貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試試劑，貝克曼標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試粉末，貝克曼標(biāo)準(zhǔn)粒子。
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北京聞易科技有限公司專業(yè)提供貝克曼各類標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試試劑。標(biāo)準(zhǔn)粒子等，如您需要的不在本列表，請(qǐng)致電我司查詢。

貝克曼庫爾特粒度分析儀系列

• Multisizer 4e 顆粒/細(xì)胞計(jì)數(shù)及粒度分析儀
• Multisizer 3顆粒/細(xì)胞計(jì)數(shù)及粒度分析儀
• DelsaMax PRO 多角度Zeta電位及納米粒度同步分析儀
• DelsaMax CORE 靜態(tài)分子量與納米粒度同步分析儀
• SA3100比表面積及孔徑分析儀
• LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀
• LS 13 320系列全新微納米激光粒度分析儀

粒度分析的基本概念

（1）顆粒：具有一定尺寸和形狀的微小物體，是組成粉體的基本單元。它宏觀很小，但微觀卻包含大量的分子和原子；

（2）粒度：顆粒的大小；

（3）粒度分布：用一定的方法反映出一系列不同粒徑顆粒分別占粉體總量的百分比；

（4）粒度分布的表示方法：表格法（區(qū)間分布和累積分布）、圖形法、函數(shù)法，常見的有R-R分布，正態(tài)分布等；

（5）粒徑：顆粒的直徑，一般以微米為單位；

（6）等效粒徑：指當(dāng)一個(gè)顆粒的某一物理特性與同質(zhì)球形顆粒相同或相近時(shí)，我們就用該球形顆粒的直

徑來代表這個(gè)實(shí)際顆粒的直徑；

（7）D10，累計(jì)分布百分?jǐn)?shù)達(dá)到10% 所對(duì)應(yīng)的粒徑值；

D50，累計(jì)分布百分?jǐn)?shù)達(dá)到50%時(shí)所對(duì)應(yīng)的粒徑值；又稱中位徑或中值粒徑；

D90，累計(jì)分布百分?jǐn)?shù)達(dá)到90%時(shí)所對(duì)應(yīng)的粒徑值；

D（4,3）體積或質(zhì)量粒徑平均值；

常用的粒度測(cè)量方法

（1）篩分法

（2）沉降法（重力沉降法、離心沉降法）

（3）電阻法（庫爾特顆粒計(jì)數(shù)器）

（4）顯微鏡（圖像）法

（5）電鏡法

（6）超聲波法

（7）透氣法

（8）激光衍射法

各種方法的優(yōu)缺點(diǎn)

篩分法：優(yōu)點(diǎn)：簡單、直觀、設(shè)備造價(jià)低、常用于大于40μm的樣品。缺點(diǎn)：不能用于40μm以細(xì)的樣品；結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。

顯微鏡法：優(yōu)點(diǎn)：簡單、直觀、可進(jìn)行形貌分析。 缺點(diǎn)：速度慢、代表性差，無法測(cè)超細(xì)顆粒。

沉降法（包括重力沉降和離心沉降）：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測(cè)試范圍較大。 缺點(diǎn)：測(cè)試時(shí)間較長。

電阻法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，可測(cè)顆?？倲?shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好。 缺點(diǎn)：測(cè)試范圍較小，小孔容易被顆粒堵塞，介質(zhì)應(yīng)具備嚴(yán)格的導(dǎo)電特性。

電鏡法：優(yōu)點(diǎn)：適合測(cè)試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。 缺點(diǎn)：樣品少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。

超聲波法：優(yōu)點(diǎn)：可對(duì)高濃度漿料直接測(cè)量。 缺點(diǎn)：分辨率較低。

透氣法：優(yōu)點(diǎn)：儀器價(jià)格低，不用對(duì)樣品進(jìn)行分散，可測(cè)磁性材料粉體。 缺點(diǎn)：只能得到平均粒度值，不能測(cè)粒度分布。

激光法：優(yōu)點(diǎn)：操作簡便，測(cè)試速度快，測(cè)試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進(jìn)行在線測(cè)量和干法測(cè)量。 缺點(diǎn)：結(jié)果受分布模型影響較大