Agilent  4291B  射頻阻抗/材料分析儀

• 4個元件測試夾具（被測件尺寸：0.5 mm至20 mm）
• 獨立選擇2個通道的參數(shù)
• 直接讀取介電常數(shù)、導(dǎo)磁率（選件）
• 2個材料夾具（工作溫度：-55至+200攝氏度）
• 多功能分析（溫度、科爾-科爾圖表、松弛時間）
• 掃描參數(shù)（頻率、交流電平、直流偏置、溫度）

描述

Agilent 4291B射頻阻抗/材料分析儀是針對表面封裝元器件和介電/磁性材料的高精度測量的完整解決方案。與反射測量技術(shù)不同，Agilent 4291B使用直接的電流－電壓測量技術(shù)，可在廣泛的阻抗范圍內(nèi)提供更精確的阻抗測量結(jié)果。

基本阻抗精度是+/- 0.8%。高Q精度有利于進行低損耗元器件分析。內(nèi)置合成器掃頻范圍從1 MHz到1.8 GHz，具有1 MHz的分辨率。1.8米長的精密電纜可將分析儀連接到測試站，以便您將測試點延伸到分析儀之外，而不會影響測量精度。*進的矩陣和錯誤補償功能消除了夾具的測量錯誤，確保DUT/MUT的高精度和可重復(fù)性。

Agilent 4291B還提供自動電平精度控制和用IBASIC程序功能監(jiān)視測試信號；可在恒壓或恒流下測量器件。用可選的直流偏置（達40V和100mA）使測量偏置獨立于阻抗特性。只要按一個按鈕，內(nèi)裝的等效電路分析功能就自動計算5種電路模型的電路常數(shù)值。

Agilent 4291B有2個測量通道；每一個通道都可設(shè)置為測量1個（即Z）或2個（即Z-theta）阻抗參數(shù)。具有分割顯示的彩色TFT可顯示有效示蹤和存儲器示蹤（保存在RAM中）。內(nèi)部軟盤驅(qū)動器以LIF或MS-DOS格式保存程序和測試數(shù)據(jù)。有了內(nèi)裝IBASIC，您就能從Agilent 4291B直接控制恒溫箱或園片探測器這類外部測試設(shè)備，而不需要單獨的儀器控制器。

材料評估

Agilent 4291B能容易地進行全面的材料評估，提高材料評估的質(zhì)量和效率。Agilent 4291B提供寬頻率范圍（1MHz至1GHz）介電/磁性材料測量的總體解決方案。

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陳丙州   
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