梅特勒托利多METTLER TOLEDO分析天平
- 公司名稱 上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司
- 品牌 Mettler Toledo/梅特勒托利多
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2025/6/9 16:52:20
- 訪問次數(shù) 5030
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“精”——上海市先進(jìn)企業(yè)!
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專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，專注工業(yè)測(cè)試行業(yè)十六年，志在破舊立新！填BU進(jìn)口儀器設(shè)備大多數(shù)廠家僅在國(guó)內(nèi)設(shè)銷售點(diǎn)，但技術(shù)支持薄弱甚至沒有，而代理經(jīng)銷商也只做商務(wù)，不做售前技術(shù)支持/測(cè)試方案和售后使用培訓(xùn)/維修校準(zhǔn)的空白。我們的技術(shù)型銷售均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上測(cè)試行業(yè)經(jīng)驗(yàn)，以我們先進(jìn)獨(dú)TE的經(jīng)營(yíng)理念，與客戶互惠互利合作雙贏，重在協(xié)助用戶采購(gòu)與技術(shù)工程師的工作，提供具競(jìng)爭(zhēng)力的供應(yīng)鏈管理與售前售后技術(shù)支持。
堅(jiān)融實(shí)業(yè)——致力于為祖國(guó)用戶提供儀器設(shè)備售前演示實(shí)測(cè)、測(cè)試方案應(yīng)用、技術(shù)使用培訓(xùn)及售后維修計(jì)量，全面服務(wù)的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商!
經(jīng)營(yíng)品牌及產(chǎn)品：
一、測(cè)試技術(shù)方案【我們根據(jù)用戶實(shí)際應(yīng)用，撰寫有上百篇技術(shù)測(cè)試應(yīng)用文章】：
USB3.0/MIPI/eDP/eMMC5.1/SD4.1/DP AUX/SoundWire/I2C/SPI/UART/CAN/FlexRay/MVB/WTB協(xié)議測(cè)試、半導(dǎo)體I-V測(cè)試、表面電阻/體積電阻率、靜電壓/離子消散衰減、介電常數(shù)/電導(dǎo)率/阻抗分析、GaN/SiC/IGBT特性分析、IoT低功耗、材料耐壓絕緣電阻漏電流、ESD靜電放電/EMC電磁/雷擊浪涌、材料高低溫/冷熱沖擊試驗(yàn)、大眾VW80000/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試、材料切割鑲樣磨拋金相分析......
二、環(huán)境可靠性試驗(yàn)/拉力試驗(yàn)/幾何精密測(cè)量/機(jī)器人手臂：
愛斯佩克ESPEC/賓德BINDER/廣五所GWS/偉思富奇Weiss-Technik烘箱、
高低溫試驗(yàn)箱、恒溫恒濕箱、冷熱沖擊箱、鹽霧箱。沖擊跌落機(jī)、振動(dòng)臺(tái)、英斯特朗INSTRON拉力試驗(yàn)機(jī)。?？怂箍礖EXAGON/蔡司ZEISS三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x/智能機(jī)械人手臂。
三、靜電檢測(cè)消除：
DESCO/KLEINWACHTER/ACL防靜電電阻測(cè)試儀、靜電測(cè)試儀、離子風(fēng)機(jī)、靜電吸塵器、手腕帶防靜電鞋ESD測(cè)試儀、電荷電量庫侖計(jì)、MET ONE百級(jí)潔凈室塵埃粒子計(jì)。
四、電子測(cè)量?jī)x器：
是德KEYSIGHT/泰克Tektronix/KEITHLEY/ADCMT/日置HIOKI/普源RIGOL/鼎陽SIGLENT/致茂Chroma/羅德R&S/德國(guó)EA電源、電子負(fù)載、萬用表、數(shù)據(jù)采集、皮安表、源表、靜電計(jì)、高阻表、半導(dǎo)體圖示儀、信號(hào)源、示波器、頻譜儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、功率計(jì)、電池測(cè)試儀。孕龍ZEROPLUS/皇晶Acute邏輯分析儀、穩(wěn)科Wayne Kerr/同惠TONGHUI LCR電橋、阻抗分析儀、FOTRIC紅外熱像儀、菊水KIKUSUI/華儀EEC/高美GMC-I耐壓絕緣接地漏電流測(cè)試儀。
五、生物制藥化學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器/傳感器：
賽默飛Thermo元素分析儀、博勒飛BrookField粘度計(jì)、流變儀、島津SHIMADZU色譜/質(zhì)譜/光譜儀、分光光度計(jì)、梅特勒METTLER/萬通Metrohm/賽多利斯Sartorius/雷磁/一恒水分儀、滴定儀、天平、PH計(jì)、溶解氧測(cè)定儀、電化學(xué)工作站、電導(dǎo)率儀、水質(zhì)分析儀、發(fā)酵罐、攪拌器、熱重分析儀、熱機(jī)械分析儀。愛色麗X-rite/美能達(dá)Minolta色彩分析儀、光度/亮度/照度計(jì)。COSMOS潤(rùn)滑油鐵粉濃度計(jì)。
六、金相設(shè)備耗材：
賀利氏Heraeus/標(biāo)樂Buehler切割機(jī)、研磨拋光機(jī)、鑲嵌機(jī)、顯微鏡、硬度計(jì)。
企業(yè)在銷售過程中根據(jù)給用戶實(shí)際測(cè)試使用撰寫有《芯片集成電路I2C、SPI測(cè)試》、《存儲(chǔ)器SD4.1、eMMC5.1測(cè)試》、《電腦周邊USB3.0、UART測(cè)試》、《CAN、LIN、FlexRay、SENT汽車電子總線測(cè)試》、《MVB、WTB總線軌道交通測(cè)試方案》、《電源管理系統(tǒng)BMS測(cè)試》、《音視頻多媒體MIPI/HDMI/DP AUX/SoundWire測(cè)試》、《GB/T國(guó)標(biāo)、ANSI/ASTM美標(biāo)之材料表面電阻和體積電阻率測(cè)試方案》、《防靜電地板/臺(tái)面/鞋服/橡膠絕緣材料/薄膜/包裝材料ANSI/ESD規(guī)范防靜電測(cè)試》、《電子電器/防靜電產(chǎn)品的IEC 61340、EOS/ESD S.3.1和SAE J1645標(biāo)準(zhǔn)靜電消散測(cè)試》、《基于LCR電橋/阻抗分析儀/網(wǎng)絡(luò)分析儀之介電常數(shù)、電導(dǎo)率測(cè)試評(píng)估》、《6517B與B2985A高阻表測(cè)量電阻/體積電阻率》、《新材料先進(jìn)半導(dǎo)體微電流/微電阻/低噪聲測(cè)試》、《循環(huán)伏安法CV電化學(xué)實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)工作站測(cè)量線性掃描伏安特性CV、電流-時(shí)間曲線I-t、電勢(shì)、電沉積、電阻率》、《基于源表和轉(zhuǎn)換開關(guān)的霍爾效應(yīng)與范德堡測(cè)試》、《MOSFET/CMOS/IGBT半導(dǎo)體晶體管特性曲線分析》、《電波暗室EMC電磁兼容測(cè)試》、《基于頻譜分析儀的EMI輻射預(yù)測(cè)試》、《相噪/頻響/數(shù)字模擬高速信號(hào)采集/射頻微波測(cè)試》、《音視頻綜合測(cè)試分析》、《Wi-Fi/藍(lán)牙Bluetooth/LTE/GPS測(cè)試》、《大眾VW80000/通用GMW3172/ISO7637瞬態(tài)傳導(dǎo)抗擾/ISO16750電源故障模擬標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試》、《鑲嵌機(jī)、磨拋機(jī)在電子零部件中的應(yīng)用》、《Agilent34970A，KEITHLEY2700數(shù)據(jù)采集監(jiān)測(cè)多路溫度/電壓/電阻》、《精密電流源/納伏表納米超導(dǎo)材料，繼電器開關(guān)，汽車電子連接器微小電阻測(cè)試》、《靜電電量Static Charge電荷庫侖Coulomb測(cè)試方案》、《基于KEITHLEY6514靜電計(jì)，DMM7510圖形萬用表和高速示波器之nanogeneration納米發(fā)電機(jī)實(shí)驗(yàn)》、《基于皮安表的元器件/電路板泄漏電流，二極管暗電流測(cè)試》、《基于KEITHLEY2460-EC電化學(xué)工作站/恒電位測(cè)試》、《石墨烯/碳納米/晶體管測(cè)試》、《半導(dǎo)體材料SiC，GaN等電流/電壓特性分析和功能測(cè)試》、《光電子/納米電子器件測(cè)試》、《LED照明測(cè)試》、《OLED，TFT LCD液晶顯示集成電路及材料測(cè)試》、《IoT物聯(lián)網(wǎng)設(shè)備低功耗測(cè)試》、《大功率編程電源/負(fù)載的太陽能光伏、新能源汽車、充電樁、燃料電池測(cè)試》、《機(jī)電/材料/生物醫(yī)學(xué)/汽車電子云熱像》、《ABS防抱死制動(dòng)系統(tǒng)、SRS汽車安全氣囊、TPMS胎壓監(jiān)測(cè)測(cè)試系統(tǒng)》、《薄膜/膠片介電擊穿/電氣強(qiáng)度試驗(yàn)》、《橡膠/電芯/陶瓷絕緣電阻試驗(yàn)》、《符合IEC61215、IEC61730光伏標(biāo)準(zhǔn)耐壓測(cè)試方法》、《GB/T 1695硫化橡膠擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓測(cè)定方法》、《GB/T 24344工業(yè)機(jī)械電氣設(shè)備耐壓試驗(yàn)規(guī)范》、《基于GB/T、IEC、EN、UL、VDE、JIS等各國(guó)安全規(guī)范要求》、《符合IEC、JIS、UL各類標(biāo)準(zhǔn)的醫(yī)療器械泄漏電流測(cè)試》、《燈具/開關(guān)插座/EV充電樁接地電阻測(cè)試》、《干濕球、不飽和、濕潤(rùn)飽和模式高壓加速老化試驗(yàn)》、《腐蝕性物質(zhì)高低溫環(huán)境可靠試驗(yàn)》、《汽車電子零部件/內(nèi)飾件高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)》、《樹脂、涂料、油漆、膠帶易燃物質(zhì)防爆型高溫烘箱》等上百篇技術(shù)測(cè)試應(yīng)用解決方案文章，為工業(yè)測(cè)試行業(yè)做出了我們應(yīng)有的貢獻(xiàn)。
堅(jiān)忍不拔 圓融通達(dá) 是我們秉承的理念，嚶其鳴矣 求其友聲，我們渴望跟更多志同道合的同仁共建至真至誠(chéng)共贏合作，為祖國(guó)測(cè)試行業(yè)“添磚加瓦”！
代理授權(quán)證/技術(shù)培訓(xùn)證：
用戶培訓(xùn)：
總線測(cè)試協(xié)議解碼邏輯分析儀，靜電阻/靜電場(chǎng)測(cè)試儀，源表，干燥箱烘箱，高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱，LCR阻抗分析儀，示波器，頻譜儀，耐壓絕緣電阻測(cè)試儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
|---|---|---|---|
| 儀器精度 | 百萬分之一克 | 儀器量程 | 20-100g |
| 儀器種類 | 分析天平 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工 |
專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友（上海）測(cè)量?jī)x器有限公司JETYOO INSTRUMENTS，由堅(jiān)JET和融YOO兩位技術(shù)工程師于2011年共同創(chuàng)立，志在破舊立新！*測(cè)試測(cè)量行業(yè)代理經(jīng)銷商只專業(yè)做商務(wù)銷售，不專業(yè)做售前測(cè)試方案，不專業(yè)做售后使用培訓(xùn)的空白。我們的技術(shù)銷售工程師均為本科以上學(xué)歷，且均有10年以上儀器行業(yè)工作經(jīng)驗(yàn)，專業(yè)為中國(guó)區(qū)用戶提供儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù)，為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。
梅特勒托利多METTLER TOLEDO分析天平讀數(shù)精度范圍廣 – 從0.005 mg到0.1 mg，量程范圍從54 g到520 g，涵蓋了所有分析工作流程。
Analytical Balances
什么是分析天平？
分析天平和半分析天平是一種形式的電子秤，用于以較高的精確度測(cè)量質(zhì)量。
其稱量量程范圍為54-520 g，讀數(shù)精度為0.005 mg - 0.1 mg。 分析天平的敏感性要求通過防風(fēng)罩或防風(fēng)柜對(duì)其進(jìn)行保護(hù)。
梅特勒-托利多XPR和XSR分析天平配備了SmartGrid稱量盤，可大程度減小氣流擾動(dòng)，因此縮短了穩(wěn)定時(shí)間，更快獲得稱量結(jié)果。
Analytical Balances - Applications - Pipette Calibration
分析天平用在什么位置？ 分析天平的應(yīng)用領(lǐng)域有哪些？
分析天平電子秤也稱為“實(shí)驗(yàn)室天平”，可對(duì)樣品進(jìn)行定量分析。 電子分析天平的典型應(yīng)用包括：
樣品/標(biāo)準(zhǔn)液制備，
配方，
差重稱量
密度測(cè)定
間隔稱量
移液器日常測(cè)試
如何在分析天平上稱量？
開始稱量操作之前，打開門并使用手套或鑷子將容器放置到稱量盤上。 關(guān)門，等待表示重量的值穩(wěn)定。 按去皮按鈕直至其顯示0.0000 g，清除顯示內(nèi)容。 添加樣品，直到達(dá)到所需重量。 關(guān)門，再次等待穩(wěn)定 – 記錄凈重。 如果儀器斷開電源進(jìn)行清潔，則留出重新校正時(shí)間，然后再重新使用。
梅特勒-托利多分析天平的防風(fēng)罩幾秒之內(nèi)即可拆除，并且具有可安全使用洗碗機(jī)的面板，實(shí)現(xiàn)輕松清潔。 天平的清潔建議與規(guī)定
什么是分析天平不確定度？
進(jìn)行測(cè)量時(shí)，總是存在不確定度元素。 對(duì)測(cè)量可疑度的估計(jì)（不確定度）是任何測(cè)量的關(guān)鍵。 這是通過測(cè)量天平性能、稱量物體的屬性以及周圍環(huán)境來確定的。 測(cè)量不確定度的確定是天平校準(zhǔn)不可分割的一部分。
為什么校準(zhǔn)分析天平？
分析天平校準(zhǔn)可確保稱量設(shè)備既準(zhǔn)確，又符合ISO、GLP/GMP、IFS與BRC等標(biāo)準(zhǔn)。 書面校準(zhǔn)程序?qū)y(cè)量質(zhì)量進(jìn)行了說明，應(yīng)當(dāng)在天平的整個(gè)使用期限內(nèi)定期校準(zhǔn)。
校準(zhǔn)不應(yīng)與天平校正混為一談，必須在校正/維修之后重復(fù)進(jìn)行校準(zhǔn)。 了解校準(zhǔn)的更多內(nèi)容。
如何校準(zhǔn)分析天平？
分析天平的校準(zhǔn)由授權(quán)服務(wù)技術(shù)人員使用校準(zhǔn)軟件，遵循標(biāo)準(zhǔn)程序來執(zhí)行：
通過測(cè)試測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)和校準(zhǔn)指示之間的關(guān)系，來確定儀器的性能如何。
通過合格/不合格聲明驗(yàn)證儀器是否符合特定要求。
如果不符合要求，則校正儀器，以便任何偏差都不會(huì)超過允差限值。
重新校準(zhǔn)儀器，確認(rèn)符合規(guī)定的允差要求。
在校準(zhǔn)間隔之間的時(shí)間內(nèi)，由用戶執(zhí)行的日常測(cè)試可檢測(cè)潛在問題。
梅特勒-托利多開發(fā)了一個(gè)用于保證稱量設(shè)備的正確選型、校準(zhǔn)和操作的性科學(xué)標(biāo)準(zhǔn)，稱為GWP®，即Good Weighing Practice™。
哪些允差適用于天平校準(zhǔn)？
允差用于確定天平或電子秤可否有效稱量，以達(dá)到一系列特定的工藝要求。 允差定義了發(fā)出通過/未通過聲明的標(biāo)準(zhǔn)。 允差源自各種來源，其中包括：
法定允差：
OIML R76或NIST手冊(cè)44（僅限美國(guó)）規(guī)定的法定允差用于評(píng)估合法貿(mào)易品要求。 此類允差非常大，使用實(shí)驗(yàn)室天平或者在測(cè)量范圍的低端進(jìn)行稱量時(shí)，可輕易達(dá)標(biāo)。
制造商允差：
制造商允差確保設(shè)備滿足制造商規(guī)格。 制造商允差不考慮用戶的特定過程要求，因此不適合改進(jìn)稱量過程。
過程允差：
特定過程允差由用戶定義，支持過程改進(jìn)，節(jié)省材料，避免浪費(fèi)和返工。 因此對(duì)于合法貿(mào)易應(yīng)用中的電子秤，除法定允差外，還應(yīng)使用過程允差。
法定允差可保護(hù)消費(fèi)者但不考慮特定生產(chǎn)商的要求。 優(yōu)化應(yīng)用于測(cè)量?jī)x器的過程允差會(huì)對(duì)過程盈利能力產(chǎn)生巨大影響。
什么是分析天平小稱量值？
每個(gè)分析天平小稱量值都是不同的，具體取決于稱重傳感器的性能、其位置以及環(huán)境條件。 小稱量值是儀器的準(zhǔn)確性限值，如果低于此小稱量值，相對(duì)測(cè)量不確定度（測(cè)量不確定度除以荷載，通常以%表示）則會(huì)大于所需的稱量準(zhǔn)確性，稱量結(jié)果無法信任。
為了確定天平的小稱量值，需要在工作環(huán)境中評(píng)測(cè)測(cè)量不確定度。 另外，作為小稱重范圍天平中的一個(gè)主要誤差源，還可對(duì)可重復(fù)性進(jìn)行評(píng)測(cè)以確定小稱量值，該過程使用低于天平量程5%的小砝碼執(zhí)行。
梅特勒-托利多分析天平的MinWeigh功能由經(jīng)過認(rèn)證的技術(shù)人員安裝，用于監(jiān)測(cè)天平的小樣品重量。 如果稱量低于所確定的可接受小值，天平顯示屏則會(huì)變?yōu)榧t色。
分析天平準(zhǔn)確性和精確性 – 兩者之間差別是什么，如何測(cè)試？
精確性指的是兩個(gè)或多個(gè)測(cè)量值之間的接近度。 準(zhǔn)確性指的是測(cè)量值與已知值之間的接近度，它基于讀數(shù)精度、可重復(fù)性、非線性和偏載度。 準(zhǔn)確性可使用以下方式進(jìn)行測(cè)試：
具有已知質(zhì)量的外部參比砝碼（可追溯校準(zhǔn)砝碼）
使用內(nèi)置到天平的參比質(zhì)量的自動(dòng)內(nèi)部校正
準(zhǔn)確性只能通過在使用位置對(duì)儀器進(jìn)行的測(cè)試加以確定。
查看有關(guān)Good Weighing Practice的實(shí)驗(yàn)室天平教程 – 基本知識(shí)和稱量影響課程。
靜電對(duì)分析天平有哪些影響，如何消除靜電負(fù)荷？
靜電負(fù)荷可能導(dǎo)致稱量結(jié)果不穩(wěn)定，不可重復(fù)。 靜電會(huì)對(duì)稱量盤產(chǎn)生作用力，直接影響分析天平結(jié)果。 減少這些影響的預(yù)防措施包括：
確保充足的空氣濕度(≥ 45%...50%)
盡可能使用防靜電稱量容器（是金屬）
避免摩擦容器
如果樣品足夠小，則使用帶邊緣的金屬盤來幫助屏蔽磁場(chǎng)。
要確保分析天平靜電消除，可在稱量之前使用去靜電裝置對(duì)樣品和容器進(jìn)行放電。
梅特勒托利多METTLER TOLEDO分析天平選型
電子天平 XPR205D5/AC
電子天平 XPR205DU/AC
電子天平 XPR206DR/AC
電子天平 XPR205/AC
電子天平 XPR205DR/AC
電子天平 XPR105/AC
電子天平 XPR105DR/AC
電子天平 XPR305D5/AC
電子天平 XPR204/AC
電子天平 XSR204/AC
電子天平 XSR304/AC
電子天平 XSR204DR/AC
電子天平 XSR104/AC
電子天平 XSR64/AC
Balance XSR105DU/AC
電子天平 XSR105/AC
電子天平 XSR205DU/AC
電子天平 XSR225DU/AC
電子天平MS104TS/02
電子天平MS204TS/02
電子天平MS304TS/02
電子天平ML54T/00
電子天平ML104T/00
電子天平ML204T/00
電子天平ML304T/00
電子天平ML104T/02
電子天平ML204T/02
電子天平ML304T/02
電子天平ML54T/02
電子天平MS105
Analytical Balance MS105/M
電子天平MS105DU
Analytical Balance MS105DU/M
電子天平MS205DU
電子天平MS204
Analytical Balance MS205DU/M
Analytical Balance MS204/M
Analytical Balance ME54T/02
電子天平ME104/02
電子天平ME104E/02
電子天平ME204/02
電子天平ME204E/02
電子天平ME54/02
電子天平ME54E/02
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