一、砂塵試驗箱設(shè)備主要技術(shù)規(guī)格及參數(shù)

1.   型號：               工作室尺寸：         

   SC-500           800×800×800（D×W×H）

   SC-800           800×1000×1000（D×W×H）

   SC-010           1000×1000×1000（D×W×H）

   SC-015           1000×1500×1000（D×W×H）

   SC-020           1200×1800×1200（D×W×H）

2.   時間設(shè)定范圍：  0～999小時可調(diào)

3.   使用的灰塵通過金屬篩網(wǎng)標標稱線徑：50μm，線間標稱間距為75μm；

4.   氣流速度：不超過2m/s；

5.   連續(xù)、周期吹塵任意選擇時間設(shè)定；

6.   砂塵濃度：2kg/m3；

7.   試驗用塵：干燥滑石粉，硅酸鹽水泥，煙道灰等；

8.   振動時間：0～999H 可調(diào)

二、砂塵試驗箱結(jié)構(gòu)

1.   本砂塵試驗箱防塵試驗設(shè)備選用優(yōu)質(zhì)材料加工成型，外殼表面及門外壁材料采用優(yōu)質(zhì)鋼板，表面靜電彩色噴塑處理，美觀，平整。顏色搭配協(xié)調(diào)，圓弧型設(shè)計，線條流暢自然。

2.   內(nèi)膽材料選用優(yōu)質(zhì)不銹鋼板，設(shè)計成在工作時是一個密閉，可安置試樣進行外殼密封試驗的空間。室內(nèi)的樣品架及其它附件配件均為不銹鋼板制作，設(shè)計合理，經(jīng)久耐用。

3.   箱門上設(shè)置有一個超大觀察窗，箱內(nèi)有照明裝置，試驗時可以清楚地觀察室內(nèi)試驗的狀況，試樣清晰可見。箱門采用雙層硅膠密封條，密封嚴密，開關(guān)方便。箱內(nèi)特別設(shè)計有安置樣品的裝置。

4.   設(shè)備有載灰塵垂直循環(huán)的氣流，滑石粉作為粉塵。粉塵經(jīng)漏斗底部的風機吹入循環(huán)風道，之后被設(shè)備上部的出風口導風板均勻擴散，借助循環(huán)氣流使粉塵能均勻的懸浮在試驗箱內(nèi),滑石粉的用量按每立方米試驗箱內(nèi)體積2kg，使用次數(shù)不超過20次。驅(qū)動粉塵的不銹鋼葉輪、出風口導風板：     
5.   設(shè)備的底部有可更換灰塵的裝置，可以很方便地將使用過的灰塵100％地更換。

6.   為了保證粉塵不粘在箱壁上和凝結(jié)，安裝了一套特殊的裝置，裝置可以保證粉塵不粘在箱壁上和凝結(jié)，該裝置工作時間可調(diào)，并可自動交替進行工作。7.     設(shè)備在符合國家標準的前提下，各方面性能都穩(wěn)定的基礎(chǔ)上更具備實用性和便于控制。并且，該設(shè)備具有容易安裝、操作簡單，基本上*等特點。

三、砂塵試驗箱設(shè)備特點
      隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電工、電子產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也愈來愈復雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確地選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護措施，才能保證產(chǎn)品在儲存運輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。因而，電工、電子產(chǎn)品進行人工模擬環(huán)境試驗是保證其高質(zhì)量所*的重要環(huán)節(jié)。人工模擬環(huán)境試驗是實際環(huán)境影響的科學概括，具有典型化、規(guī)范化、使用方便、便于比較等特點。環(huán)境條件的多樣化和環(huán)境試驗的重要性也對環(huán)境試驗設(shè)備提出了更嚴格的要求。
     依據(jù)國家標準GB/T 2423.37-2006試驗La2：恒定氣壓砂塵試驗方法，GB 4208-2008外殼防護等級（IP代碼）GB/T 4942.1-2001旋轉(zhuǎn)電機外殼防護等級，GB 11564-2008機動車回復反射器；GB7000.1-2002/IEC60598-1:1999燈具一般安全要求與試驗、GB/T10485-2008等一系列相關(guān)的外殼防護等級標準研制開發(fā)出相對應(yīng)的一系列環(huán)境試驗設(shè)備，設(shè)備設(shè)計合理，操作簡單，易于維護，各項指標都符合國家標準。本SC系列防塵試驗設(shè)備用于檢測產(chǎn)品的外殼密封性能，主要用于外殼防護等級標準中規(guī)定的IP5X和IP6X兩個等級的試驗。