項目

規(guī)格

產地

日本

測定元素範圍

鋁(Al¹³)~鈾(U⁹²)

樣品型態(tài)

固體、液體、粉末皆可

X射線源

X射線管(Rh或W靶)

管電壓： 15 kV, 31 kV, 50 kV(可調式)

管電流：1mA(10~1000µA,自動調整適電流輸出)

檢測器

矽半導體檢測器

冷卻方式

電子冷卻(不需液態(tài)氮)

樣品觀察

彩色CCD鏡頭

濾波器

4種模式(自動切換)

樣品室

370(W)×320(D)×155(H) mm

定性分析功能

■ 元素分析

■ 能譜比對

■ 資料庫自動辨別比對

定量分析功能

■ RoHS有害物質分析

■ 無鹵規(guī)範有害物質分析

■ EN71-3有害物質分析

■ 電鍍膜厚測定

■ 元素分析FP法

■ 元素分析檢量線法

■ HS快速分析模式

標準配件

■ 桌上型電腦(含液晶螢幕、滑鼠、鍵盤)

■ 彩色印表機

■ RoHS有害物質標準品(一級認證標準品)

■ 儀器硬體調校試片(含強度、能量、解析度及光徑校正)

■ 樣品杯

■ 樣品杯用測試薄膜

選配

■ 樣品轉盤

■ 環(huán)境限制用標準物質(無鹵、EN71-3、膜厚 、Sb、Sn)

■ 膜厚標準品

■ 油壓機與製錠機

設置需求

建議桌面尺寸：1500(W)*1000(D) mm

使用電源：AC100～120V,200~240V±10%,5A。