KTB-500快速溫度變化試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途：

快速溫度變化試驗(yàn)箱適用于各類電工電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件和材料進(jìn)行高低溫恒定和漸變、突變、濕熱試驗(yàn)等環(huán)境模擬可靠性試驗(yàn)。

KTB-500快速溫度變化試驗(yàn)箱測試標(biāo)準(zhǔn)：

GB-2423.1-89（IEC68-2-1）試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法
GB-2423.2-89（IEC68-2-2）試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法
GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗(yàn)
GJB150.3（MIL-STD-810D）高溫試驗(yàn)方法
GJB150.4（MIL-STD-8101D）低溫試驗(yàn)方法
GB2423.3-93（IEC68-2-3）試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB2423.4-93（IEC68-2-30）試驗(yàn)Db：交變濕熱試驗(yàn)方法
GJB150.9-93（MIL-STD-810D）濕熱試驗(yàn)方法

KTB-500快速溫度變化試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：

其他相關(guān)產(chǎn)品：冷熱沖擊試驗(yàn)箱、快速溫度變化試驗(yàn)箱、淋雨試驗(yàn)箱、UV紫外燈耐候試驗(yàn)箱、砂塵試驗(yàn)箱、鹽霧試驗(yàn)箱、高溫烤箱/干燥箱等環(huán)境試驗(yàn)箱。