鍍金X射線測厚儀

韓國Micro Pioneer

XRF2000鍍層測厚儀

快速檢測各種材質(zhì)上鍍層厚度,可測單層,雙層,多層,合金鍍層厚度

如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...

如銅上鍍鎳鍍金,銅上鍍鎳,銅上鍍銀,鐵上鍍鋅,銅上鍍鎳鍍鉻等
測量范圍:0.03-35um
測量精度:±5%,測量時間只需30秒內(nèi)便可準(zhǔn)確知道鍍層厚度
全自動臺面,自動雷射對焦, 操作非常方便簡單

XRF2000鍍層測厚儀,

提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進(jìn)行分析，不單性能*,而且價錢*
同比其他牌子相同配置的機(jī)器，XRF2000為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果
 

甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統(tǒng)，十字線自動調(diào)整。超大/開放式的樣品臺，
可測量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的。可測量各類金屬層、合金層厚度等。

可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U）  原子序 22 – 92
準(zhǔn)直器：固定種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析 統(tǒng)計功能

銅上鍍鎳鍍金測厚儀