XDLM系列膜厚儀采用數(shù)學FP法，采用激光自動對焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對焦時造成一起的損壞。帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在複雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實現(xiàn)簡便測量的可能性。在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較複雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣精準測量。XDL系列膜厚儀可適用于各種樣品，從較厚的樣品（機械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件、表、端子、小螺絲、螺絲帽、一些電氣產(chǎn)品中的小五金零件等等等 。XDLM系列膜厚儀（菲希爾）配備微焦距XRAY管，四個電動移動準值器，尺寸為圓形直徑0.1MM；0.2MM；及方形的0.05MM*0.05MM；0.03MM*0.2MM，還有三個基本濾片選用，使光譜圈更合適分析，基本操作軟件WINFTM V6 LIGHT，可以同時間測量多至層鍍層、或進行多至5元素的合金分析、又或是zui多測量兩個正離子的藥水濃度測量分析。

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