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• 美國國家航空和宇宙航行局（NASA）采用產(chǎn)品

• IEC61340-2-1標準規(guī)范的模板設(shè)備

• 可以測試固體，粉體，液體材料的靜電衰減時間

• 同時測試靜電衰減時間和電容負載

• 可直接放置在成型材料上測試

• 量程：10毫秒-99小時

• 分辨率：10毫秒

• 電暈放電電壓：0-9.9KV（可以選擇正負極性）

• 衰減比例：可設(shè)置1%-99%

• 同時測量環(huán)境溫濕度

• 特別設(shè)計氣閘效應，消除殘留空氣離子干擾

• 高精度靜電壓測試探頭

• 配套JCI176樣品臺可測量轉(zhuǎn)移到測試料樣上的電量，并計算出電容負載

• 配套JCI173樣品杯可以測量粉體和液體的靜電衰減期

• 配套JCI-Graph軟件遠端控制儀器，顯示數(shù)據(jù)和衰減曲線，形成報告，分析/打印/儲存數(shù)據(jù)。

• JCI155v6：包含以下物品

  靜電衰減分析儀

  JCI176試樣臺（放置試樣，并測試電容負載）

  JCI173試樣杯（放置粉體或液體材料）

  測試儀和試樣臺連接線纜

  接地線

  長USB數(shù)據(jù)線（用于連接電腦）

  短USB數(shù)據(jù)線（用于外接U盤）

  配套軟件

• 供應靜電衰減分析儀供應靜電衰減分析儀