EHM-X系列大氣重金屬在線分析儀是天瑞儀器*的雙功能全自動在線分析儀器。它創(chuàng)新地將技術——X射線熒光（XRF）無損檢測技術、β射線吸收檢測技術與空氣顆粒物自動富集技術*結合，不僅可以監(jiān)測空氣顆粒物質量濃度, 還可以同時對顆粒物中元素成分進行定量分析。該儀器具有pg/m³ 量級的檢出限，處于*水平，廣泛應用于空氣質量監(jiān)測、污染溯源及源解析、環(huán)境評價等領域。

 儀器以恒定的工況流量將空氣吸入顆粒物切割器中，以PM2.5為例，動力學直徑在2.5um附近及以下的顆粒污染物進入到儀器的富集系統(tǒng)中。經過一段時間的富集后，富集系統(tǒng)自動切換成β射線分析系統(tǒng)，利用β射線的衰減與顆粒物的質量濃度成指數(shù)的關系，對顆粒物的質量濃度進行分析。然后卷膜系統(tǒng)精確地將富集有空氣顆粒物的濾紙移動到X射線熒光分析系統(tǒng)，分別利用X射線熒光的能量和強度對顆粒物中的元素成分進行定性和定量的分析。 

圖2 天瑞儀器 EHM-X200大氣重金屬監(jiān)測示意圖

     X射線熒光光譜技術（XRF）的原理見圖3所示，可以直接檢測固體或液體樣品中ppm量級的元素成分。采用富集后再檢測的辦法，使得XRF技術對空氣顆粒物中的重金屬成分的檢測限優(yōu)于0.001ug/m3。而常規(guī)實驗室的檢測技術，由于預處理消解過程中需要將微克量級的樣品溶解到幾十克的液體中，而使得濃度被稀釋百萬倍，從而多數(shù)儀器（譬如ICP-AES、或原子吸收光譜儀）無法檢出元素含量低于10ug/m3量級的空氣顆粒物樣品。

圖3 X射線熒光光譜技術原理圖

2.1.2 性能特點

（1）*的X射線熒光(XRF)無損檢測技術與大氣顆粒物自動富集技術*結合，符合美國EPA IO-3.3標準方法。 
（2）用戶可以選擇增加基于β射線的顆粒物質量濃度測量模塊，可實現(xiàn)一臺儀器通過一次采樣同時測量顆粒物總質量濃度與重金屬成分濃度，增加數(shù)據(jù)可比性、為污染溯源分析提供依據(jù)。 
（3）可選配TSP、PM10、或PM2.5顆粒物切割器，實現(xiàn)重金屬顆粒物在不同動力學直徑上的分布測量。 
（4）鉛、鐵、鎘、鉻、砷等30種重金屬含量精確測量，探測靈敏度10pg/m3量級，重金屬元素可擴展。 
（5）具備流量校準功能，具備空白以及所有分析元素的校準功能，具備光管強度自校準功能和能量刻度自動校準功能； 
（6）提供設備配套數(shù)據(jù)分析管理軟件，開放通訊協(xié)議，可接入已有數(shù)采平臺；中文操作界面，觸摸屏操作，顯示實時采樣流量，采樣時間，測量狀態(tài)，重金屬濃度值、含量曲線等信息。 
（7）提供預警預報智能分析二次開發(fā)功能接口，用于實現(xiàn)區(qū)域內未監(jiān)測點位的空氣重金屬濃度的預測預警、對監(jiān)測數(shù)據(jù)有效性進行判斷、通過當前數(shù)據(jù)對未來污染趨勢及擴散路徑進行預測。

2.1.3 技術參數(shù)

以下列出了大氣重金屬在線分析儀的一些重要技術參數(shù)（表1）。

表1 天瑞儀器 EHM-X200大氣重金屬監(jiān)測儀技術參數(shù)

2.1.4 系統(tǒng)配置

產品配置清單如下，包括隨機備件、工具套裝、隨機文件、以及安裝維修所需的備品備件和耗材。