MD-1型粉塵粒度分析

一、產品介紹

本產品采用斯托克斯原理和比爾定律進行分析檢測，能準確測定粉塵粒度分布。讀數(shù)直觀，測定結果自動儲存，也可由用戶根據(jù)需要選擇，把結果通過顯示屏或打印機輸出。儀器具有掉電保護功能，可儲存粒度分布數(shù)據(jù)。

主要用于實驗室測定粉塵粒度分布。

二、產品參數(shù)

（1）粉塵粒度分布測定范圍：0～150µm。測定粉塵累積質量篩上分布，粉塵粒度分級為
150µm、100、80µm、60µm、50µm、40µm、30µm、20µm、10µm、8µm、7µm、6µm、5µm、
4µm、3µm、2µm、1µm。
（2）測定誤差：d＜40µm時，粉塵粒度分布重復測定誤差≤10%；
（3）工作電源：220VAC。
（4）外形尺寸：430㎜×285㎜×300㎜。
（5）重量：15kg。

三、產品特點

（1）采用斯托克斯原理和比爾定律進行分析檢測，能準確測定粉塵粒度分布。
（2）讀數(shù)直觀，測定結果自動儲存，也可由用戶根據(jù)需要選擇，把結果通過顯示屏或打印機輸出。
（3）儀器具有掉電保護功能，可儲存粒度分布數(shù)據(jù)。

粒度分析又稱"機械分析。是研究碎屑沉積物(或巖石)中各種粒度的百分含量及粒度分布的一種方法。對易于分解離開的碎屑沉積，通常采用篩析法和沉速法;對固結較緊且又不易解離的碎屑沉積，通常采用薄片鑒定法;對粗大的礫石通常采用直接測量法。根據(jù)分析結果，可推測沉積物的形成條件和環(huán)境。對于不同原理的粒度分析儀器，所依據(jù)的測量原理不同，其顆粒特性也不相同，只能進行等效對比，不能進行橫向直接對比。

種類

1.顯微鏡法(Microscopy)

SEM、TEM；1nm～5μｍ范圍。

適合納米材料的粒度大小和形貌分析。

2.沉降法(Sedimentation Size Analysis)

沉降法的原理是基于顆粒在懸浮體系時，顆粒本身重力(或所受離心力)、所受浮力和黏滯阻力三者平衡，并且黏滯力服從斯托克斯定律來實施測定的，此時顆粒在懸浮體系中以恒定速度沉降，且沉降速度與粒度大小的平方成正比。10nm～20μｍ的顆粒。

MD-1型粉塵粒度分析儀