食品用鋁箔紙鍍鋁層厚度/均勻度測(cè)試儀
參考價(jià) | ¥ 6000 |
訂貨量 | ≥1臺(tái) |
- 公司名稱 濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司
- 品牌 SUMSPRING/三泉中石
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/7/9 9:29:56
- 訪問次數(shù) 2702
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瓶蓋扭力儀,壓敏膠帶環(huán)形初粘測(cè)試儀,泄露與密封強(qiáng)度測(cè)試儀,薄膜拉伸強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī),薄膜熱封儀,薄膜紙張撕裂度儀,紙杯杯身挺度儀,摩擦試驗(yàn)機(jī),紙板壓縮強(qiáng)度試驗(yàn)儀,紙與紙板破裂強(qiáng)度測(cè)定儀
產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 5千-1萬 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,食品/農(nóng)產(chǎn)品,生物產(chǎn)業(yè),包裝/造紙/印刷,制藥/生物制藥 |
食品用鋁箔紙鍍鋁層厚度/均勻度測(cè)試儀 DMT-E
由于真空鍍鋁薄膜上的鍍鋁層非常薄,因此不能用常規(guī)的測(cè)厚儀器檢測(cè)其厚度。由國(guó)家包裝產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心(濟(jì)南)起草的《 GB/T 15717-1995真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法--電阻法》于1996年頒布,詳細(xì)介紹了如何檢測(cè)絕緣軟基材表面的真空金屬鍍層厚度的測(cè)試方法。電阻法檢測(cè)鍍鋁層的厚度用表面電阻來表示,單位是Ω/□,數(shù)值越大說明鍍鋁層厚度越薄,一般真空鍍鋁薄膜的表面電阻值為1.0-2.5Ω/□。
食品用鋁箔紙鍍鋁層厚度/均勻度測(cè)試儀 測(cè)試原理:
鋁是導(dǎo)電金屬,通過測(cè)試規(guī)定面積內(nèi)試樣的電阻值,和一定溫度下的鋁的導(dǎo)電率,計(jì)算出試樣的鍍鋁層厚度。
儀器試驗(yàn)步驟
1.將金屬鍍層測(cè)量?jī)x與試樣放置在GB2918規(guī)定的23±2℃.,45%-55%RH環(huán)境中放置4h后測(cè)量。
2.每次測(cè)量前用無水乙醇擦拭儀器的測(cè)量頭。
3.將試樣平放在測(cè)量?jī)x的橡膠板上,使測(cè)量頭與金屬鍍層接觸良好。
4.每次測(cè)量前儀器必須校零。
5.測(cè)量試樣的電阻值。
測(cè)試的實(shí)驗(yàn)結(jié)果自動(dòng)顯示打印金屬鍍層的方塊電阻、金屬鍍層厚度和均勻度。
檢測(cè)產(chǎn)品
主要參數(shù)
厚度測(cè)量范圍:厚度50-570?
方塊電阻測(cè)量范圍:0.5-10Ω
方塊電阻測(cè)量誤差:±1%
樣品尺寸:100×100mm
夾樣誤差:±0.1mm
測(cè)溫范圍:0~50℃,精度±1℃
外形尺寸:370mm×330mm×450mm (長(zhǎng)寬高)
重量:19kg