磁柵;磁尺;磁力尺;磁柵尺;磁柵測量系統(tǒng);直線磁柵;磁柵數(shù)顯;非接觸式測量;龍門數(shù)顯;龍門數(shù)顯改造;長度測量;圓磁柵;磁環(huán);角度測量;光柵;光柵尺;光柵數(shù)顯;金屬光柵;開放式光柵;敞開式光柵;探針;探規(guī);編碼器;圓光柵;手脈;電子手輪;脈沖產(chǎn)生器;SSI數(shù)顯表;SSI信號轉(zhuǎn)換;信號轉(zhuǎn)換器;接口界面;追剪;飛剪;飛鋸;追鋸;同步控制器;運(yùn)動控制卡;軸控卡;多軸控制卡;數(shù)控系統(tǒng);激光切割系統(tǒng);水刀系統(tǒng);海棉切割系統(tǒng);ELGO;MKS;GIVI;JENA;GALIL;Z15;Z16;P88;P87
產(chǎn)品簡介
應(yīng)用:
直線度檢測
平面度檢測
幾何公差測量
硅晶片的厚度測量
量塊校準(zhǔn)
直線導(dǎo)軌的誤差測量
計量和生產(chǎn)控制
量塊校準(zhǔn)和測量設(shè)備的檢查
多點檢測設(shè)備
位置測量
產(chǎn)品規(guī)格
規(guī) 格:NT 12; NT 30
測量范圍:12 mm; 30 mm
分 辨 率:0.05µm; 0.1µm; 0.2µm; 0.5µm; 1.0µm
移動速度:Max: 72m/min
參考點位置:上極限以下 5 ± 0.5mm 處
精度等級:±1 µm
測桿驅(qū)動方式:手 動 / 氣 動
防護(hù)等級:IP 64
輸出信號:1Vpp/11µApp/RS 422
電源電壓:DC 5V±10%
線 長: 標(biāo)準(zhǔn): 1.5m (Max: 30m )
產(chǎn)品優(yōu)點
全行程測量精度高— ± 1 µm
重現(xiàn)性高— 0.05 µm
專為工業(yè)環(huán)境設(shè)計—防護(hù)等級IP64
結(jié)構(gòu)緊湊,安裝方便快捷
多種結(jié)構(gòu)配置可供選擇
堅固的設(shè)計—高的機(jī)械和熱穩(wěn)定性
為多點式測量設(shè)備特別設(shè)計
簡化檢測裝置的構(gòu)造
無需反復(fù)校準(zhǔn),測量*穩(wěn)定
球型探頭可承受較大的徑向力且摩擦力很小
主要市場
半導(dǎo)體設(shè)備,各種需要高精度、小行程的檢測設(shè)備
應(yīng)用:
直線度檢測
平面度檢測
幾何公差測量
硅晶片的厚度測量
量塊校準(zhǔn)
直線導(dǎo)軌的誤差測量
計量和生產(chǎn)控制
量塊校準(zhǔn)和測量設(shè)備的檢查
多點檢測設(shè)備
位置測量
產(chǎn)品規(guī)格
規(guī) 格:NT 12; NT 30
測量范圍:12 mm; 30 mm
分 辨 率:0.05µm; 0.1µm; 0.2µm; 0.5µm; 1.0µm
移動速度:Max: 72m/min
參考點位置:上極限以下 5 ± 0.5mm 處
精度等級:±1 µm
測桿驅(qū)動方式:手 動 / 氣 動
防護(hù)等級:IP 64
輸出信號:1Vpp/11µApp/RS 422
電源電壓:DC 5V±10%
線 長: 標(biāo)準(zhǔn): 1.5m (Max: 30m )
產(chǎn)品優(yōu)點
全行程測量精度高— ± 1 µm
重現(xiàn)性高— 0.05 µm
專為工業(yè)環(huán)境設(shè)計—防護(hù)等級IP64
結(jié)構(gòu)緊湊,安裝方便快捷
多種結(jié)構(gòu)配置可供選擇
堅固的設(shè)計—高的機(jī)械和熱穩(wěn)定性
為多點式測量設(shè)備特別設(shè)計
簡化檢測裝置的構(gòu)造
無需反復(fù)校準(zhǔn),測量*穩(wěn)定
球型探頭可承受較大的徑向力且摩擦力很小
主要市場
半導(dǎo)體設(shè)備,各種需要高精度、小行程的檢測設(shè)備
原廠:www.numerikjena.de