鍍銀X射線測(cè)厚儀

銅上鍍銅測(cè)量范圍：0.1-50um

韓國(guó)先鋒X射線鍍層測(cè)厚儀

型號(hào):XRF-2000測(cè)厚儀系列

快速檢測(cè)各種材質(zhì)上鍍層厚度,可測(cè)單層,雙層,多層,合金鍍層厚度

如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...

如銅上鍍鎳鍍金,銅上鍍鎳,銅上鍍銀,鐵上鍍鋅,銅上鍍鎳鍍鉻等
測(cè)量范圍:0.03-35um
測(cè)量精度:±5%,測(cè)量時(shí)間只需30秒內(nèi)便可準(zhǔn)確知道鍍層厚度
全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)雷射對(duì)焦, 操作非常方便簡(jiǎn)單

XRF2000鍍層測(cè)厚儀,提供金屬鍍層厚度的測(cè)量，同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析，不單性能*,而且價(jià)錢*
同比其他牌子相同配置的機(jī)器，XRF2000為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果

甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)，鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)，十字線自動(dòng)調(diào)整。超大/開(kāi)放式的樣品臺(tái)，
可測(cè)量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的。可測(cè)量各類金屬層、合金層厚度等。

可測(cè)元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U）  原子序 22 – 92
準(zhǔn)直器：固定種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
 

自動(dòng)種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
電腦系統(tǒng)：液晶顯示器，彩色打印機(jī)
綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析 統(tǒng)計(jì)功能

X射線鍍層測(cè)厚儀,X熒光無(wú)損測(cè)厚儀,X-RAY膜厚儀,電鍍測(cè)厚儀 韓國(guó)先鋒XRF-2000鍍層測(cè)厚儀

X射線鍍層測(cè)厚儀,測(cè)量電鍍層厚度,如電鍍或化學(xué)鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍銅,鍍鋅鎳合金等.

機(jī)器配置

全自動(dòng)臺(tái)面

自動(dòng)雷射對(duì)焦
多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測(cè)樣品）
測(cè)量樣品高度不超過(guò)4cm(亦有10CM可選)
鍍層厚度測(cè)試范圍：0.04－35um

可測(cè)試單層，雙層，多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開(kāi)顯示各自厚度.
測(cè)量時(shí)間：10－30秒

測(cè)量功能:單鍍層,雙鍍層,多鍍層,合金鍍層

鍍銀X射線測(cè)厚儀?精度控制：

首層：±5%以內(nèi)

第二層：±8%以內(nèi)

第三層：±12%以內(nèi)