韓國先鋒X-RAY膜厚儀測量范圍

Au  0.03-4um

Pd  0.03-4um

Ni  0.05-20um

Ni-P 0.05-20um

Sn 0.05-80um

Ag  0.03-20um

Cr  0.05-20um

Zn  0.05-20um

ZnNi 0.05-20um

SnCu 0.05-20um

韓國XRF-2000X射線鍍層測厚儀

檢測電子電鍍,化學(xué)電鍍層厚度,
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,

設(shè)備功能描述

兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)

使用X熒光射線非接觸非破壞快速測量膜厚層

各種樣品單層至多層（5層），合金膜層均可測量

定點自動定位分析

光徑對準(zhǔn)全自動

影像重疊功能

自動顯示測量參數(shù)

彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)

多重統(tǒng)計顯示視窗與報告編輯應(yīng)用2D/3D，任意位置測量控制Y軸全自動控制雷射對焦與自動定位系統(tǒng)

多種機型選擇X-ray運行待命（睡眠）控制溫控穩(wěn)定延長校準(zhǔn)時效全進口美日系零件價格優(yōu)勢及快速的服務(wù)時效

Micro XRF-2000 韓國先鋒鍍層測厚儀系列

測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳，鍍鋅鎳合金等

兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)

使用X熒光射線可作非接觸非破壞快速分析膜層

擁有多種濾波器選擇

各種樣品單層至多層（5層），合金膜層與溶液均可測量

定點自動定位分析

光徑對準(zhǔn)全自動

影像重疊功能

自動顯示測量參數(shù)

彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)

韓國XRF2000X光鍍層測厚儀精度控制：

 *層：±5%以內(nèi)

 第二層：±8%以內(nèi)

 第三層：±15%以內(nèi)