TRACKSCAN-DUO跟蹤式三維掃描儀系統(tǒng)具備*測(cè)量范圍和*測(cè)量精度。在高難度的三維掃描項(xiàng)目中，TRACKSCAN-DUO是較好的三維測(cè)量解決方案，掃描過(guò)程快速簡(jiǎn)單，掃描數(shù)據(jù)精度*，得益于Metronor30年測(cè)量技術(shù)沉淀，TRACKSCAN-DUO便攜式三維測(cè)量系統(tǒng)具有*的精度、的掃描結(jié)果。

TRACKSCAN-DUO跟蹤式三維掃描儀*的跟蹤技術(shù)：LED光學(xué)跟蹤技術(shù)，主動(dòng)尋靶定位，具備更強(qiáng)的抗*力和更大的工作量程。

超大的測(cè)量范圍：激光掃描時(shí)大工作距離可達(dá)10米，接觸式光筆大測(cè)量距離可達(dá)15米，輕松實(shí)現(xiàn)大物體三維
檢測(cè)。

接觸式測(cè)量兼容：配合TrackProbe 光筆，可實(shí)現(xiàn)接觸式三維測(cè)量，1μm分辨率保證關(guān)鍵點(diǎn)高精度三維數(shù)據(jù)獲取。

靈活的測(cè)量方案：支持單鏡頭、多鏡頭等多種光學(xué)跟蹤裝置方案，根據(jù)需求調(diào)整工作區(qū)域，掃描區(qū)域和掃描精度之間*平衡。