測(cè)試方法：據(jù)檢測(cè)試件的厚度及標(biāo)準(zhǔn)要求選擇合適的試塊，將選用已校驗(yàn)好的雙晶直探頭置于示意圖中a位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2平底孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第一點(diǎn)。探頭置于示意圖中b位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2平底孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖中c位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2平底孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第三點(diǎn)，以此類推直至范圍可覆蓋檢測(cè)厚度（至少測(cè)試三點(diǎn)），并將以上各點(diǎn)連成一條曲線，此曲線即為雙晶直探頭距離-波幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。在此基礎(chǔ)上增益6dB作為掃查靈敏度。