塑料體積電阻率測(cè)試儀*符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1410－2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法，ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。本儀器配不同的測(cè)量電極（夾具）可以測(cè)量不同材料（固體、粉體或液體）的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率。適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定。本儀器除能測(cè)電阻外，還能直接測(cè)量微弱電流。

塑料體積電阻率測(cè)試儀主要特點(diǎn)
電阻測(cè)量范圍寬 1×104Ω ～1×1018Ω
電流測(cè)量范圍為 2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ
體積小、重量輕、準(zhǔn)確度高
電阻、電流雙顯示
性能好穩(wěn)定、讀數(shù)方便
所有測(cè)試電壓(10V/50V/100/250/500/1000V) 測(cè)試時(shí)電阻結(jié)果直讀，免去老式高阻計(jì)在不同測(cè)試電壓下或不同量程時(shí)要乘以系數(shù)等使用不便的麻煩，使測(cè)量超高電阻就如用萬(wàn)用表測(cè)量普通電阻樣簡(jiǎn)便。既能測(cè)超高電阻又能測(cè)微電流

注意事項(xiàng)

儀器使用前請(qǐng)仔細(xì)閱讀以下內(nèi)容，否則將造成儀器損壞或電擊情況。

1. ★檢查儀器后面板電壓量程是否置于10V檔，電流電阻量程是否置于104檔。

2. ★接通電源調(diào)零，（注意此時(shí)主機(jī)不得與屏蔽箱線路連接）在“Rx”兩端開路的情況下，調(diào)零使電流表的顯示為0000。然后關(guān)機(jī)。

3. ★將待測(cè)試樣平鋪在不保護(hù)電極正中央，然后用保護(hù)電極壓住樣品，再插入被保護(hù)電極（不保護(hù)電極、保護(hù)電極、被保護(hù)電極應(yīng)同軸且確認(rèn)電極之間無(wú)短路）。 

4. ★測(cè)體積電阻時(shí)測(cè)試按鈕撥到Rv邊，測(cè)表面電阻時(shí)測(cè)試按鈕撥到Rs邊，

5. ★接好測(cè)試線，將測(cè)試線將主機(jī)與屏蔽箱連接好。量程置于104檔，打開主機(jī)后面板電源開關(guān)按鈕。從儀器后面板調(diào)電壓按鈕到所要求的測(cè)量電壓。(比如：GBT 1692-2008 硫化橡膠 絕緣電阻率的測(cè)定 標(biāo)準(zhǔn)中注明要求在500V電壓進(jìn)行測(cè)定，那么電壓就要升到500V)

6. ★電流電阻量程按鈕從低檔位逐漸撥高檔，每撥一次停留1-2秒觀察顯示數(shù)字，當(dāng)被測(cè)電阻大于儀器測(cè)量量程時(shí)，電阻表顯示“1”，此時(shí)應(yīng)繼續(xù)將儀器撥到量程更高的位置。測(cè)量?jī)x器有顯示值時(shí)應(yīng)停下，在1min的電化時(shí)間后測(cè)量電阻，當(dāng)前的數(shù)字乘以檔次即是被測(cè)電阻。

7. ★測(cè)試完畢先將量程撥至（104）檔，然后將測(cè)量電壓撥至10V檔，zui后將測(cè)試按鈕撥到中央位置后關(guān)閉電源。然后進(jìn)行下一次測(cè)試。

8. ★應(yīng)在“Rx”兩端開路時(shí)調(diào)零，一般一次調(diào)零后在測(cè)試過(guò)程中不需再調(diào)零。

9. ★禁止將“RX”兩端短路，以免微電流放大器受大電流沖擊。

10. ★不得在測(cè)試過(guò)程中不要隨意改動(dòng)測(cè)量電壓。

11. ★測(cè)量時(shí)從低次檔逐漸撥往高次檔。

12. ★接通電源后，手指不能觸及高壓線的金屬部分。

13. ★不得測(cè)試過(guò)程中不能觸摸微電流測(cè)試端。

14. ★在測(cè)量高阻時(shí)，應(yīng)采用屏蔽盒將被測(cè)物體屏蔽。

15. ★嚴(yán)禁在試測(cè)過(guò)程隨意改變電壓量程及在通電過(guò)程中打開主機(jī)。

16. ★嚴(yán)禁電流電阻量程未在104檔及電壓在10V檔，更換試樣。

操作方式

★ZST-121體積、表面電阻率測(cè)定儀是一臺(tái)能測(cè)量*電阻和非常微弱電流的精密儀器是因?yàn)闄C(jī)器內(nèi)有一個(gè)超高性能的靜電計(jì)放大器，盡管儀器有多種保護(hù)措施，這個(gè)超高性能的靜電放大器在以下這些不正確操作使用中均可能因過(guò)大電流沖擊、過(guò)電壓或放電等*損壞或降低其測(cè)量精度與性能。