TEB-225PF-10C高低溫快速溫變試驗箱可程式

一般以常溫→低溫→低溫停留→高溫→高溫停留→常溫作為一個循環(huán). 具體如下：

• 降溫階段：將樣品從常溫逐漸降溫至的低溫狀態(tài)，降溫速率通常較快，一般要求≥3℃/min，常見的降溫速率有 5℃/min、10℃/min、15℃/min 等.

• 低溫停留階段：樣品在低溫狀態(tài)下保持一段時間，以便讓產(chǎn)品充分適應低溫環(huán)境，使可能存在的問題在低溫條件下暴露出來，停留時間根據(jù)不同的產(chǎn)品和試驗要求而定

• 升溫階段：將樣品從低溫狀態(tài)快速升溫至高溫狀態(tài)，升溫速率同樣較快，如 10℃/min、15℃/min、20℃/min 等，快速的升溫過程可以進一步考驗產(chǎn)品在溫度急劇變化時的性能.

• 高溫停留階段：樣品在高溫狀態(tài)下維持一定時間，觀察產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的工作狀態(tài)和性能變化，停留時間的長短也因產(chǎn)品和試驗要求而異

TEB-225PF-10C高低溫快速溫變試驗箱可程式

試驗參數(shù)

• 溫度范圍：快速溫變試驗的溫度范圍較廣，一般從 - 70℃到 + 180℃不等，具體的溫度范圍取決于被測產(chǎn)品的預期工作環(huán)境和相關(guān)標準要求，民用電子產(chǎn)品常見的溫度范圍可能是 - 40℃到 + 85℃

• 停留時間：低溫和高溫停留時間的長短會影響試驗的嚴酷程度，停留時間越長，產(chǎn)品在溫度下所受的考驗就越充分，一般根據(jù)產(chǎn)品的特性和試驗目的來確定，從幾分鐘到幾小時不等

• 循環(huán)次數(shù)：循環(huán)次數(shù)是指樣品完成從常溫到低溫再到高溫最后回到常溫的完整循環(huán)的次數(shù)，循環(huán)次數(shù)越多，對產(chǎn)品的可靠性評估就越全面，但試驗時間也會相應延長，通常根據(jù)產(chǎn)品的使用要求和可靠性目標來確定循環(huán)次數(shù)

電子產(chǎn)品如電腦、手機、家電等在使用過程中也會遇到溫度變化的情況，快速溫變試驗可以幫助企業(yè)篩選出質(zhì)量可靠的電子元器件，提高電子產(chǎn)品的性能和使用壽命，同時也可用于評估整機產(chǎn)品在溫度變化條件下的工作穩(wěn)定性