造成本,因?yàn)槔玢t酸鉛比有機(jī)顏料,并提供耐用、明亮和靈活的產(chǎn)品。當(dāng)這些物質(zhì)被此外,它們不與產(chǎn)品的分子結(jié)合,而是在產(chǎn)品中形成懸浮液固體塑料聚合物。隨著時(shí)間的推移,這些化學(xué)添加劑可能會(huì)釋放到環(huán)境中或滲入接觸過受污染產(chǎn)品的兒童的皮膚,造成有害的健康和環(huán)境問題。需要有效監(jiān)測這些受污染產(chǎn)品的進(jìn)口和銷售非常關(guān)鍵。輕巧、便攜、準(zhǔn)確和XRF等實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)生成分析工具可以快速識(shí)別和量化塑2022
10-09以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé),化工儀器網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
溫馨提示:為規(guī)避購買風(fēng)險(xiǎn),建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。