大視野一鍵拼接閃測量儀 快速影像測量TSE-432
大拼接閃測儀廣泛應(yīng)用于航空航天、汽車電子、半導(dǎo)體、鐘表、手機零部件等眾多行業(yè)。在航空航天領(lǐng)域，可用于測量飛機結(jié)構(gòu)件等大尺寸高精度零部件；在汽車電子行業(yè)，能對汽車覆蓋件、發(fā)動機零部件等進行快速測量；在半導(dǎo)體行業(yè)，可測量晶圓、芯片等。
TSE-400系列拼接式閃測儀采用雙遠心光學(xué)系統(tǒng)，結(jié)合高精度圖像拼接測量算法。在CNC模式下，任意放置工件后，只需按一下啟動鍵，即可快速完成尺寸測量和評價，能快速測量產(chǎn)品的平面尺寸和形位公差。儀器量測測量效率是傳統(tǒng)影像儀器的10-20倍。
大視野一鍵拼接閃測量儀 快速影像測量TSE-432
| 項目 | 參數(shù) | ||
| 型號 | TSE-432 | TSE-542 | |
| 測量范圍 | 拼接范圍 | 400*300mm | 500*400mm |
| 單視野 | 82*55mm | 82*55mm | |
| Z軸移動范圍 | 200mm | ||
| 測量精度 | 有拼接 | ±(4.5+L/150)μm | ±(4.5+L/150)μm |
| 無拼接 | ±3μm | ±3μm | |
| *標準件為被測產(chǎn)品 | |||
| 光學(xué)鏡頭 | 雙遠心光學(xué)鏡頭 | ||
| 圖像傳感器 | 2000萬像素 | ||
| 軟件 | 基于機器學(xué)習(xí)的圖像輪廓匹配算法 | ||
| 亞像素精度幾何測量算法 | |||
| 非線性光學(xué)系統(tǒng)畸變校正算法 | |||
| 多核、多 CPU、GPU 等圖像加速處理算法 | |||
| 外形尺寸 | 1100mm * 690mm * 1800mm | 1200mm * 790mm * 1800mm | |
| 電源 | AC 220V±10% 50Hz | ||
| 環(huán)境要求 | 溫度(T)：20±2℃；相對濕度(RH)：30--80% | ||
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