GDW3-LT-1A 高頻光電導少子壽命測試儀（基本型）
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 北京中慧天誠科技有限公司
- 品牌
- 型號 GDW3-LT-1A
- 產(chǎn)地 北京
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2017/8/23 17:21:05
- 訪問次數(shù) 405
產(chǎn)品標簽
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空氣臭氧發(fā)生器;擴散氫測定儀;瓦斯蒸氣粉塵和懸浮物;汽車尾氣分析儀;煙道氣綜合分析儀;石油產(chǎn)品采樣器;食品檢測儀;固定式可燃氣體探測器;手持式辛烷值儀;快速水份測定儀;二氧化氯發(fā)生器;身高體重測量儀
| 高頻光電導少子壽命測試儀（基本型）τ:10～6000μs ρ＞3Ω•cm 型號：GDW3-LT-1A | 貨號：ZH411 |
| 1、 用途 用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量，除需要有一個測量平面外，對樣塊體形嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況，是單晶的重要檢測項目。 2、 設備組成 2.1、光脈沖發(fā)生裝置 重復頻率＞25次/s 脈寬＞60μｓ 光脈沖關斷時間＜0.2-1μｓ 紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量硅單晶） 脈沖電流：5A～20A 如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源 2.2、高頻源 頻率：30MHz 低輸出阻抗 輸出功率＞1W 2.3、放大器和檢波器 頻率響應：2Hz～2MHz 2.4、配用示波器 配用示波器：頻帶寬度不低于40MHz，Y軸增益及掃描速度均應連續(xù)可調(diào)。 3、測量范圍 LT-1可測硅單晶的電阻率范圍：ρ≥3Ω·㎝（歐姆·厘米）,壽命值的測量范圍：5～6000μｓ |  |
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