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EXF鍍層測厚儀主要用于金屬材料表面涂鍍層厚度的測量,一般常采用無損檢測方法。但是,由于測量對象、測量方法、測量環(huán)境、儀器設(shè)備等因素引進了諸多測量誤差,為確保測量結(jié)果的準(zhǔn)確可靠,有必要對其進行不確定度分析。
本產(chǎn)品能同時測量磁性基材表面(如鋼和鐵)的非磁性涂鍍層(如油漆、陶瓷、鉻等),以及非磁性金屬基材表面的非導(dǎo)電鍍涂層(如油漆等)。本儀表內(nèi)置高精密一體化探頭,同時運用電磁感應(yīng)和渦流效應(yīng)兩種原理,自動檢測基材屬性并探測涂鍍層厚度,并通過點陣液晶快速顯示結(jié)果。同時,測量數(shù)據(jù)可分組保存,并實時顯示統(tǒng)計值。用戶可分別為每組設(shè)置上下限報警值、零校準(zhǔn)、多點校準(zhǔn)。全新的多點校準(zhǔn)和零校準(zhǔn),讓您非常方便的隨時進行校準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)化菜單,確保您非常容易的使用它。
塑料制品工業(yè)鍍層、電子材料鍍層(接插件、半導(dǎo)體、線路板、電容器等)、鋼鐵材料鍍層(鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等)、有色金屬材料鍍層(銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等)、其它各種鍍層厚度的測量及成分分析。
EXF鍍層測厚儀采用X熒光分析技術(shù),可以測定各種金屬鍍層的厚度,包括單層、雙層、多層及合金鍍層等,可以進行電鍍液的成分濃度測定。
EXF鍍層測厚儀是能譜分析方法,屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時,其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線,不同的元素有不同的特征X射線;探測器探測到這些特征X射線后,將其光信號轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號;經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并送入計算機進行處理;計算機*的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息,通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。
EXF鍍層測厚儀能檢測出常見金屬鍍層厚度,無需樣品預(yù)處理;分析時間短,僅為數(shù)十秒,即可分析出各金屬鍍層的厚度;分析測量動態(tài)范圍寬,可從0.005μm到60μm。
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