MTI掃描電鏡拉伸試驗機 SEMtester系列拉伸試驗臺

1僅指壓縮

2僅指拉伸

340x10mm 不包含加熱器

典型的參數(shù)。主體根據(jù)應(yīng)用需求變化

MTI采用*的編碼器得到能夠達到的zui高的精度

直接測量試驗臺的軸向運動，消除絲杠、齒輪的誤差

采用一種沒有其它儀器可以對其校準(zhǔn)的，世界上*的編碼系統(tǒng)

制造廠家設(shè)定線性測量分辨率，每個脈沖分辨率范圍從1.22nm到5um

高分辨率的拉伸測量能力

能夠?qū)崿F(xiàn)非常低的拉伸速率

*的編碼器封裝技術(shù)使得試驗臺體積非常小，可以放置于很小的系統(tǒng)中

應(yīng)用 

SEMtester系列產(chǎn)品可以實現(xiàn)對各種材料進行拉伸，壓縮，彎曲，蠕變和疲勞試驗。可以在動態(tài)或靜態(tài)載荷下觀察變形和松弛行為。可選配樣品加熱器，用于測試過程中模擬實際的工作溫度條件?？蛇x多種試樣夾具，幾乎可以固定夾緊任何樣品配置。這種多樣性使SEMtester產(chǎn)品適用于非常廣泛的測試材料，包括以下測試材料：

復(fù)合材料金屬塑料聚合物纖維紡織品頭發(fā)食物礦物混泥土生物材料陶瓷木頭玻璃紙張輪胎橡膠

*的機械測試系統(tǒng)應(yīng)用于光學(xué)顯微鏡，掃描探針顯微鏡，掃描電子顯微鏡，X射線儀以及其它顯微鏡

使用MTII/ Fullam's SEMtester系列拉伸壓縮試驗臺，可以快速、準(zhǔn)確、可靠的獲得材料力學(xué)性能信息。設(shè)計專門應(yīng)用于掃描電子顯微鏡（SEMs），掃描探針顯微鏡（SPMs）和光學(xué)顯微鏡（LMs），SEMtester微型試驗臺是在放大的條件下進行測試的非常理想的工具。它是一種能更深入的了解材料破壞的早期階段和更好的整體了解材料的性能的工具。此外，可以實時觀察晶粒的位錯和裂紋的擴展，揭示的關(guān)于材料變形的信息，比傳統(tǒng)的、后失效分析技術(shù)更多。

直觀的操作方式              

為了操作實驗和收集數(shù)據(jù)，MTII /Fullam使用一個符合ASTM規(guī)范，以Windows系統(tǒng)為基礎(chǔ)的，控制材料測試的專業(yè)軟件系統(tǒng)。這個功能強大的軟件，提供了一個用戶友好的界面，用于設(shè)定系統(tǒng)參數(shù)，測試和分析數(shù)據(jù)。試樣尺寸隨應(yīng)變速率和閾值定義（負載，伸長，時間），然后用它來自動進行測試和運算。

該軟件可將這些設(shè)定的參數(shù)存儲為文件，可以在以后的測試中再次打開。測試過程中實時提供測試結(jié)果，生成應(yīng)力-應(yīng)變曲線、關(guān)鍵參數(shù)如峰值負載/應(yīng)力、塑性點、生成彈性模量和其他測試報告。原始的測試數(shù)據(jù)和結(jié)果可以用標(biāo)準(zhǔn)格式導(dǎo)出，因此很容易與其它數(shù)據(jù)分析軟件和實驗室管理系統(tǒng)進行集成。測試結(jié)果易于輸出數(shù)據(jù)以及定制分析報告

靈活的設(shè)計

MTII /Fullman提供*自動化的平臺，性價比非常高。有標(biāo)配的100磅力（450 N），1000磅（4500 N）和2000磅（9000 N）載荷傳感器，為了達到客戶提高準(zhǔn)確度和靈敏度的要求，還可配置量程可選的載荷傳感器。擴大的應(yīng)變行程的版本使得更長，更有韌性樣品可以進行測試。水平和傾斜的試樣夾具提供了更加靈活的操作，可以應(yīng)用于傳統(tǒng)的顯微鏡和那些帶有EBSD的系統(tǒng)。

它還有快速連接插頭，設(shè)計用于無縫結(jié)合到大部分的顯微鏡中。定制的端口蓋子使得用戶不需要修改掃描電鏡的真空室或顯微鏡的平臺就可以安裝該系統(tǒng)。

選項和配件

因為不是所有的應(yīng)用都是一樣的，所以用于研究和開發(fā)環(huán)境的工具必須因不同的測試靈活的配置。無論它是一個基本的手動測試還是全自動伺服控制測試與數(shù)據(jù)采集軟件，我們都有一個滿足您需要的解決方案。MTII /Fullam提供了一系列的標(biāo)準(zhǔn)配置和定制配置，包括以下配件：

可以更換的載荷傳感器試樣加熱器壓縮夾具3點彎曲和4點彎曲夾具真空端口蓋子讀出載荷和應(yīng)變的系統(tǒng) 圓柱狀、螺栓和螺柱形狀的試樣夾具快速連接安裝接頭