美國鍍金X-RAY膜厚測試儀結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
美國鍍金X-RAY膜厚測試儀產品特點：即放即測！ 
通過自動定位功能，放置樣品后僅需幾秒，便能自動對準觀察樣品焦點。 
10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量！ 
美國鍍金X-RAY膜厚測試儀以*的設計實現(xiàn)微小區(qū)域下的高靈敏度，即使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度地提高膜厚測量的精度。 
無標樣測量！ 將薄膜FP軟件進一步擴充，即使沒有厚度標準物質也能進行高精度的測量。也可簡單地測量多鍍層膜和合金膜樣品。 通過廣域觀察系統(tǒng)更方便選擇測量位置！ 通過廣域觀察系統(tǒng)，能夠從畫面上的樣品整體圖（zui大250×200mm）中方便地測量位置。

美國博曼膜厚測試儀的主要特點
a. 自動對焦功能 。配備激光自動對焦功能，能夠準確對焦，提高測量效率。
b. 具有焦點距離切換功能，適用于有凹凸的機械部件與電路板的底部進行測量
c. 采用檢量線法和FP法，兩個準直器可自動切換，采用激光自動對焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防
止在對焦時造成的損壞。
d. 選用Mo靶材X射線管，測量貴金屬更靈敏。 
e. 支持多種語言的軟件系統(tǒng)。簡體中文、繁體中文、英語、日語、韓語
f. 搭載樣品尺寸的兼容性
可適用于各種樣品，能夠通過一臺儀器測量，從電子部件、電路板到機械部件等高度較高的樣品，從較厚的樣品（機械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件等