| EDX-GP 能量色散型X射線熒光分析裝置 |
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EDX-GP 能量色散型X射線熒光分析裝置 日本島津 產(chǎn)品信息： *次使用，也能輕松操作，操作簡(jiǎn)便且以更高的精度進(jìn)行微量分析，達(dá)到zui高靈敏度與*分辨率的*結(jié)合。 標(biāo)準(zhǔn)配置RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析所需的所有必要功能，用戶無(wú)需購(gòu)買特殊選購(gòu)件，使可以獲得*RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析系統(tǒng) 。
|  SET 1
操作簡(jiǎn)便，一個(gè)指令即可開始全自動(dòng)測(cè)定。 測(cè)定條件的選擇過(guò)去一直依賴操作者的判斷，現(xiàn)在改由裝置自動(dòng)判斷，即使初學(xué)者也可簡(jiǎn)便·高精度地測(cè)定。 |
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| SET 2 | 放置樣品 | ● | 將樣品放在分析位置，利用樣品圖像觀察裝置確認(rèn)分析位置。 | ● | 選擇分析區(qū)域。 | ● | 關(guān)閉樣品室。 |
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| 選擇分析條件／輸入樣品名稱 | ● | 一個(gè)畫面中可以同時(shí)顯示樣品圖像、選擇分析條件、輸入樣品名稱。 | ● | 點(diǎn)擊開始。 |
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SET 3 |  |
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| 顯示分析結(jié)果 | ● | 測(cè)定結(jié)束后，畫面上將清楚顯示5種元素的［合格判定］、［含量］、［3σ（測(cè)定偏差）］。 | ● | 點(diǎn)擊即可顯示［結(jié)果列表］或［創(chuàng)建報(bào)告書］。 |
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| 只需1次點(diǎn)擊，便可根據(jù)預(yù)先登錄的分析條件， 自動(dòng)執(zhí)行從測(cè)定到結(jié)果的一系列操作。 |
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| ■ 校準(zhǔn)曲線自動(dòng)選擇功能  |
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| 不含有害元素時(shí)，測(cè)定過(guò)程中能夠判定結(jié)果時(shí)，即自動(dòng)終止測(cè)定，縮短分析時(shí)間。 |
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| ■ 省時(shí)功能 |
| 不含有害元素時(shí) |
| 不含有害元素時(shí)，測(cè)定過(guò)程中能夠判定結(jié)果時(shí)，即自動(dòng)終止測(cè)定，縮短分析時(shí)間。 | ■ 適用省時(shí)功能的縮短時(shí)間示例 |
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| | 含量低于檢出下限值時(shí)，判斷不含有，測(cè)定自動(dòng)結(jié)束。上述樣品中Pb、Cd的含量均低于檢出下限，與設(shè)定的200秒（=100秒＋100秒）分析時(shí)間相比，僅用了50秒（=25秒＋25秒）即結(jié)束分析，大幅度節(jié)約了時(shí)間。 | | 有害元素含量高時(shí) |
| 由設(shè)定的目標(biāo)管理精度自動(dòng)決定測(cè)定時(shí)間。 在測(cè)定精度達(dá)到管理值時(shí)結(jié)束測(cè)定。 | ■ 適用省時(shí)功能的縮短時(shí)間示例 |
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| 測(cè)定高濃度元素時(shí)，在比設(shè)定的測(cè)定時(shí)間更短的時(shí)間內(nèi)即可獲得高強(qiáng)度，而且誤差變小，由此可以大幅縮短時(shí)間。上述樣品中Pb：7600ppm、Cd：52ppm,設(shè)定的分析時(shí)間為200秒（=100秒＋100秒），實(shí)際僅用了40秒（=15秒＋25秒）即結(jié)束分析，大幅度節(jié)約了時(shí)間。 |
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| 本裝置配置了RoHS/ELV檢測(cè)中*zui高的EDX－720型的半導(dǎo)體檢測(cè)器、濾光片及高計(jì)數(shù)率電路。 |
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| 為什么需要高靈敏度？ |
| 能夠測(cè)定更微量的元素。 測(cè)定時(shí)間更短，因此相同時(shí)間內(nèi)測(cè)定數(shù)量更多。 |
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| | ■鹵素系列阻燃劑中微量Cd |
|  〔keV〕
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| | | 為什么需要高分辨率？ |
| 可以減輕目標(biāo)元素附近的其他共存元素的重疊影響。 |
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| | ■ 鹵素系列阻燃劑中微量Pb |
|  〔keV〕
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| | | 為什么需要高精度？ |
| 在IEC提出的合格判定中，分析裝置的重現(xiàn)性對(duì)判定結(jié)果有很大的影響，重現(xiàn)性越好（即測(cè)定精度越高），合格判定的準(zhǔn)確度就越高。 |
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| 利用濾光片提高靈敏度／還可以進(jìn)行高靈敏度的無(wú)鹵素分析 | 
| 標(biāo)準(zhǔn)配備了5種濾光片，可降低、除去形成背景成分的X射線管的散射線，提高檢測(cè)靈敏度。 本裝置在RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析中會(huì)自動(dòng)選擇3種zui合適的濾光片，進(jìn)行高靈敏度測(cè)定?！?/span> |
| | 受X射線管Rh的特征X射線影響的Cl也可以測(cè)定 |
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| 微量成分：Cl（除去特征X射線） | 利用濾光片提高檢測(cè)靈敏度 |
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| 微量成分：Pb（背景降低） |
| | 濾光片條件靈活，滿足客戶要求 |
| 如果您希望在短時(shí)間內(nèi)對(duì)多個(gè)樣品進(jìn)行測(cè)定，推薦使用單個(gè)濾光片進(jìn)行高速分析。 |
| | <由單個(gè)濾光片進(jìn)行高速分析> 測(cè)定時(shí)間：100秒 |
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| 如果您希望對(duì)微量元素進(jìn)行高靈敏測(cè)定，可以選擇各種濾光片進(jìn)行高靈敏度分析。 與單個(gè)濾光片高速分析相比，靈敏度約提高2～3倍。 |
| | <由濾光片進(jìn)行高靈敏度分析> 測(cè)定時(shí)間：300秒（100秒×3通道） |
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| EDX-GP標(biāo)準(zhǔn)配備了RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析所需的所有必要功能，用戶無(wú)需購(gòu)買特殊選購(gòu)件，就可以獲得*RoHS/ELV/無(wú)鹵素分析系統(tǒng)。 | 標(biāo)準(zhǔn)配置改變照射直徑的準(zhǔn)直器＆樣品圖像觀察組件 |
| 測(cè)定異物或者測(cè)定包含多個(gè)部位的樣品時(shí)，通過(guò)樣品圖像觀察組件在觀察樣品的同時(shí)，可以簡(jiǎn)單的設(shè)定分析位置。測(cè)定小樣品或樣品中特定位置時(shí)，可以使用準(zhǔn)直器，更改X射線照射區(qū)域。 （1, 3, 5, 10 ｍｍφ） | 
10mmφ?qǐng)D像（塑膠） | | 
3mmφ（金屬） | | | 形狀校正功能 |
| 即使含量相同的樣品，在形狀和厚度不同時(shí)，X射線強(qiáng)度將發(fā)生變化，得到的定量值也會(huì)受到影響，EDX-GP通過(guò)使用BG內(nèi)標(biāo)法*，可以排除形狀和厚度的影響，取得高精度結(jié)果。
※ | BG內(nèi)標(biāo)法 通過(guò)散射X射線強(qiáng)度使各元素的X射線熒光強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)化的一種校正方法。 |
|  | | 測(cè)定結(jié)果列表管理 |
| 創(chuàng)建列表功能 |
| 已保存數(shù)據(jù)可以用Excel形式列表顯示。 |  |
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| 超大樣品室可以對(duì)應(yīng)各種樣品形態(tài)及大小。 | 采用超大樣品室 |
| zui大可以放置370mm長(zhǎng)×320mm寬×155mm高的大型樣品，令緊湊型機(jī)身*。 |  |
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