DM5E測厚儀常用探頭技術

超聲波測厚儀DM5E G/DM5E/DM5EDL常用探頭技術數(shù)據(jù)

DM5E 和 DM5E DL 都能進行 Dual Multi 測量（穿過涂層測量）。實 際上，要進行厚度測量的所有組件和結構都將帶有某種保護涂 層。使用傳統(tǒng)方法進行測量時，這些涂層（包括油漆）大大增加 了底層金屬厚壁測量的誤差。此外，去除涂層以及以后再加上涂 層也會花費相當多的成本和時間。使用經(jīng)過現(xiàn)場驗證的 Dual Multi 功能就無需去除任何保護涂層。它只需要選擇 Dual Multi 模式，將 探頭放在相應位置進行測量。

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