LNP系列高低溫探針臺為小尺寸樣品測量電特性提供高精度可控測量環(huán)境。
應(yīng)用方向:
探針臺可實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)可靠的測試與測量分析，幫助精準(zhǔn)測量
和分析判斷晶圓器件的性能，包括提供材料/器件的IV/CV特
性測試、LD/LED/PD的光強(qiáng)/波長測試，射頻特性器件失效分
析，芯片內(nèi)部線路/電極/PAD測試等技術(shù)解決方案
探針臺是一種測試設(shè)備，用于測試電子元器件、電路板或系統(tǒng)的性能和功能。探針臺通常包括一個平臺，上面裝有用于連接和測試待測試物品的探針。通過探針臺，可以快速、準(zhǔn)確地檢測出待測試物品的各種參數(shù)和功能，幫助提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。在電子制造和測試領(lǐng)域，探針臺被廣泛應(yīng)用。
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