全新XK-50M 研究級(jí)金相顯微鏡集西尼科光學(xué)多項(xiàng)*于一身，從外觀到性能都緊跟設(shè)計(jì)風(fēng)向，致力于拓展工業(yè)領(lǐng)域全新格局。50M 秉承西尼科不斷探索不斷超越的品牌設(shè)計(jì)理念，為客戶(hù)提供完善的工業(yè)檢測(cè)解決方案。

多檔分光比觀察頭設(shè)計(jì)
全新50M 系列觀察筒，采用寬光束成像系統(tǒng)設(shè)計(jì)，支持26.5mm 的超寬視野觀察，帶給您全新的大視野體驗(yàn)。兩檔式正像鉸鏈三目觀察筒，保證樣品的移動(dòng)方向與您通過(guò)目鏡觀察到的方向*，使操作更加得心應(yīng)手。
三檔式鉸鏈三目觀察筒，在成像光線* 用于雙目觀察或三目攝影的基礎(chǔ)上，增加一檔20% 用于雙目觀察，80% 用于顯微攝影，方便用戶(hù)同時(shí)對(duì)鏡下圖像與視頻圖像進(jìn)行對(duì)比觀察；

偏振系統(tǒng)
偏振系統(tǒng)包括起偏器和檢偏器，可做偏光檢測(cè)，在半導(dǎo)體和PCB 檢測(cè)中，可消除雜光，細(xì)節(jié)更清楚。檢偏器分為固定式檢偏器和360 度旋轉(zhuǎn)式檢偏器。360°旋轉(zhuǎn)式檢偏器可在不移動(dòng)標(biāo)本的情況下，方便的觀察標(biāo)本在不同偏振角度光線下呈現(xiàn)的狀態(tài)?？稍谄裣到y(tǒng)的基礎(chǔ)上加載全新研發(fā)微分干涉器，建立諾曼爾斯基微分干涉襯比系統(tǒng)。

諾曼爾斯基微分干涉襯比系統(tǒng)
全新研發(fā)的U-DICR 微分干涉組件，可以將明場(chǎng)觀察下無(wú)法檢測(cè)的細(xì)微高低差，轉(zhuǎn)化為高對(duì)比度的明暗差并以立體浮雕形式表現(xiàn)出來(lái)，如LCD 導(dǎo)電粒子，精密磁盤(pán)表面劃痕等。

物鏡轉(zhuǎn)換器，多孔可選
多孔物鏡轉(zhuǎn)換器可以對(duì)同一個(gè)標(biāo)本的觀測(cè)點(diǎn)進(jìn)行連續(xù)的更加合理的低、中、高放大倍率觀察。全新的物鏡轉(zhuǎn)換器將光軸與轉(zhuǎn)動(dòng)軸之間的夾角降低到15°，提高了對(duì)中精度和齊焦精度，且外觀更加緊湊。