功能齊全Equotip550硬度計(jì)

新一代 Equotip 觸摸屏裝置提供由行業(yè)專家精心設(shè)計(jì)的界面，提高了檢測(cè)效率和改善用戶體驗(yàn)。 改進(jìn)的軟件可提供互動(dòng)向?qū)А⒆詣?dòng)驗(yàn)證進(jìn)程、個(gè)性化選項(xiàng)和自定義報(bào)告功能。 此外，該儀器可兼容后續(xù)開發(fā)產(chǎn)品。

全彩顯示屏使您能夠執(zhí)行zui高質(zhì)量的測(cè)量和對(duì)已測(cè)得數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。特殊設(shè)計(jì)的外殼適于惡劣的現(xiàn)場使用環(huán)境。

迄今為止，Proceq 的 Equotip 已經(jīng)成為廣泛認(rèn)可的測(cè)量技術(shù)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。 Equotip 裝置*眾多行業(yè)對(duì)無損硬度檢測(cè)的要求。

功能齊全Equotip550硬度計(jì)

Equotip550 是便攜式硬度檢測(cè)中功能zui齊全的一體化解決方案。 Portable Rockwell 測(cè)量原理沿用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測(cè)法，該方法非常適用于對(duì)刮擦敏感的、拋光的或細(xì)小的部件，以及對(duì)剖面和管道進(jìn)行檢測(cè)。
結(jié)合 Equotip Leeb 沖擊裝置，Equotip 550 可利用里氏硬度原理沿用動(dòng)態(tài)（回彈）法。 這將能夠在現(xiàn)場自動(dòng)將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實(shí)際壓痕硬度值。

Equotip Portable Rockwell

· 以 HRC 和 HV 為單位的測(cè)量可自動(dòng)轉(zhuǎn)換為 HB、HRA、HRB 以及更多符合 ASTM E140 和 ISO 18265 標(biāo)準(zhǔn)的通用單位

· 高準(zhǔn)確度 ± 0.8 µm (~ ± 1.0 HRC) 全部測(cè)試范圍

· 不受材料和樣品尺寸影響，快速獲取可復(fù)制的金屬硬度值

· 微小的檢測(cè)負(fù)載只產(chǎn)生微米級(jí)的穿透深度

· 探頭利用*的測(cè)量夾和支撐腳，可以對(duì)各種幾何體進(jìn)行檢測(cè)

· 良好的算法選項(xiàng)，讓測(cè)量更快捷

· 探頭可直接連接至 PC

Equotip Leeb

根據(jù)需要自動(dòng)轉(zhuǎn)換至所有通用的硬度單位（HV、HB、HRC、HRB、HRA、HS、Rm）

自動(dòng)更正沖擊方向確保高準(zhǔn)確度 ± 4 HL（硬度為 800 HL 時(shí)，準(zhǔn)確度為 0.5%）

測(cè)量范圍廣泛，可利用各種沖擊裝置和支撐環(huán)來滿足絕大多數(shù)的硬度檢測(cè)要求。

每個(gè)沖擊裝置均可使用硬度范圍廣泛和的硬度測(cè)試塊，，用于定期驗(yàn)證。

Equotip 550 Touchscreen Unit

· 模塊化概念： 利用各種型號(hào)的探頭和配件靈活配置各種行業(yè)應(yīng)用

· 組合法： 在現(xiàn)場自動(dòng)將 Leeb 關(guān)聯(lián)至 Portable Rockwell 的實(shí)際壓痕硬度值

· 引導(dǎo)向?qū)В?預(yù)定義工作流以增強(qiáng)進(jìn)程可靠性和提高測(cè)量度

· 自動(dòng)驗(yàn)證： 根據(jù) ISO 16859 和 ASTM A956 逐步驗(yàn)證

· 互動(dòng)指南： 通過屏幕通知為您的應(yīng)用獲取zui相關(guān)的設(shè)置

· 轉(zhuǎn)換曲線： 直接在儀器上創(chuàng)建、編輯和驗(yàn)證轉(zhuǎn)換曲線

· 自定義報(bào)告： 模塊化報(bào)告處理器允許自定義測(cè)量報(bào)告

· 自動(dòng)選項(xiàng)： 將 NDT 自動(dòng)操作集成至質(zhì)量管理系統(tǒng)和自動(dòng)檢測(cè)環(huán)境