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4339B 高電阻表，DC
主要特性與技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量范圍
寬量程：: 103 ohm 至 1.6x1016 ohm
測(cè)量速度
高速測(cè)量: 10 ms
更多特性
穩(wěn)定的測(cè)試夾具：電阻系數(shù)單元、元器件測(cè)試夾具
測(cè)試序列編程
電阻系數(shù)計(jì)算
接地被測(cè)件測(cè)量
描述
4339B高電阻表是是德進(jìn)行精密高阻抗測(cè)量的憲進(jìn)的測(cè)試工具。測(cè)試序列編程功能提供自動(dòng)測(cè)量過(guò)程（充電－測(cè)量－放電）?，F(xiàn)已提供多種元件測(cè)試夾具和材料測(cè)試。

4349B 4通道高值電阻表
主要特性與技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量速度
9.5ms的測(cè)量速度
更多特性
4個(gè)通道，可用于多個(gè)被測(cè)件
4個(gè)通道同時(shí)測(cè)試
快速接觸檢查：2毫秒/點(diǎn)
GPIB和處理器接口
描述
Keysight 4349B增加測(cè)試吞吐率，同時(shí)對(duì)4通道絕電阻進(jìn)行測(cè)量。

Keysight LCR 表、阻抗分析儀和測(cè)試夾具－選型指南
I-V 法適用的頻率范圍從 40 Hz 到 110 MHz，能夠測(cè)量的阻抗范圍要小一些，另外也適用于用探頭進(jìn)行測(cè)量的在線測(cè)試。
RF I-V 法是 I-V 法的擴(kuò)展，在 I-V 法所適用的阻抗測(cè)試范圍內(nèi)，又增加了網(wǎng)絡(luò)分析在高頻測(cè)量時(shí)所具有的一些優(yōu)點(diǎn)。
RFI-V 法是專為精確地分析和測(cè)量射頻器件的高頻特性而設(shè)計(jì)的，在測(cè)量小電感和小電容方面體現(xiàn)出*的性能。
此外，是德科技的網(wǎng)絡(luò)分析儀提供了阻抗測(cè)量解決方案，綜合運(yùn)用三種測(cè)量方法 (反射、串聯(lián)直通和并聯(lián)直通) 進(jìn)行 S 參數(shù)和增益相位測(cè)量。

阻抗分析儀
是德科技阻抗分析儀具有mΩ至MΩ阻抗范圍和 5 Hz 至 3 GHz 頻率范圍，提供同類產(chǎn)品無(wú)法匹敵的測(cè)量精度。您可以選擇適合自身應(yīng)用的頻率范圍。
可對(duì)頻率、直流偏置、交流電壓/電流的大小進(jìn)行掃描，您可以自行決定在哪些測(cè)量條件下以何種方式得到測(cè)試結(jié)果
內(nèi)置等效電路分析功能可以給被測(cè)件找出一個(gè)符合應(yīng)用條件的多元件電路模型

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憲進(jìn)的校準(zhǔn)和補(bǔ)償方式可以顯著降低測(cè)量誤差/多種夾具選擇滿足各種應(yīng)用需求: 材料介電常數(shù)和磁導(dǎo) 率、元器件高溫特性表征，各種無(wú)源器件，以及接地測(cè)量的阻抗探針等等