化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>環(huán)境監(jiān)測儀器>氣體檢測儀>粉塵測定儀/粉塵儀>Pentagon QIII+ v2i Pres Rev2_03_0001. 表面微粒子計量器
Pentagon QIII+ v2i Pres Rev2_03_0001. 表面微粒子計量器
- 公司名稱 蘇州耀群科技股份有限公司
- 品牌
- 型號 Pentagon QIII+ v2i Pres Rev2_03_0001.
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2017/7/6 16:59:38
- 訪問次數(shù) 1427
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耀群科技專業(yè)代理半導(dǎo)體測試、分析設(shè)備及冷凍空調(diào)無塵室工程Particlecounter檢驗(yàn)等儀器。並備有客戶服務(wù)中心提供維修、校正代測及租借之服務(wù).微粒子計數(shù)器應(yīng)用於無塵室工程監(jiān)控,DIWater,化學(xué)品,高壓氣體及製程設(shè)備各種微粒子監(jiān)控.並提供維修,校正、技術(shù)諮詢,租借及代測工程服務(wù)因此在Particle&Defect方面,耀群科技提供完整解決的方案,相信可以成為貴公司好的技術(shù)顧問夥伴。
*Surface Particle Detector, Mini-environmental Monitoring System
表面微粒子計量器, 小型環(huán)境微粒子、溫濕度、壓差、風(fēng)速監(jiān)控系統(tǒng)
美國Pentagon Technologies 的 QIII+ 應(yīng)用于設(shè)備機(jī)臺( PVD, CVD,.., Etch, Diffusion ) Chamber 內(nèi)Surface Particles 量測, 可降低產(chǎn)品Defect和Test Wafer的使用量, 以及工作臺面積臺表面潔凈度..等的驗(yàn)證. 此已為目前機(jī)臺維護(hù)作業(yè)時的標(biāo)準(zhǔn)工具之一. Q-view 為一針對Mini-environment, Factory Interface 等
Critical Area 可量測 Particle, △P, TRH, Velocity..的監(jiān)視模塊, 可實(shí)時反應(yīng)出Contamination Issue.
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