• 放射性厚度計(jì)：利用 α 射線、β 射線、γ 射線的穿透特性實(shí)現(xiàn)測(cè)量；

• 超聲波厚度計(jì)：基于超聲波頻率變化原理；

• 電渦流厚度計(jì)：依托渦流效應(yīng)的電磁感應(yīng)原理；

• 接觸式測(cè)厚儀：通過機(jī)械接觸式測(cè)量原理工作。

涂層測(cè)厚儀核心原理

1. 磁回路構(gòu)建：位于被測(cè)部件表面的探頭生成閉合磁回路；

2. 信號(hào)反饋機(jī)制：當(dāng)探頭與鐵磁性材料之間的涂層厚度變化時(shí)，磁回路的磁阻及探頭線圈電感隨之改變；

3. 精準(zhǔn)計(jì)算：通過檢測(cè)上述物理量的變化，直接換算為涂層厚度值，實(shí)現(xiàn)無損、快速、實(shí)時(shí)測(cè)量。

功能特性

1. 雙測(cè)量模式：

• 連續(xù)測(cè)量（CONTINUE）：適用于大面積快速掃描，獲取連續(xù)厚度數(shù)據(jù)；

• 單次測(cè)量（SINGLE）：針對(duì)單點(diǎn)精準(zhǔn)測(cè)量，滿足高精度需求。

2. 雙工作模式：

• 直接模式（DIRECT）：直接讀取當(dāng)前測(cè)量值，操作便捷；

• 成組模式（APPL）：支持批量測(cè)量并自動(dòng)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，便于統(tǒng)計(jì)分析。

3. 五維統(tǒng)計(jì)功能：

• 平均值（MEAN）：反映批量測(cè)量的整體水平；

• 最大值（MAX）/最小值（MIN）：定位厚度極值，把控質(zhì)量邊界；

• 測(cè)試次數(shù)（NO.）：自動(dòng)記錄測(cè)量樣本量；

• 標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）：評(píng)估數(shù)據(jù)離散程度，量化測(cè)量穩(wěn)定性。