Fast FPX射線熒光光譜，能夠在少標樣甚至無標樣的情況下對樣品元素成分進行定性定量分析，也可以對鍍層或鍍膜厚度進行分析。

*，Fast FPX射線熒光光譜大問題是元素熒光強度會受到共存元素的影響（基體吸收和增強效應），與含量通常不是線性關系?；緟捣ㄔ诠庾V的計算過程中，已經考慮到了基體效應，可以得到計算含量與已知含量之間的線性關系，使用少數已知樣品校正算法去除系統(tǒng)誤差，即可達到精確定量的目的。

1、利用X光管的結構參數、管流、管壓等計算X射線管出射原級譜；
2、根據所采用的晶體衍射單色器（或濾光片）結構計算入射到樣品的X射線譜分布；
3、入射到樣品X射線與樣品所含元素作用，計算各元素被激發(fā)所產生的熒光X射線；
4、樣品出射熒光X射線進入探測器，根據探測器介質與探測器相應函數，計算終探測器輸出的能譜圖；


1、測試未知樣品，得到樣品中元素熒光強度分布，根據解譜算法和初設各元素含量初始值，計算得到X射線能譜；
2、根據計算強度與實測強度的差別，計算含量調整量，得到各元素含量的新值，再計算得到新的X射線能譜；
3、反復重復步驟2，經過若干次迭代，當各元素的特征X射線的計算強度與實測強度差別小于某一個設定值時，迭代結束；
4、迭代結束，計算譜與實測譜基本重合，得到未知樣品中元素含量的定量結果；

FP（基本參數）算法是X射線熒光光譜分析的有效方法，能夠在少標樣甚至無標樣的情況下對樣品元素成分進行定性定量分析，也可以對鍍層或鍍膜厚度進行分析。

*，X射線熒光分析大問題是元素熒光強度會受到共存元素的影響（基體吸收和增強效應），與含量通常不是線性關系?；緟捣ㄔ诠庾V的計算過程中，已經考慮到了基體效應，可以得到計算含量與已知含量之間的線性關系，使用少數已知樣品校正算法去除系統(tǒng)誤差，即可達到精確定量的目的。

• 正向計算

1、利用X光管的結構參數、管流、管壓等計算X射線管出射原級譜；
2、根據所采用的晶體衍射單色器（或濾光片）結構計算入射到樣品的X射線譜分布；
3、入射到樣品X射線與樣品所含元素作用，計算各元素被激發(fā)所產生的熒光X射線；
4、樣品出射熒光X射線進入探測器，根據探測器介質與探測器相應函數，計算終探測器輸出的能譜圖；




• 反向迭代

1、測試未知樣品，得到樣品中元素熒光強度分布，根據解譜算法和初設各元素含量初始值，計算得到X射線能譜；
2、根據計算強度與實測強度的差別，計算含量調整量，得到各元素含量的新值，再計算得到新的X射線能譜；
3、反復重復步驟2，經過若干次迭代，當各元素的特征X射線的計算強度與實測強度差別小于某一個設定值時，迭代結束；
4、迭代結束，計算譜與實測譜基本重合，得到未知樣品中元素含量的定量結果；